一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备，其中，该方法包括：获取多个学生的前测成绩和后测成绩；利用多个学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各学生的学业增值量进行计算；其中，学业增值量，用于对学生的学业的进步情况进行评价；对各学生的学业增值量进行修正。通过本发明专利技术实施例提供的学生学业增值评价方法、装置和电子设备，采用简单直观的学生的前测成绩和后测成绩得到的学业增值量，确定学生的学业的进步情况，整个评价过程容易使用且实用性强。使用且实用性强。使用且实用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备


[0001]本专利技术涉及计算机
，具体而言，涉及一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备。

技术介绍

[0002]目前，在教育测评领域，一般会进行相隔一段时间的前后两次考试的成绩（即前测成绩和后测成绩），然后以前后测结果为基础来衡量学生的学业进步情况，这就是增值评价。
[0003]通常来说，考试是有满分值的，并且存在得分接近满分的高分学生。高分学生相对于其他学生而言，其进步空间是更小的，例如前测和后测的满分值均为100分时，前测中考了90分的学生，后测最多可以拿到100分，从卷面成绩来看，其进步空间为10分，而前测中考了80分的学生，后测也是最多可以拿到100分，从卷面成绩来看，其进步空间则为20分。由于进步空间的局限，增值评价结果对高分学生可能是不公平的。这便是天花板效应的体现。
[0004]为了缓解天花板效应，可以构建垂直量表，把每次考试得到的学生能力值放在一个统一的量尺上进行比较；但这样的方法在现阶段比较难实现。

