显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备，所述显示基板检测设备的机差补使方法，包括以下步骤：S1、首先对显示基板进行分区，人工将显示基板划分为六个区域；S2、接着使用基准测量设备分别对各个分区进行测量。本发明专利技术所述的显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备，能够通过对照组以及多层平均求差的方式获取的补偿差值，可以反馈基准检测设备和待检测设备的准确性，对同批次显示基板的质量进行比对，这种检测方法减小误差的同时，还可根据待检测测量值与基准测量值的对比，得知区和区之间的检测结果，并直观的展示出来。观的展示出来。

【技术实现步骤摘要】
显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备


[0001]本专利技术涉及材料显示基板检测领域，特别涉及显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备。

技术介绍

[0002]OLED显示屏是利用有机电自发光二极管制成的显示屏，由于同时具备自发光有机电激发光二极管，不需背光源、对比度高、厚度薄、视角广、反应速度快、可用于挠曲性面板、使用温度范围广、构造及制程较简单等优异之特性，被认为是下一代的平面显示器新兴应用技术，有机发光显示技术由非常薄的有机材料涂层和玻璃基板构成，当有电荷通过时这些有机材料就会发光，OLED发光的颜色取决于有机发光层的材料，故厂商可由改变发光层的材料而得到所需之颜色，有源阵列有机发光显示屏具有内置的电子电路系统因此每个像素都由一个对应的电路独立驱动，目前可采用专业设备对像素图案进行检测，主要检测图案的位置偏差，保证显示屏的品质，由于设备在检测的时候存在误差，会影响数据的准确性，影响检测结果的准确性。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采取的技术方案为：
[0005]显示基板检测设备的机差补使方法，包括以下步骤：
[0006]S1、首先对显示基板进行分区，人工将显示基板划分为六个区域；
[0007]S2、接着使用基准测量设备分别对各个分区进行测量；
[0008]S3、使用基准测量设备获得基准测量值，并计算基准测量值的平均值，获得基准平均测量值；
[0009]S4、计算基准测量值和基准平均测量值的差值，获得基准差值，
[0010]S5、计算基准差值的平均值获得基准平均差值；
[0011]S6、使用待检测设备分别对各个分区进行测量；
[0012]S7、使用待检测设备获取待检测测量值，并计算待检测测量值的平均值，获得待检测平均测量值；
[0013]S8、计算待检测测量值和待检测平均测量值的差值，获得待检测差值；
[0014]S9、计算待检测差值的平均值获得待检测平均差值；
[0015]S10、计算基准平均差值和待检测平均差值的差值获得补偿差值。
[0016]优选的，所述S1中，显示基板上有用于检测的图案，图案由有机发光单元组成。
[0017]优选的，所述S6中显示基板上用于检测的图案和S1中相同。
[0018]显示基板检测设备的机差补使装置，包括基准测量设备和待检测设备，所述基准测量设备包括，输入单元、测量单元、计算单元和显示单元，所述待检测设备和所述基准测
量设备结构相同。
[0019]优选的，所述基准测量设备中的所述测量单元用来获取基准测量值，所述基准测量设备中的所述计算单元用来获取基准平均测量值、基准差值和基准平均差值，所述基准测量设备中的显示单元用来显示基准测量值、基准平均测量值、基准差值和基准平均差值。
[0020]优选的，所述待检测设备中的输入单元用来输入基准测量值、基准平均测量值、基准差值和基准平均差值，所述待检测设备中的所述测量单元用来获取待检测测量值，所述待检测单元中的计算单元用来计算待检测平均测量值、待检测差值、待检测平均差值和补偿差值，所述待检测设备中的所述显示单元用来显示比对结果。
[0021]显示基板检测设备的机差补使检测设备，包括基准检测设备和待检测设备。
[0022]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：
[0023]本专利技术中，通过设置的对照组以及多层平均求差的方式获取的补偿差值，可以反馈基准检测设备和待检测设备的准确性，数值越小则说明检测结果越准确，根据此原理，还对多个显示基板进行检测，对同批次显示基板的质量进行比对，这种检测方法减小误差的同时，还可根据待检测测量值与基准测量值的对比，得知区和区之间的检测结果，将检测结果直观的准确的显示出来，如图3和图4所示。
