一种FPC成型摆盘成测一体工艺制造技术

技术编号:31830131 阅读:22 留言:0更新日期:2022-01-12 13:06
本发明专利技术适用于FPC生产技术领域,提供了一种FPC成型摆盘成测一体工艺,包括:获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产品放置到传送带上;获取传送带上的FPC产品图像并对FPC产品进行一次良品检测;通过第一机械手拾取第一良品至第一料盘,第一不良品的FPC至不良品盒中;自动成测设备拾取装满第一良品的第一料盘并送至测试治具中,并对第一料盘上的第一良品进行二次良品检测,并拾取第二良品至第二料盘中,拾取第二不良品至第三料盘中;本发明专利技术通过获取FPC产品的图像识别FPC产品的优良并分拣摆盘,同时将分拣后的FPC产品自动送入测试治具中再次测FPC产品的优良,然后对测量后的FPC产品自动分拣和自动摆盘,提高了FPC生产的效率。提高了FPC生产的效率。提高了FPC生产的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种FPC成型摆盘成测一体工艺


[0001]本专利技术属于FPC生产
,尤其涉及一种FPC成型摆盘成测一体工艺。

技术介绍

[0002]柔性电路板(Flexible Printed Circuit,FPC),又称软性电路板、挠性电路板, 其以配线密度高、质量轻、厚度薄、可自由弯曲折叠等优良特性而备受青睐。
[0003]但国内有关FPC的质量检测还主要依靠人工目测,在FPC产品下线时通过 人工筛选良品和不良品,然后将筛选后的良品放置到测试治具中进行成品测试, 这种FPC的生产方式存在着成本高、效率低的问题。而随着电子产业飞速发展, 电路板设计越来越趋于高精度、高密度化,传统的人工检测方法已无法满足生 产需求。因此,本申请提出了一种FPC成型摆盘成测一体工艺。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种FPC成型摆盘成测一体工艺,旨在解决目前FPC产品生产 效率低的问题。
[0005]本专利技术是这样实现的,一种FPC成型摆盘成测一体工艺,包括:
[0006]步骤S100、获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产品放置到传送带 上;
[0007]步骤S200、获取传送带上的FPC产品图像并对FPC产品进行一次良品检 测;
[0008]步骤S300、通过第一机械手拾取第一良品至第一料盘,第一不良品的FPC 至不良品盒中,其中,第一良品为步骤S200中判断为良品的FPC产品,第一 不良品为步骤S200中判断为不良品的FPC产品;
[0009]步骤S400、自动成测设备拾取装满第一良品的第一料盘并送至测试治具 中,并对第一料盘上的第一良品进行二次良品检测,并拾取第二良品至第二料 盘中,拾取第二不良品至第三料盘中,其中,第二良品为测试治具判断为良品 的第一良品,第二不良品为测试治具判断为不良品的第一良品。
[0010]优选地,步骤S100中,所述获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产 品放置到传送带上具体为:
[0011]步骤S110、将待成型的半成品FPC放置到冲床上,启动冲床;
[0012]步骤S120、冲床将半成品FPC冲压成单个FPC成品,收集单个FPC成品 将将其放置到传送带上。
[0013]优选地,步骤S200中,所述第一良品为FPC产品上贴装器件区贴装有相 应器件;所述第一不良品为FPC产品上贴装器件区未贴装器件。
[0014]优选地,步骤S200中,所述对FPC产品进行一次良品检测的步骤为:
[0015]步骤S211、获取FPC产品的图像;
[0016]步骤S212、将获取的FPC产品的图像与预设的第一良品的图像进行相似 度对比,其中,相似度超过阈值的FPC产品图像所对应的FPC产品为第一良品, 相似度低于阈值的
FPC产品图像所对应的FPC产品为第一不良品。
[0017]优选地,步骤200中,在获取传送带上FPC产品的图像时还获取FPC产品 在传送带上的位置信息并将位置信息发送至第一机械手。
[0018]优选地,所述获取FPC产品在传送带上的位置具体步骤包括:
[0019]步骤S221、对获取的FPC产品的图像画棋盘格;
[0020]步骤S222、识别FPC产品,并判断FPC产品在棋盘格的位置以识别FPC 产品的坐标信息并将其发送至第一机械手。
[0021]优选地,步骤S400中,还包括以下步骤:
[0022]S411、将空料盘放置到自动成测设备的空盘存放处;
[0023]S412、自动成测设备将空料盘分别输送至第二料盘存放位和第三料盘存放 位并叠加在满盘的第二料盘和第三料盘上以放置第二良品和第二不良品。
[0024]优选地,步骤S400中,还包括:
[0025]步骤S413、所述自动成测设备对检测出的第二不良品打标以区分第二不良 品。
[0026]优选地,步骤S400中,还包括以下步骤:
[0027]步骤S420、获取第二料盘存放位和第三料盘存放位的高度;
[0028]当第二料盘存放位或第三料盘存放位的料盘高度没有超过阈值时,继续叠 放第二料盘或第三料盘,当第二料盘存放位或第三料盘存放位的料盘高度超过 阈值时,将超过阈值的料盘运送至下料工位。
[0029]与现有技术相比,本申请实施例主要有以下有益效果:
