层片状矿物解离特征测量的方法及应用技术

本发明专利技术提供一种层片状矿物解离特征测量的方法及应用，具体涉及矿物测量技术领域。该矿物解离特征测量的方法包括以下步骤：步骤a：将层片状矿物制成光片，在所述光片中寻找目标矿物颗粒；步骤b：测量所述目标矿物颗粒的出露边长A、周长B和面积S，并计算出露边长A和周长B的比值Q；步骤c：根据比值Q划分所述目标矿物颗粒的矿物类型；步骤d：重复步骤b和步骤c过程得到所述目标矿物颗粒N颗；步骤e：通过目标矿物颗粒面积S、目标矿物颗粒数量N以及相应矿物类型颗粒数量计算各矿物类型的比例。该方法测量方便，对层片状矿物的解离特征测量结果更准确，更贴近实际生产，为指导实际生产提供更准确的依据，适合大规模推广使用。适合大规模推广使用。适合大规模推广使用。

【技术实现步骤摘要】
层片状矿物解离特征测量的方法及应用


[0001]本专利技术涉及矿物测量
，具体涉及一种层片状矿物解离特征测量的方法及应用。

技术介绍

[0002]层片状矿物由于径厚比大，在二维观察时只能露出条带状面积。但是层片状矿物实际比表面积极大，一旦出露，在浮选过程中具有极好的可浮性，因此一些连生体也可以进入产品中。因此，实际检测过程中不但需要对单体解离度进行测量，还需要对部分连生体设置相应的参量，进行解离特征的测量和判别。
[0003]现有的与矿物解离特征相关的测量方法为矿物单体解离度测量，具体包括了截距法和面积法。该矿物单体解离度测量只强调对单体部分统计，即只进行单体解离度测量，不适应于层片状矿物中连生体的测量。
[0004]目前截距法或面积法进行解离特征研究时，会出现解离特征的研究结果与矿物的实际分选结果差异较大，准确性不高，甚至误导选别参数及指标的确立。
[0005]有鉴于此，特提出本专利技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的之一在于提供一种层片状矿物解离特征测量的方法，解决了现有技术中截距法或面积法对解离特征的研究结果与层片状矿物的实际分选结果差异较大，准确性不高，甚至误导选别参数及指标的确立的技术问题。
[0007]本专利技术的目的之二在于提供一种层片状矿物解离特征测量的方法在层片状矿物测量中的应用，为指导实际生产提供更准确的依据。
[0008]为解决上述技术问题，本专利技术特采用如下技术方案：本专利技术的第一方面提供了一种层片状矿物解离特征测量的方法，包括以下步骤：步骤a：将层片状矿物制成光片，在所述光片中寻找目标矿物颗粒；步骤b：测量所述目标矿物颗粒的出露边长A、周长B和面积S，并计算出露边长A和周长B的比值Q；步骤c：根据比值Q划分所述目标矿物颗粒的矿物嵌布类型；步骤d：重复步骤b和步骤c过程得到所述目标矿物颗粒N颗；步骤e：通过目标矿物颗粒面积S、目标矿物颗粒数量N以及相应矿物类型颗粒数量计算各矿物类型的比例。
[0009]进一步地，步骤c中，所述矿物嵌布类型包括单体、连生体和包裹体。
[0010]进一步地，所述矿物包括层片状矿物。
[0011]进一步地，所述层片状矿物包括辉钼矿、晶质石墨或云母。
[0012]进一步地，当所述目标矿物颗粒为辉钼矿时，对Q≥0.25的目标矿物颗粒进行回收。
[0013]进一步地，所述目标矿物颗粒为晶质石墨时，对Q≥0.7的目标矿物颗粒进行回收。
[0014]进一步地，所述目标矿物颗粒为云母时，对Q≥0.4的目标矿物颗粒进行回收。
[0015]进一步地，步骤d中N≥500且N为整数。
[0016]进一步地，所述单体比例的计算公式为:其中，D代表单体比例；S代表目标矿物颗粒的面积；K为单体颗粒数量；N为目标矿物颗粒数量。
[0017]进一步地，所述连生体比例的计算公式为:其中，E代表该类型连生体的比例；n代表连生体的类型；S代表目标矿物颗粒的面积；L为该类型连生体颗粒数量；N为目标矿物颗粒数量。
[0018]进一步地，所述包裹体比例的计算公式为:其中，F代表包裹体的比例；S代表目标矿物颗粒的面积；M为包裹体颗粒数量；N为目标矿物颗粒数量。
[0019]本专利技术的第二方面提供了第一方面所述的矿物解离特征测量的方法在层片状矿物中的应用。
[0020]进一步地，所述层片状矿物包括辉钼矿、晶质石墨或云母。