附图说明
[0024]图1为本专利技术显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备的机差补使方法流程框图；
[0025]图2为本专利技术显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备的基准检测设备流程框图；
[0026]图3为本专利技术显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备的测量值折线图；
[0027]图4为本专利技术显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备的补偿差值的折线柱状组合图。
具体实施方式
[0028]为使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本专利技术。
[0029]如图1
‑
4所示，显示基板检测设备的机差补使方法，包括以下步骤：S1、首先对显示基板进行分区，人工将显示基板划分为六个区域；S2、接着使用基准测量设备分别对各个分区进行测量；S3、使用基准测量设备获得基准测量值，并计算基准测量值的平均值，获得基准平均测量值；S4、计算基准测量值和基准平均测量值的差值，获得基准差值，S5、计算基准差值的平均值获得基准平均差值；S6、使用待检测设备分别对各个分区进行测量；S7、使用待检测设备获取待检测测量值，并计算待检测测量值的平均值，获得待检测平均测量值；S8、计算待检测测量值和待检测平均测量值的差值，获得待检测差值；S9、计算待检测差值的平均值获得待检测平均差值；S10、计算基准平均差值和待检测平均差值的差值获得补偿差值，进行算法比对，就可以根据需求获得如图3和图4所示的对比图，其中，通过多层平均求差的方式获取的补偿差值，可以反馈基准检测设备和待检测设备的准确性，数值越小则
说明检测结果越准确，根据此原理，还对多个显示基板进行检测，对同批次显示基板的质量进行比对，这种检测方法减小误差的同时，还可根据待检测测量值与基准测量值的对比，得知区和区之间的检测结果。
[0030]S1中，显示基板上有用于检测的图案，图案由有机发光单元组成；S6中显示基板上用于检测的图案和S1中相同。
[0031]显示基板检测设备的机差补使装置，包括基准测量设备和待检测设备，基准测量设备包括，输入单元、测量单元、计算单元和显示单元，待检测设备和基准测量设备结构相同；
[0032]基准测量设备中的测量单元用来获取基准测量值，基准测量设备中的计算单元用来获取基准平均测量值、基准差值和基准平均差值，基准测量设备中的显示单元用来显示基准测量值、基准平均测量值、基准差值和基准平均差值；待检测设备中的输入单元用来输入基准测量值、基准平均测量值、基准差值和基准平均差值，待检测设备中的测量单元用来获取待检测测量值，待检测单元中的计算单元用来计算待检测平均测量值、待检测差值、待检测平均差值和补偿差值，待检测设备中的显示单元用来显示比对结果。
[0033]显示基板检测设备的机差补使检测设备，包括基准检测设备和待检测设备。
[0034]需要说明的是，本专利技术为显示基板检测设备的机差补使方法及装置、检测设备，首本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.显示基板检测设备的机差补使方法，包括以下步骤：S1、首先对显示基板进行分区，人工将显示基板划分为六个区域；S2、接着使用基准测量设备分别对各个分区进行测量；S3、使用基准测量设备获得基准测量值，并计算基准测量值的平均值，获得基准平均测量值；S4、计算基准测量值和基准平均测量值的差值，获得基准差值，S5、计算基准差值的平均值获得基准平均差值；S6、使用待检测设备分别对各个分区进行测量；S7、使用待检测设备获取待检测测量值，并计算待检测测量值的平均值，获得待检测平均测量值；S8、计算待检测测量值和待检测平均测量值的差值，获得待检测差值；S9、计算待检测差值的平均值获得待检测平均差值；S10、计算基准平均差值和待检测平均差值的差值获得补偿差值。2.根据权利要求1所述的显示基板检测设备的机差补使方法，其特征在于：所述S1中，显示基板上有用于检测的图案，图案由有机发光单元组成。3.根据权利要求1所述的显示基板检测设备的机差补使方法，其特征在于：所述S6中显示基板上用于检测的图案和S1中...

【专利技术属性】
技术研发人员：王蕾，王建翎，
申请(专利权)人：深圳市富瑞精密制品有限公司，
类型：发明
国别省市：