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本发明提供一种纳米级粒度检测装置，包括底座、激光源、颗粒分散机构和光电探测机构。所述颗粒分散机构包括上盖、下盖和样品窗，所述光电探测机构包括第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器。它有效解决了现有技术湿法激光粒度仪的下限动态范围小、...
该专利属于济南微纳颗粒仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过济南微纳颗粒仪器股份有限公司授权不得商用。

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