一种基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器、测量系统及测量分析方法技术方案

本发明专利技术提供一种基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器、测量装置及测量分析方法，传感器包括腐蚀敏感元件、温度补偿元件、测试探针、PCB电路板、传感器外壳、接线端子和多芯屏蔽线；腐蚀敏感元件和温度补偿元件位于传感器外壳底部；腐蚀敏感元件和温度补偿元件上方分别设置测试探针，且腐蚀敏感元件和温度补偿元件与测试探针之间电连接，测试探针顶部固定安装于PCB电路板，多芯屏蔽线通过接线端子与PCB电路板电连接，多芯屏蔽线包括若干导线，导线与测试探针一一对应电连接；传感器外壳内部注有环氧树脂灌封胶。本发明专利技术提供的监测传感器能够在不破坏腐蚀敏感原件完整性的条件下监测试片的局部腐蚀深度。监测试片的局部腐蚀深度。监测试片的局部腐蚀深度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器、测量系统及测量分析方法


[0001]本专利技术涉及自动监测
，具体而言，尤其涉及一种基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器、测量系统及测量分析方法。

技术介绍

[0002]金属腐蚀问题会造成巨大的损失和严重的安全隐患，全球每年因金属腐蚀造成的经济损失达上千亿美元。由于金属结构物所处自然环境复杂多变，腐蚀往往具有不同的破坏形态，结构物可能发生均匀腐蚀，即金属结构物表面各区域腐蚀速率基本相同；也可能发生非均匀腐蚀，即金属结构物不同区域的腐蚀速率差异明显，导致局部的腐蚀速率大于整体平均的腐蚀速率，腐蚀破坏发生在金属结构物表面的特定区域。相比于均匀腐蚀，非均匀腐蚀所造成的材料损失虽然不大，但由于非均匀的隐蔽性，其危害性却严重的多，在实际工程中，各类腐蚀失效事故大多数为局部破坏。通过在金属结构物周围布置传感器对非均匀腐蚀行为进行监测，掌握腐蚀发生的时间，判断腐蚀的非均匀程度，并测量局部腐蚀速率，根据监测结果可以及时设计合理的腐蚀防护方案，可以提高结构物的安全性，延长金属结构的使用寿命，减少腐蚀带来的经本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器，其特征在于，包括腐蚀敏感元件、温度补偿元件、测试探针、PCB电路板、传感器外壳、接线端子和多芯屏蔽线；所述腐蚀敏感元件和所述温度补偿元件位于所述传感器外壳底部，所述腐蚀敏感元件位于所述传感器外壳底面中央，所述温度补偿元件位于所述腐蚀敏感元件侧面；所述腐蚀敏感元件和所述温度补偿元件上方分别设置所述测试探针，且所述腐蚀敏感元件和所述温度补偿元件与所述测试探针之间电连接，所述测试探针顶部固定安装于所述PCB电路板，所述多芯屏蔽线通过所述接线端子与所述PCB电路板电连接，所述多芯屏蔽线包括若干导线，所述导线与所述测试探针一一对应电连接；所述传感器外壳内部注有环氧树脂灌封胶。2.根据权利要求1所述的基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器，其特征在于，所述腐蚀敏感元件与所述温度补偿元件材质相同；所述温度补偿元件底部喷涂氧化铬陶瓷。3.根据权利要求1所述的基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器，其特征在于，所述腐蚀敏感元件底面为正方形；所述温度补偿元件底面为长方形，且所述温度补偿元件底面的长边长度与所述腐蚀敏感元件底面的正方形边长相同。4.根据权利要求1所述的基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器，其特征在于，所述腐蚀敏感元件连接有n
×
n个所述测试探针，n
×
n个所述测试探针呈正方形阵列排布，相邻的所述测试探针之间距离相等，所述腐蚀敏感元件上分为(n
‑
1)
×
(n
‑
1)个测量区域，每个测量区域包括四个相邻的呈正方形排布的所述测试探针；所述温度补偿元件连接有4个所述测试探针，4个所述测试探针位于同一条直线上且呈等间距分布。5.一种基于阵列四探针电势降技术的腐蚀深度测量装置，其特征在于，包括基于阵列四探针电势降技术的腐蚀监测传感器、多通道切换装置、高精度电压表、恒定电流源和计算机，所述多通道切换装置通过所述多芯屏蔽线与所述腐蚀监测传感器相连接，所述高精度电压表和所述恒定电流源与所述多通道切换装置相连接，所述高精度电压表通过所述多通道切换装置连接至所述腐蚀敏感元件测量区域一侧的2个测试探针和所述温度补偿元件上位于内侧的两个测试探针，所述恒定电流源通过所述多通道切换装置连接至所述腐蚀敏感元件测量区域另一侧的2个测试探针和所述温度补偿元件上位于外侧的两个测试探针；所述计算机分别与所述高精度电压表、所述恒定电流源和所述多通道切换装置相连，用于控制所述恒定电流源通过所述多通道切换装置对测量区域或所述温度补偿元件提供电流，并通过所述高精度电压表测量电压数据；所述计算机还用于控制所述多通道切换装置依次选择所述腐蚀敏...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐云泽，李恺强，黄一，
申请(专利权)人：大连理工大学，
类型：发明
国别省市：