本发明专利技术公开了一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置及方法，包括固定座，在固定座上转动连接有芯棒，在芯棒上活动连接多个百分表；检测时，在待测工件的轴孔内插入与之配合良好的芯棒，芯棒与孔在保证芯棒能自由转动的同时不能有可测间隙，芯棒上相接的百分表表头接触孔端基面，匀速旋转芯棒，即可进行孔端基面平行度及垂直度检测。本申请结构简单，成本小，容易实现，检测时，芯棒与孔始终处于贴合状态，会自动过滤孔面加工制造的点缺陷，避免因“三坐标”探头接触面小而引发的误判，适用性强、精确度高、结果可靠。结果可靠。结果可靠。
【技术实现步骤摘要】
一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置及方法
[0001]本专利技术涉及一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置及方法，属于机械零部件检验、检测
技术介绍
[0002]目前，在常规的直通多孔、多层端面要求高且孔与零件安装基准带角度的检测中，基本都采用“三座标”测量或利用“偏摆仪”进行检测。其优点是检测结果精确；但是也存在以下缺点：（1）“三座标”投入资金极大、操作人员要求专业培训、使用环境要求严格、必须保证应有的配套保障设施、维修保养费用高、对常规微小企业费效比小；（2）“三座标”属高精密检测仪器，外委检验检测费用高，基本只用于对零件进行抽检且检测周期长，不能及时对所有零部件进行全检且受检测单位工作安排影响，全面性、时效性不够。
[0003]（3）“三座标”受探头限制不能对小孔、深孔进行内部检测；“偏摆仪”受尺寸、形状、大小限制，适用性有限。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本专利技术的目的是提供一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置及方法，可以克服现有技术的不足。
[0005]本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，包括固定座，在固定座上转动连接有芯棒，在芯棒上活动连接多个百分表。
[0006]前述固定座上表面设有弧形凹槽，在弧形凹槽内设有钢珠，在芯棒一端轴线处设有与钢珠适配的中心孔，使芯棒通过钢珠与固定座转动连接。
[0007]前述百分表通过磁力表架磁吸固连在芯棒上。
[0008]前述磁力表架包括磁力块，在磁力块上通过第一微调机构连接有横杆，百分表与横杆垂直设置且通过第二微调机构与横杆滑动连接。
[0009]前述磁力块的磁吸面设有与芯棒适配的弧形缺口，使磁力块通过弧形缺口与芯棒面接触。
[0010]前述芯棒表面的粗糙度不低于Ra1.6；硬度不低于40HRC；前述固定座上的弧形凹槽内表面及钢珠外表面的粗糙度不低于Ra1.6；且二者的硬度不低于45HRC。
[0011]一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的方法，其与待测工件的轴孔为基准，使表头接触在孔端基面上的百分表绕基准轴孔转动，进行孔端面平行度及垂直度检测。
[0012]在前述待测工件的轴孔内插入与之配合良好的芯棒，芯棒与孔在保证芯棒能自由转动的同时不能有可测间隙，芯棒上相接的百分表表头接触孔端基面，芯棒匀速旋转一周，
百分表直接读数即得出孔与端面的垂直度；按上述操作，通过百分表检测待测工件上下端面或多个端面，并分别读取数值，读数差即得出两端面或多端面的平行度。
[0013]测量时，使待测工件倾斜放置，芯棒穿入待测工件的轴孔，且底端中心孔自然安放在钢珠上，利用中心孔的孔倾角束缚钢珠，实现芯棒速旋转且不会有上下窜动现象，实现精确检测。
[0014]测量时，按端面从里到外进行多次测量，以最大值为测量值。
[0015]与现有技术比较，本专利技术公开的一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置及方法，其包括固定座，在固定座上转动连接有芯棒，在芯棒上活动连接多个百分表；检测时，在待测工件的轴孔内插入与之配合良好的芯棒，芯棒与孔在保证芯棒能自由转动的同时不能有可测间隙，芯棒上相接的百分表表头接触孔端基面，芯棒匀速旋转一周，百分表直接读数即得出孔与端面的垂直度；按上述操作，通过百分表检测待测工件上下端面或多个端面，并分别读取数值，读数差即得出两端面或多端面的平行度。本申请以待测工件的精加工孔为基准，使基准孔与芯棒始终处于良好配合状态，孔端基面相对基准孔呈90
°
加工，检测情况会在端面随芯棒旋转时体现，适用性强、精确度高、结果可靠。
[0016]本专利技术的有益效果是：（1）本申请结构简单，成本小，容易实现；（2）检测时，芯棒与孔始终处于贴合状态，会自动过滤孔面加工制造的点缺陷，避免因“三坐标”探头接触面小而引发的误判；（3）检测便捷性高，并且调整简便，对操作人员要求较低，适用性广；（4）能进行孔端面零件检测的全覆盖，不留死角，检测精度高，降低使用风险，增强过程数据控制。