[0021]本专利技术提供的层片状矿物解离特征测量的方法，解决了现有技术中截距法或面积法对解离特征的研究结果与层片状矿物的实际分选结果之间差异较大，准确性不高，甚至误导选别参数及指标的确立的技术问题。该方法测量方便，易于识别目标矿物颗粒，对矿物解离特征测量结果更准确，更贴近实际生产。
[0022]本专利技术提供的层片状矿物解离特征测量的方法在层片状矿物中的应用，为指导实际生产提供更准确的依据，适合大规模推广使用。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为截距法测量矿物的解离度示意图；图2为面积法测量矿物的解离度示意图；
图3为实际精矿产品中的颗粒情况；图4为现有方法和本方法测量的对比示意图；图5为不同Q值的目标矿物颗粒解离特征示意图；图6为测量步骤示意图；图7为实施例样品中辉钼矿矿物颗粒的显微图像照片；图8为实施例测量辉钼矿出露边长A、面积S以及周长B；图9为验证例中辉钼矿的浮选流程图。
具体实施方式
[0025]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配制来布置和设计。
[0026]层片状矿物是指具有层状晶体结构，在二维上呈延展状，径厚比较大的矿物。层片状矿物在当今工业生产中具有重要的价值和意义。其层状的矿物结构具有一些典型特征，例如辉钼矿具有良好的半导体性质和机械柔性，是制备半导体材料、电子储存材料的重要潜力原材料；白云母具有良好的绝缘性、耐热性、防水防潮性被广泛用于电器工业、电子工业和航天航空等尖端科技领域；晶质石墨耐高温、抗腐蚀、自润滑、导电导热在冶金、电池、光电、传感器、航天航空等领域有广泛的应用。
[0027]随着新材料领域对层片状矿物需求的日益增加，如何将层片状矿物从原矿石中分选出来，获得符合工业要求的产品成为近年来的一个热点。
[0028]有价矿物的分选是建立在矿物解离之上的，因此大量的文献、专利中都提到了要对矿物的单体解离度进行测量，以此来判定选别时回收率、品位等指标。
[0029]现有的与矿物解离特征相关的测量方法为矿物单体解离度测量，具体包括了截距法或面积法。
[0030]图1为截距法测量矿物的解离度示意图，截距法是通过光学显微镜的镜下统计实现：利用光学显微镜目镜视域内的测量尺，让颗粒逐个通过测量尺，当测量尺的截距上颗粒全部为有价矿物时则认为是单体，当测量尺的截距上的颗粒即有有价矿物也有其他矿物时，则认为是连生体。如果认为是单体则对记录颗粒在测量尺上的截距长度，作为计算单体解离度的权重。
[0031]图2为面积法测量矿物的解离度示意图，利用矿物图像识别技术寻找含有有价矿物的颗粒，然后由计算机测量颗粒中有价矿物的面积占整个颗粒的面积的比例，来判别是单体或者连生体。
[0032]目前的截距法或面积法通常只强调对单体部分进行统计，即只进行单体解离度测量。对于常见的粒状或长短径差异不大的不规则状的矿物颗粒的适用性较好。但对于层片状矿物，且会由于长短径有差异、比表面积大以及矿物的可浮性极好而无法依靠截距或者面积来作为参数进行测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种层片状矿物解离特征测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤a：将层片状矿物制成光片，在所述光片中寻找目标矿物颗粒；步骤b：测量所述目标矿物颗粒的出露边长A、周长B和面积S，并计算出露边长A和周长B的比值Q；步骤c：根据比值Q划分所述目标矿物颗粒的矿物类型；步骤d：重复步骤b和步骤c过程得到所述目标矿物颗粒N颗；步骤e：通过目标矿物颗粒面积S、目标矿物颗粒数量N以及相应矿物类型颗粒数量计算各矿物类型的比例。2.根据权利要求1所述的层片状矿物解离特征测量的方法，其特征在于，步骤c中，所述矿物的嵌布类型包括单体、连生体和包裹体。3.根据权利要求1所述的层片状矿物解离特征测量的方法，其特征在于，所述矿物包括层片状矿物。4.根据权利要求3所述的层片状矿物解离特征测量的方法，其特征在于，所述层片状矿物包括辉钼矿、晶质石墨或云母。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶小璐，肖仪武，方明山，李磊，武若晨，
申请(专利权)人：矿冶科技集团有限公司，
类型：发明
国别省市：