封接强度测试样品、测试装置以及测试方法制造方法及图纸

本申请提供一种封接强度测试样品、测试装置以及测试方法，涉及电子行业用封接技术领域。其中，封接强度测试样品包括第一试条和第二试条；所述第一试条与所述第二试条交叠设置，所述第一试条与所述第二试条呈预设夹角，所述第一试条与所述第二试条通过在交叠处夹设金属封接层连接；其中，所述第一试条为金属材料或陶瓷材料，所述第二试条为金属材料或陶瓷材料，所述封接强度测试样品用于放置在封接强度测试装置的凹槽中进行封接强度测试。本申请技术方案封接强度测试样品交叠设置并呈预设角度，可以实现封接件的拉伸强度测试和剪切强度测试的全场景应用，规避了现有的测试样品难以控制封接件在同一轴度的问题，进而可有效保证封接强度测试精度。保证封接强度测试精度。保证封接强度测试精度。

【技术实现步骤摘要】
封接强度测试样品、测试装置以及测试方法


[0001]本申请涉及电子行业用封接
，尤其涉及一种封接强度测试样品、测试装置以及测试方法。

技术介绍

[0002]电连接器件和电真空器件等封接产品在航空航天、武器装备、船舶核能、新能源及高铁等领域得到了广泛应用，封接强度是影响其作用可靠性的关键薄弱环节。
[0003]现有技术中，在进行封接强度测试时，由于测试样品为圆筒形状，在测试过程中难以控制测试样品的中心位置，可能导致偏心，使得拉伸受力不在同一个轴上，导致测试误差较高，影响封接强度测试的可靠性，现有的测试样品只能进行封接件的拉伸强度测试，无法进行封接件的剪切强度测试。
[0004]为此，针对上述的技术问题还需进一步解决。