[0017]本专利技术的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本专利技术的实践中得到教导。本专利技术的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。
附图说明
[0018]为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步的详细描述，其中：图1为本专利技术的结构示意图。
[0019]图2为图1中A部分局部放大结构示意图。
[0020]图3为图1中B部分局部放大结构示意图。
[0021]图4为磁力表架上第一微调机构的结构示意图。
[0022]图5为磁力表架上第二微调机构的结构示意图。
具体实施方式
[0023]以下将参照附图，对本专利技术的优选实施例进行详细的描述。应当理解，优选实施例仅为了说明本专利技术，而不是为了限制本专利技术的保护范围。
[0024]如图1
‑
图5所示，
本专利技术公开的一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，包括固定座1，在固定座1上转动连接有芯棒2，在芯棒2上活动连接多个百分表3。
[0025]所述固定座1上表面设有弧形凹槽101，在弧形凹槽101内设有钢珠4，在芯棒2一端轴线处设有与钢珠4适配的中心孔201，使芯棒2通过钢珠4与固定座1转动连接。
[0026]所述百分表3通过磁力表架5磁吸固连在芯棒2上。
[0027]所述磁力表架5包括磁力块501，在磁力块501上通过第一微调机构502连接有横杆503，百分表3与横杆503垂直设置且通过第二微调机构504与横杆503滑动连接。
[0028]所述第一微调机构502为螺杆机构。具体地，螺杆机构包括开设在磁力块上的竖向滑槽，滑槽内设有螺杆，在滑槽内设有滑块，且滑块与螺杆螺接，所述横杆与滑块固连，转动螺杆，使滑块沿滑槽移动，进而带动横杆503运动实现竖向上的微调。
[0029]所述第二微调机构504为螺钉紧定机构。所述螺钉紧定机构包括卡接在横杆503上的卡套，卡套底部与百分表3固连，顶部开设有螺孔，螺孔内设有顶端抵接在横杆503上的紧定螺钉。
[0030]所述磁力块501的磁吸面设有与芯棒2适配的弧形缺口5011，使磁力块501通过弧形缺口5011与芯棒2面接触，磁吸牢靠性好。
[0031]根据待测工件6的测量面，所述百分表3为两块或两块以上设置。
[0032]根据待测工件6的轴孔，所述芯棒2为多种规格设置。
[0033]所述芯棒2表面的粗糙度不低于Ra1.6；硬度不低于40HRC。
[0034]所述固定座的弧形凹槽101内表面及钢珠4外表面的粗糙度不低于Ra1.6，且二者的硬度不低于45HRC。
[0035]基于上述装置的精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的方法，其与待测本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，其特征在于：包括固定座（1），在固定座（1）上转动连接有芯棒（2），在芯棒（2）上活动连接多个百分表（3）。2.根据权利要求1所述的精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，其特征在于：所述固定座（1）上表面设有弧形凹槽（101），在弧形凹槽（101）内设有钢珠（4），在芯棒（2）一端轴线处设有与钢珠（4）适配的中心孔（201），使芯棒（2）通过钢珠（4）与固定座（1）转动连接。3.根据权利要求2所述的精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，其特征在于：所述百分表（3）通过磁力表架（5）磁吸固连在芯棒（2）上。4.根据权利要求3所述的精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，其特征在于：所述磁力表架（5）包括磁力块（501），在磁力块（501）上通过第一微调机构（502）连接有横杆（503），百分表（3）与横杆（503）垂直设置且通过第二微调机构（504）与横杆（503）滑动连接。5.根据权利要求4所述的精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，其特征在于：所述磁力块（501）的磁吸面设有与芯棒（2）适配的弧形缺口（5011），使磁力块（501）通过弧形缺口（5011）与芯棒（2）面接触。6.根据权利要求2
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5任一所述的精确检测多组孔端基面平行度及垂直度的装置，其特征在于：所述芯棒（2）表面的粗糙度不低于R...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵琴，叶剑，吴远，孙涛，龙艳，李勇，
申请(专利权)人：贵州成智重工科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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