一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台制造技术

本实用新型专利技术提出了一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，涉及超辐射发光二极管COS剪切力测试装置的技术领域，包括底板、限位夹具、三轴位移台、推拉力计和推针，所述限位夹具和三轴位移台安装在底板上，在限位夹具上设有用于将芯片固定在限位夹具上的定位机构，所述推拉力计安装在三轴位移台上，三轴位移台用于对推拉力计在水平和竖直方向上进行移动，所述推针与推拉力计的测头连接，推针用于对固定在限位夹具上的芯片进行管芯剥离。解决了现有技术中的剪切力测试仪体积较大，操作和移动不便，结构复杂，造价成本高的问题。造价成本高的问题。造价成本高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台


[0001]本技术涉及超辐射发光二极管测试装置的
，更具体地说是涉及超辐射发光二极管COS剪切力测试装置的


技术介绍

[0002]超辐射发光二极管（SLD）是一种半导体光电器件，具有输出功率高，光谱宽度宽等特点，适合用于光学相干层析（OCT）成像系统和光纤陀螺仪（FOG）等，在工业、医疗和军工上得到广泛应用。
[0003]在超辐射发光二极管（SLD）的生产制作中，芯片即COS（chip on submount）的焊接质量是决定超辐射发光二极管（SLD）使用寿命的重要环节。芯片的贴装目前主流采用共晶焊方式，判断共晶焊是否合格主要通过剪切力测试仪对芯片进行测试，查看芯片共晶焊接面剪切力度是否合格，观察芯片上的管芯剥离后管芯和基座焊接面上的焊锡是否均匀，是否存在空洞。目前主流的剪切力测试仪体积较大，操作和移动不便，结构复杂，造价成本高，因此，目前企业一般采用多台共晶设备公用一台剪切力测试仪的方式进行测试，在调试共晶设备时需要反复测试芯片剪切力，这样就会造成设备紧张，同时待测芯片需要移动较远距离进行测试，从而增加了试样损坏的风险。