技术实现思路

[0005]为解决上述问题，本专利技术实施例的目的在于提供一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了学生学业增值评价方法，包括：获取多个学生的前测成绩和后测成绩；利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各所述学生的学业增值量进行计算；其中，所述学业增值量，用于对所述学生的学业的进步情况进行评价；对各所述学生的学业增值量进行修正。
[0007]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种学生学业增值评价装置，包括：获取模块，用于获取多个学生的前测成绩和后测成绩；处理模块，用于利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各所述学生的学业增值量进行计算；其中，所述学业增值量，用于对所述学生的学业的进步情况进行评价；修正模块，用于对各所述学生的学业增值量进行修正。
[0008]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述第一方面所述的方法的步骤。
[0009]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括有存储器，处理器以及一个或者一个以上的程序，其中所述一个或者一个以上程序存储于所述存储器中，且经配置以由所述处理器执行上述第一方面所述的方法的步骤。
[0010]本专利技术实施例上述第一方面至第四方面提供的方案中，利用多个学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对用于对学生的学业的进步情况进行评价的学业增值量进行计算；并对各学生的学业增值量进行修正，从而利用修正后的学业增值量，最终确定学生的学业的进步情况，与相关技术中为了缓解天花板效应，需要把每次考试得到的学生能力值放在一个统一的量尺上进行比较的方式相比，采用简单直观的学生的前测成绩和后测成绩得到的学业增值量，确定学生的学业的进步情况，整个评价过程更容易使用且实用性更强。
[0011]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1示出了本专利技术实施例1所提供的一种学生学业增值评价方法的流程图；图2示出了本专利技术实施例2所提供的一种学生学业增值评价装置的结构示意图；图3示出了本专利技术实施例3所提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0014]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0015]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0016]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0017]目前，在教育测评领域，一般会进行相隔一段时间的前后两次考试的成绩（即前测成绩和后测成绩），然后以前后测结果为基础来衡量学生的学业进步情况，这就是增值评价。
[0018]通常来说，考试是有满分值的，并且存在得分接近满分的高分学生。高分学生相对于其他学生而言，其进步空间是更小的，例如前测和后测的满分值均为100分时，前测中考了90分的学生，后测最多可以拿到100分，从卷面成绩来看，其进步空间为10分，而前测中考
了80分的学生，后测也是最多可以拿到100分，从卷面成绩来看，其进步空间则为20分。由于进步空间的局限，增值评价结果对高分学生可能是不公平的。这便是天花板效应的体现。
[0019]为了缓解天花板效应，可以构建垂直量表，把每次考试得到的学生能力值放在一个统一的量尺上进行比较；但这样的方法在现阶段比较难实现。
[0020]因此，为了解决上述的技术问题，可以更公平、更便利地进行学生学业的增值评价，本申请提出了一种学生学业增值评价方法、装置和电子设备，基于学生的学术共同体对学生学业进行增值评价，来缓解天花板效应，并辅以其他功能，形成了一个方便、易用的增值评价体系。
[0021]所述学生的学术共同体，指的是学习水平/测试得分接近的一组学生。
[0022]基于此，本申请各实施例提供的学生学业增值评价方法、装置和电子设备，利用多个学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对用于对学生的学业的进步情况进行评价的学业增值量进行计算；并对各学生的学业增值量进行修正，从而利用修正后的学业增值量，最终确定学生的学业的进步情况，与相关技术中为了缓解天花板效应，需要把每次考试得到的学生能力值放在一个统一的量尺上进行比较的方式相比，采用简单直观的学生的前测成绩和后测成绩得到的学业增值量，确定学生的学业的进步情况，整个评价过程更容易使用且实用性更强。
[0023]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种学生学业增值评价方法，其特征在于，包括：获取多个学生的前测成绩和后测成绩；利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各所述学生的学业增值量进行计算；其中，所述学业增值量，用于对所述学生的学业的进步情况进行评价；对各所述学生的学业增值量进行修正。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用多个所述学生中各学生的前测成绩和后测成绩，对各所述学生的学业增值量进行计算，包括：通过以下公式对各所述学生的学业增值量进行计算：其中，表示学生i的后测成绩；表示学生i的前测成绩；表示剔除前测成绩的影响之后所有学生的后测成绩的平均水平；表示所有学生前测成绩对后测成绩的影响程度；表示学生i的学业增值量。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对各所述学生的学业增值量进行修正，包括：按照前测成绩由高到低的顺序，对各学生进行排序；当各所述学生中存在未进行学业增值量修正的学生时，将各所述学生中需要进行学业增值量修正的学生确定为目标学生；获取所述目标学生、排序在所述目标学生前面的预设数量的学生和排序在所述目标学生后面的预设数量的学生组成所述目标学生的学术共同体；计算所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的平均值和所述学业增值量的标准差；基于各所述目标学生的前测成绩、各所述目标学生所在学术共同体的学生的学业增值量的平均值和所述学业增值量的标准差，对所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程以及所述学业增值量的标准差的估计值的计算方程进行拟合；基于拟合得到的所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程和所述目标学生的前测成绩，计算得到所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的平均值的估计值；基于拟合得到的所述学业增值量的标准差的估计值的计算方程和所述目标学生的前测成绩，计算得到所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的标准差的估计值；基于所述目标学生的学术共同体的学生的学业增值量的平均值的估计值和所述学业增值量的标准差的估计值，对所述目标学生的学业增值量进行修正，得到所述目标学生的学业增值量的修正值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于各所述目标学生的前测成绩、各所述目标学生的学术共同体的学业增值量的平均值和所述学业增值量的标准差，对所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程以及所述学业增值量的标准差的估计值的计算方程进行拟合，包括：构建各所述目标学生的前测成绩与所述目标学生的学术共同体中学生的学业增值量
的平均值之间的第一关系模型集、以及各所述目标学生的前测成绩与所述目标学生的学术共同体中学生的学业增值量的标准差之间的第二关系模型集；其中，所述第一关系模型集和所述第二关系模型集中使用的模型均为多项式函数模型；所述第一关系模型集和所述第二关系模型集分别包括多个模型；使用极大似然算法对所述第一关系模型集和所述第二关系模型集中各个模型的参数进行估计，并计算所述第一关系模型集的多个模型中各个模型的拟合指标和所述第二关系模型集中多个模型中各个模型的拟合指标；将第一关系模型集的各个模型中计算得到拟合指标最小的模型确定为所述学业增值量的平均值的估计值的计算方程，并将第二关系模型集的各个模型中计算得到拟合指标...

【专利技术属性】
技术研发人员：成芳妍，李燕，刘莹莹，刘嘉堃，
申请(专利权)人：北京一起教育科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：