技术实现思路

[0005]本申请实施例的目的是提供一种封接强度测试样品、测试装置以及测试方法，规避了现有的测试样品难以控制封接件在同一轴度的问题，进而可有效保证封接强度测试的精度。
[0006]为解决上述技术问题，本申请实施例提供如下技术方案：
[0007]本申请第一方面提供一种封接强度测试样品，包括：
[0008]第一试条和第二试条；所述第一试条与所述第二试条交叠设置，所述第一试条与所述第二试条呈预设夹角，所述第一试条与所述第二试条通过在交叠处夹设金属封接层连接；
[0009]其中，所述第一试条为金属材料或陶瓷材料，所述第二试条为金属材料或陶瓷材料，所述封接强度测试样品用于放置在封接强度测试装置的凹槽中进行封接强度测试。
[0010]可选地，前述的封接强度测试样品，其中所述第一试条长度方向的中间位置与所述第二试条长度方向的中间位置交叠。
[0011]可选地，前述的封接强度测试样品，其中所述第一试条的宽度、厚度和长度与所述第二试条的宽度、厚度和长度均相同，所述第一试条的宽度与厚度相同，所述第二试条的宽度与厚度相同，所述第一试条和所述第二试条的长度均是宽度的3～5倍；所述第一试条与所述第二试条之间的所述预设夹角为89.5
°
～90.5
°
。
[0012]可选地，前述的封接强度测试样品，其中所述金属封接层为矩形结构，所述金属封接层沿所述第二试条长度方向的宽度比所述第一试条宽度宽0
‑
0.5mm，或所述金属封接层沿所述第二试条长度方向的宽度比所述第一试条的宽度窄。
[0013]本申请第二方面提供一种封接强度测试装置，包括：
[0014]支撑基座，支撑基座，所述支撑基座设置有凹槽，所述凹槽包括第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽和所述第二凹槽交叉连通并呈预设夹角，所述第一凹槽用于放置第一试
条，所述第二凹槽用于放置第二试条；
[0015]其中，所述第二凹槽的深度比所述第一凹槽的深度深，所述第一凹槽与所述第二凹槽之间的预设夹角和所述第一试条与第二试条之间的预设夹角相同。
[0016]可选地，前述的封接强度测试装置，其中所述第一凹槽的宽度比所述第一试条的宽度宽0mm～0.5mm，所述第一凹槽的深度比所述第一试条的厚度深0mm～10mm；所述第二凹槽的宽度比所述第二试条的宽度宽0mm～0.5mm，所述第二凹槽贯穿所述支撑基座。
[0017]可选地，前述的封接强度测试样品，其还包括：
[0018]压头，所述压头的一端有两个间隔设置的凸起，两个所述凸起用于伸入所述第二凹槽中并搭在所述第二试条上对所述第二试条施加压力，两个所述凸起用于跨在所述第一试条的两侧。
[0019]可选地，前述的封接强度测试装置，其中所述凸起的宽度比所述第二凹槽的宽度小0～0.5mm；两个所述凸起的高度为6～12mm；两个所述凸起之间的间距比所述第一试条的宽度宽0.5mm以上。
[0020]本申请第三方面提供一种封接强度测试方法，用于上述所述封接强度测试装置对上述所述的封接强度测试样品的拉伸强度测试，包括：
[0021]S11、将封接强度测试样品平行放入所述支撑基座中；其中，所述封接强度测试样品的第一试条平行放置在所述支撑基座的第一凹槽中，所述封接强度测试样品的第二试条平行放置在所述支撑基座的第二凹槽中；
[0022]S12、将压头的凸起与第二试条两端接触；
[0023]S13、对所述压头施加压力，直至所述封接强度测试样品在所述金属封接层处发生拉伸断裂，完成所述拉伸强度测试；
[0024]其中，所述封接的拉伸强度为拉伸断裂时的载荷力与封接截面积之比。
[0025]本申请第三方面提供一种封接强度测试方法，用于上述所述的封接强度测试装置对上述所述的封接强度测试样品的剪切强度测试，包括：
[0026]S21、将封接强度测试样品竖直放入所述支撑基座中；其中，所述封接强度测试样品的第一试条平行放置在所述支撑基座的第一凹槽中，所述封接强度测试样品的第二试条竖直放置在所述第二凹槽中；
[0027]S22、对所述第二试条施加压力，直至所述封接强度测试样品在金属封接层处发生剪切断裂，完成所述剪切强度测试；
[0028]其中，封接的剪切强度为剪切断裂时的载荷力与封接截面积之比。
[0029]本申请实施例的技术方案中，相较于现有技术，本申请第一方面提供的第一试条与第二试条都为长条状结构，加工简单，规避了现有的测试样品加工复杂等问题；第一试条与第二试条之间通过金属封接层封接，第一试条与第二试条交叠呈预设夹角设置，形成交叉结构，可以实现封接件的拉伸强度测试和剪切强度测试的全场景应用，规避了现有的测试样品中难以保证封接件在同一轴度的问题，保证了封接强度测试样品的结构精度，进而可有效保证封接强度测试的精度。
[0030]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0031]通过阅读对下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本申请的限制。而且在全部附图中，用相同的附图标号表示相同的部件。在附图中：
[0032]图1示意性地示出了封接强度测试样品的第一视角的结构示意图；
[0033]图2示意性地示出了封接强度测试样品的第二视角的结构示意图；
[0034]图3示意性地示出了支撑基座的结构示意图；
[0035]图4示意性地示出了图3中A
‑
A的剖面示意图；
[0036]图5示意性地示出了压头的结构示意图；
[0037]图6示意性地示出了图5中B
‑
B的剖面示意图。
[0038]附图标号说明：
[0039]封接强度测试样品1，第一试条11，第二试条12，金属封接层13；
[0040]支撑基座21，第一凹槽211，第二凹槽212，压头22，凸起221。
具体实施方式
[0041]下面将参照本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种封接强度测试样品，其特征在于，包括：第一试条和第二试条；所述第一试条与所述第二试条交叠设置，所述第一试条与所述第二试条呈预设夹角，所述第一试条与所述第二试条通过在交叠处夹设金属封接层连接；其中，所述第一试条为金属材料或陶瓷材料，所述第二试条为金属材料或陶瓷材料，所述封接强度测试样品用于放置在封接强度测试装置的凹槽中进行封接强度测试。2.如权利要求1所述的封接强度测试样品，其特征在于，所述第一试条长度方向的中间位置与所述第二试条长度方向的中间位置交叠。3.如权利要求2所述的封接强度测试样品，其特征在于，所述第一试条的宽度、厚度和长度与所述第二试条的宽度、厚度和长度均相同，所述第一试条的宽度与厚度相同，所述第二试条的宽度与厚度相同，所述第一试条和所述第二试条的长度均是宽度的3～5倍；所述第一试条与所述第二试条之间的所述预设夹角为89.5
°
～90.5
°
。4.如权利要求1所述的封接强度测试样品，其特征在于，所述金属封接层为矩形结构，所述金属封接层沿所述第二试条长度方向的宽度比所述第一试条宽度宽0
‑
0.5mm，或所述金属封接层沿所述第二试条长度方向的宽度比所述第一试条的宽度窄。5.一种封接强度测试装置，其特征在于，包括：支撑基座，所述支撑基座设置有凹槽，所述凹槽包括第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽和所述第二凹槽交叉连通并呈预设夹角，所述第一凹槽用于放置第一试条，所述第二凹槽用于放置第二试条；其中，所述第二凹槽的深度比所述第一凹槽的深度深，所述第一凹槽与所述第二凹槽之间的预设夹角和所述第一试条与第二试条之间的预设夹角相同。6.如权利要求5所述的封接强度测试装置，其特征在于，所述第一凹槽的宽度比所述第一试条的宽度宽0mm～0.5mm，所述第一凹槽的深度比所述第一试条的厚度深0mm～10mm；所述第二凹槽的宽度比所述第二试条的宽度宽0mm...

【专利技术属性】
技术研发人员：任佳乐，旷峰华，张洪波，任瑞康，王丹，
申请(专利权)人：中国建筑材料科学研究总院有限公司，
类型：发明
国别省市：