一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备制造方法及图纸

技术编号:31767999 阅读:34 留言:0更新日期:2022-01-05 16:53
本发明专利技术提供了一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备,其中,该方法包括:获取多个学生的前测成绩和后测成绩;利用多个学生中各学生的前测成绩和后测成绩,对各学生的学业增值量进行计算;其中,学业增值量,用于对学生的学业的进步情况进行评价;对各学生的学业增值量进行修正。通过本发明专利技术实施例提供的学生学业增值评价方法、装置和电子设备,采用简单直观的学生的前测成绩和后测成绩得到的学业增值量,确定学生的学业的进步情况,整个评价过程容易使用且实用性强。使用且实用性强。使用且实用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备


[0001]本专利技术涉及计算机
,具体而言,涉及一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备。

技术介绍

[0002]目前,在教育测评领域,一般会进行相隔一段时间的前后两次考试的成绩(即前测成绩和后测成绩),然后以前后测结果为基础来衡量学生的学业进步情况,这就是增值评价。
[0003]通常来说,考试是有满分值的,并且存在得分接近满分的高分学生。高分学生相对于其他学生而言,其进步空间是更小的,例如前测和后测的满分值均为100分时,前测中考了90分的学生,后测最多可以拿到100分,从卷面成绩来看,其进步空间为10分,而前测中考了80分的学生,后测也是最多可以拿到100分,从卷面成绩来看,其进步空间则为20分。由于进步空间的局限,增值评价结果对高分学生可能是不公平的。这便是天花板效应的体现。
[0004]为了缓解天花板效应,可以构建垂直量表,把每次考试得到的学生能力值放在一个统一的量尺上进行比较;但这样的方法在现阶段比较难实现。

技术实现思路

[0005]为解决上述问题,本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种学生学业增值评价方法,其特征在于,包括:获取多个学生的前测成绩和后测成绩;利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩,对各所述学生的学业增值量进行计算;其中,所述学业增值量,用于对所述学生的学业的进步情况进行评价;对各所述学生的学业增值量进行修正。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩,对各所述学生的学业增值量进行计算,包括:通过以下公式对各所述学生的学业增值量进行计算:其中,表示学生i的后测成绩;表示学生i的前测成绩;表示剔除前测成绩的影响之后所有学生的后测成绩的平均水平;表示所有学生前测成绩对后测成绩的影响程度;表示学生i的学业增值量。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对各所述学生的学业增值量进行修正,包括:按照前测成绩由高到低的顺序,对各学生进行排序;当各所述学生中存在未进行学业增值量修正的学生时,将各所述学生中需要进行学业增值量修正的学生确定为目标学生;获取所述目标学生、排序在所述目标学生前面的预设数量的学生和排序在所述目标学生后面的预设数量的学生组成所述目标学生的学术共同体;计算所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的平均值和所述学业增值量的标准差;基于各所述目标学生的前测成绩、各所述目标学生所在学术共同体的学生的学业增值量的平均值和所述学业增值量的标准差,对所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程以及所述学业增值量的标准差的估计值的计算方程进行拟合;基于拟合得到的所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程和所述目标学生的前测成绩,计算得到所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的平均值的估计值;基于拟合得到的所述学业增值量的标准差的估计值的计算方程和所述目标学生的前测成绩,计算得到所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的标准差的估计值;基于所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的平均值的估计值和所述学业增值量的标准差的估计值,对所述目标学生的学业增值量进行修正,得到所述目标学生的学业增值量的修正值。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于各所述目标学生的前测成绩、各所述目标学生的学术共同体的学业增值量的平均值和所述学业增值量的标准差,对所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程以及所述学业增值量的标准差的估计值的计算方程进行拟合,包括:构建各所述目标学生的前测成绩与所述目标学生的学术共同体中学生的学业增值量
的平均值之间的第一关系模型集、以及各所述目标学生的前测成绩与所述目标学生的学术共同体中学生的学业增值量的标准差之间的第二关系模型集;其中,所述第一关系模型集和所述第二关系模型集中使用的模型均为多项式函数模型;所述第一关系模型集和所述第二关系模型集分别包括多个模型;使用极大似然算法对所述第一关系模型集和所述第二关系模型集中各个模型的参数进行估计,并计算所述第一关系模型集的多个模型中各个模型的拟合指标和所述第二关系模型集中多个模型中各个模型的拟合指标;将第一关系模型集的各个模型中计算得到拟合指标最小的模型确定为所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程,并将第二关系模型集的各个模型中计算得到拟合指标...

【专利技术属性】
技术研发人员:成芳妍李燕刘莹莹刘嘉堃
申请(专利权)人:北京一起教育科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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