技术实现思路

[0004]本技术提出一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，解决了现有技术中的剪切力测试仪体积较大，操作和移动不便，结构复杂，造价成本高的问题。
[0005]本技术的技术方案是这样实现的：
[0006]一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，包括底板、限位夹具、三轴位移台、推拉力计和推针，所述限位夹具和三轴位移台安装在底板上，在限位夹具上设有用于将芯片固定在限位夹具上的定位机构，所述推拉力计安装在三轴位移台上，三轴位移台用于对推拉力计在水平和竖直方向上进行移动，所述推针与推拉力计的测头连接，推针用于对固定在限位夹具上的芯片进行管芯剥离。
[0007]进一步地，所述定位机构包括芯片模座，在所述限位夹具上设有定位凹槽，在限位夹具上设有与定位凹槽连通的气道，所述芯片模座卡装在定位凹槽内，在芯片模座上设有芯片槽，芯片槽与气道连通。
[0008]进一步地，所述定位机构还包括限位螺栓，在所述限位夹具上设有限位螺孔，所述限位螺栓与限位夹具的限位螺孔螺纹连接，限位螺栓的头部与芯片模座抵接。
[0009]进一步地，还包括支座、座板和锁定螺栓，在所述底板上设有阵列排布的锁定螺孔，在支座和座板上分别设有U型槽，所述锁定螺栓穿设在U型槽内，并与底板上的锁定螺孔螺纹连接，锁定螺栓的头部与支座和座板抵接，所述限位夹具固定安装在支座上，三轴位移台固定安装在座板上。
[0010]进一步地，还包括推针座和锁紧螺栓，所述推针座固定安装在推拉力计的测头上，
在推针座上设有推针孔以及与推针孔相贯通的锁紧螺孔，推针穿设在推针孔内，所述锁紧螺栓与推针座的锁紧螺孔螺纹连接，并与推针抵接。
[0011]进一步地，所述推拉力计的测头与固定在限位夹具上的芯片的上表面平行，所述推针孔与水平面之间的夹角呈45
°
，在推针的末端设有下切削面和前切削面，下切削面与固定在限位夹具上的芯片的上表面平行，前切削面与固定在限位夹具上的芯片的上表面垂直。
[0012]本技术采用上述技术解决方案所能达到的有益效果是：
[0013]1、通过定位机构将芯片固定在限位夹具上，并通过三轴位移台调节推拉力计的空间位置，将推针的末端置于芯片的焊接面上，再微调三轴位移台的水平轴，通过推针对芯片上的管芯进行剥离，通过推拉力计记录管芯剥离过程中的最大剪切力，观察剥离后芯片的基座表面和管芯底面的焊锡情况，从而在完成芯片的测试功能的同时，实现了本超辐射发光二极管COS剪切力测试台结构的小型化、精简化，解决了现有技术中的剪切力测试仪体积较大，操作和移动不便，结构复杂，造价成本高的问题，有效提高了生产效率，降低了生产成本，便于将芯片直接移动至本测试台进行测试，降低了试样转移过程中的风险；
[0014]2、在将芯片固定在限位夹具上时，将气道与真空泵连通，通过真空泵产生负压，对芯片槽内的芯片进行吸附固定，操作十分方便，有效提高了测试效率，减轻了工作人员的劳动强度；
[0015]3、将芯片模座卡装在芯片模座的定位凹槽内，在芯片模座上设有芯片槽，当需要对不同规格的芯片进行测试时，只需更换不同的芯片模座即可，从而很好地适应了不同规格的芯片的测试需要。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图：
[0017]图1为本技术的立体图；
[0018]图2为本技术的主视图；
[0019]图3为图1中A处的局部放大示意图；
[0020]图4为图2中B处的局部放大示意图。
[0021]附图中，各标号所对应的部件如下：
[0022]1‑
底板，2
‑
支座， 4
‑
限位夹具，5
‑
三轴位移台，6
‑
座板，7
‑
推拉力计， 9
‑
推针，10
‑
推针座，11
‑
锁定螺栓，12
‑
测头，13
‑
推针孔，14
‑
锁定螺孔， 16
‑
定位凹槽，17
‑
气道，18
‑
芯片模座，19
‑
芯片槽， 21
‑
限位螺栓，22
‑
锁定螺孔，23
‑
U型槽，24
‑
下切削面，25
‑
前切削面。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实
施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]参照图1至图4，一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，包括底板1、限位夹具4、三轴位移台5、推拉力计7、推针9、支座2、座板6、锁定螺栓11、推针座10和锁紧螺栓，所述限位夹具4和三轴位移台5安装在底板1上，三轴位移台5和限位夹具4与底板1的具体连接关系如下：在所述底板1上设有阵列排布的锁定螺孔22，在支座2和座板6上分别设有U型槽23，所述锁定螺栓11穿设在U型槽23内，并与底板1上的锁定螺孔22螺纹连接，锁定螺栓11的头部与支座2和座板6抵接，所述限位夹具4固定安装在支座2上，三轴位移台5固定安装在座板6上。
[0025]在限位夹具4上设有用于将本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，其特征在于，包括底板（1）、限位夹具（4）、三轴位移台（5）、推拉力计（7）和推针（9），所述限位夹具（4）和三轴位移台（5）安装在底板（1）上，在限位夹具（4）上设有用于将芯片固定在限位夹具（4）上的定位机构，所述推拉力计（7）安装在三轴位移台（5）上，三轴位移台（5）用于对推拉力计（7）在水平和竖直方向上进行移动，所述推针（9）与推拉力计（7）的测头（12）连接，推针（9）用于对固定在限位夹具（4）上的芯片进行管芯剥离。2.如权利要求1所述的一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，其特征在于，所述定位机构包括芯片模座（18），在所述限位夹具（4）上设有定位凹槽（16），在限位夹具（4）上设有与定位凹槽（16）连通的气道（17），所述芯片模座（18）卡装在定位凹槽（16）内，在芯片模座（18）上设有芯片槽（19），芯片槽（19）与气道（17）连通。3.如权利要求2所述的一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，其特征在于，所述定位机构还包括限位螺栓（21），在所述限位夹具（4）上设有限位螺孔，所述限位螺栓（21）与限位夹具（4）的限位螺孔螺纹连接，限位螺栓（21）的头部与芯片模座（18）抵接。4.如权利要求1所述的一种超辐射发光二极管COS剪切力测试台，其特征在于，还包括支座...

【专利技术属性】
技术研发人员：何威威，张润，吕小威，李同宁，游毓麒，
申请(专利权)人：武汉英飞华科技有限公司，
类型：新型
国别省市：