一种纳米级粒度检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种纳米级粒度检测装置，包括底座、激光源、颗粒分散机构和光电探测机构。所述颗粒分散机构包括上盖、下盖和样品窗，所述光电探测机构包括第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器。它有效解决了现有技术湿法激光粒度仪的下限动态范围小、检测精度较差和操作复杂的问题，具有检测范围大、操作方便，对亚微米级、纳米级颗粒的检测精度高的优点，提高了粒度检测的效率，具有很高的实用价值。值。值。

【技术实现步骤摘要】
一种纳米级粒度检测装置


[0001]本专利技术涉及粒度检测
，特别是涉及一种纳米级粒度检测装置。

技术介绍

[0002]激光粒度仪在粒度测试领域发挥着日益重要的作用，其工作原理基于MIE散射理论。现有的湿法激光粒度仪，其正入射光路由于受到全反射现象的限制，48.8
°
~131.2
°
范围内的散射光不能被探测器接收，而这一范围包含了亚微米和纳米颗粒的大量信息，造成湿法激光粒度仪的下限动态范围小，而且无法对亚微米级和纳米级的粒度进行精准的测量。

技术实现思路

[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于解决现有技术中湿法激光粒度仪的下限动态范围小、对亚微米和纳米级粒度的检测精度较差和操作复杂的问题，提供一种纳米级粒度检测装置，具有动态检测下限大、操作方便、对亚微米级和纳米级颗粒的检测精度高的优点，解决了48.8
°
~131.2
°
范围内的散射光不能被探测器接收的检测盲区问题。
[0004]本专利技术为实现目的采用的具体技术方案为：一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纳米级粒度检测装置，其特征在于，包括：底座，所述底座上固定有支架；激光源，所述激光源固定在所述支架的一侧；颗粒分散机构，所述颗粒分散机构包括上盖、下盖和固定在所述上盖和所述下盖之间的样品窗，所述下盖固定在所述底座上，所述上盖设有进水口，所述下盖设有出水口，所述激光源的发射光束与所述样品窗入光面的夹角为锐角；光电探测机构，所述光电探测机构包括第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，所述第一探测器通过安装架固定在所述样品窗入光面的正前方，所述第二探测器、所述第三探测器和所述第四探测器按照和所述激光源的距离由远及近、依次安装在所述支架远离所述激光源的另一侧上，位于所述激光源的发射光束与所述样品窗入光面的锐角夹角区域内。2.根据权利要求1所述的纳米级粒度检测装置，其特征在于，所述激光源的发射光束与所述样品窗入光面的锐角夹角小于50.38
°
。3.根据权利要求2所述的纳米级粒度检测装置，其特征在于，所述激光源的发射光束与所述样品窗入光面的锐角夹角为35
°
。4.根据权利要求1所述的纳米级粒度检测装置，其特征在于，所述第一探测器、所述第二探测器、所述第三探测器和所述第四探测器均为条形硅管探测器，长12mm，宽5mm。5.根据权利要求4所述的纳米级粒度检测装置，其特征在于，所述第一探测器与所述激光源的光束发射方向形成一个空间角，过所述第一探测器的中心沿着其横向方向作一条直线，该直线与所述第一探测器内外边界各有一个交点，连接所述第一探测器的内交点和所述样品窗中心的直线与所述激光源的光束发射方向中心光线的夹角为第一内角，其范围为116.91
°‑
135.09
°
，连接所述第一探测器的外交点和所述样品窗中心的直线与所述激光源的光束发射方向中心光线的夹角为第一外角，其范围为120.39
°‑
142.33
°
，连接所述第一探测器的中心和所述样品窗中心的直线与所述激光源的光束发射方向中心光线的夹角为第一中心角，其范围为118.71
°‑
138.73
°
。6.根据权利要求4所述的纳米级粒度检测装置，其特征在于，过所述第二探测器的中心沿着其横向方向作一条直线，该直线与所述第二探测器内外边界各有一个交点，连接所述第二探测器的内交点和所述样品窗中心的直线与所述激光源的光束发射方向中心光线的夹角为第二内角，其范围为98.46
°‑
148.84
°
，连接所述第二探测器的外交点和所述样...

【专利技术属性】
技术研发人员：王斐斐，任飞，
申请(专利权)人：济南微纳颗粒仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：