[0030]本专利技术通过获取FPC产品的图像识别FPC产品的优良并通过第一机械手分 拣摆盘,同时通过自动成测设备将分拣后的FPC产品自动送入测试治具中再次 测FPC产品的优良,然后通过自动成测设备对测量后的FPC产品自动分拣和自 动摆盘,提高了FPC生产的效率,减少了人工投入。
附图说明
[0031]图1是本专利技术提供的一种FPC成型摆盘成测一体工艺的流程示意图;
[0032]图2是本专利技术提供的一种FPC成型摆盘成测一体工艺其中一个实施例的流 程示意图;
[0033]图3是本专利技术提供的一种FPC成型摆盘成测一体工艺其中一个实施例的流 程示意图
[0034]图4是本专利技术提供的一种FPC成型摆盘成测一体工艺其中一个实施例的 流程示意图;图5是本专利技术提供的一种FPC成型摆盘成测一体工艺其中一个实施例的 子流程示意图。
[0035]具体实施方式
[0036]除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请技术领 域的技术人员通常理解的含义相同;本文中在申请的说明书中所使用的术语只 是为了描述具
体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请;本申请的说明书和 权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形,意 图在于覆盖不排他的包含。本申请的说明书和权利要求书或上述附图中的术语
ꢀ“
第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。
[0037]在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性 可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并 不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施 例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其 它实施例相结合。
[0038]本专利技术实施例提供了一种FPC成型摆盘成测一体工艺,如图1所示,包括 以下步骤:
[0039]步骤S100、获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产品放置到传送带 上;
[0040]步骤S200、获取传送带上的FPC产品图像并对FPC产品进行一次良品检 测;
[0041]步骤S300、通过第一机械手拾取第一良品至第一料盘,第一不良品的FPC 至不良品盒中,其中,第一良品为步骤S200中判断为良品的FPC产品,第一 不良品为步骤S200中判断为不良品的FPC产品;
[0042]步骤S400、自动成测设备拾取装满第一良品的第一料盘并送至测试治具 中,并对第一料盘上的第一良品进行二次良品检测,并拾取第二良品至第二料本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种FPC成型摆盘成测一体工艺,其特征在于,包括:步骤S100、获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产品放置到传送带上;步骤S200、获取传送带上的FPC产品图像并对FPC产品进行一次良品检测;步骤S300、通过第一机械手拾取第一良品至第一料盘,第一不良品的FPC至不良品盒中,其中,第一良品为步骤S200中判断为良品的FPC产品,第一不良品为步骤S200中判断为不良品的FPC产品;步骤S400、自动成测设备拾取装满第一良品的第一料盘并送至测试治具中,并对第一料盘上的第一良品进行二次良品检测,并拾取第二良品至第二料盘中,拾取第二不良品至第三料盘中,其中,第二良品为测试治具判断为良品的第一良品,第二不良品为测试治具判断为不良品的第一良品。2.如权利要求1所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺,其特征在于,步骤S100中,所述获取成型后的FPC产品并将成型后的FPC产品放置到传送带上具体为:步骤S110、将待成型的半成品FPC放置到冲床上,启动冲床;步骤S120、冲床将半成品FPC冲压成单个FPC成品,收集单个FPC成品将将其放置到传送带上。3.如权利要求1所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺,其特征在于,步骤S200中,所述第一良品为FPC产品上贴装器件区贴装有相应器件;所述第一不良品为FPC产品上贴装器件区未贴装器件。4.如权利要求3所述的一种FPC成型摆盘成测一体工艺,其特征在于,步骤S200中,所述对FPC产品进行一次良品检测的步骤为:步骤S211、获取FPC产品的图像;步骤S212、将获取的FPC产品的图像与预设的第一良品的图像进行相似度对比...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨林陈鹏邹飞李晓华
申请(专利权)人:上达电子黄石股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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