一种X射线测厚仪校准用的支架装置制造方法及图纸

技术编号:31732179 阅读:30 留言:0更新日期:2022-01-05 16:03
本实用新型专利技术涉及一种X射线测厚仪校准用的支架装置,所述X射线测厚仪的C型支架下部设有圆形的X射线发射孔,支架装置安装在C型支架上;所述支架装置包括支架平台和安装脚;所述支架平台整体为矩形,矩形中部设有一个圆形测量孔,所述圆形测量孔的圆心位于X射线发射孔的圆心上方,所述圆形测量孔的直径大于X射线发射孔;所述支架平台上表面固装一个直角型围挡;所述安装脚与支架平台固装,四个所述安装脚对称设置在所述圆形测量孔两侧;所述C型支架上设有与安装脚位置相对应的定位孔。本实用新型专利技术操作简单使用方便,用于平整放置厚度样板,可以辅助提高测厚仪的准确度,提高轧机的控制精度,提高产品的生产质量。提高产品的生产质量。提高产品的生产质量。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线测厚仪校准用的支架装置


[0001]本技术属于测量仪器
,特别涉及一种X射线测厚仪校准用的支架装置,是冷轧机组生产线测厚仪的配套部件,适用于X射线测厚仪测量厚度校准。

技术介绍

[0002]目前,在冷轧机组生产线测厚仪都是采用在线检测装置测量带钢轧制过程中的实际厚度。所述测厚仪结构与专利号2018203928133所公开的铸轧卷铝板在线X射线测厚装置大致相同。测厚仪主体为一个C型架,C型架下部的一端设有X射线发射器,C型架上部的一端设有X射线接收器。X射线发射器和X射线接收器对称设置, C型架下部设有与X射线发射器的发射头位置相对应的圆形的X射线发射孔。
[0003]测厚仪根据实际测量值与设定值相比较后的偏差信号,借助于闭环控制回路,经过PLC的计算,改变轧机的压下位置、张力或电机转速,把厚度控制在允许偏差范围内,因此,测厚仪的测量精度和测量稳定性对冷轧机组的厚度控制而言是非常重要的。然而随着设备使用时间的增加和日常的设备磨损等,测量精度会越来越低,这时需要用标准的厚度样板来进行校准。厚度样板的厚度是已知的,通过将测厚仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线测厚仪校准用的支架装置,所述X射线测厚仪的C型支架下部设有圆形的X射线发射孔,支架装置安装在C型支架上;所述支架装置包括支架平台和安装脚,其特征在于:所述支架平台整体为矩形,矩形中部设有一个圆形测量孔,所述圆形测量孔的圆心位于X射线发射孔的圆心上方,所述圆形测量孔的直径大于X射线发射孔;所述支架平台上表面固装一个直角型围挡;所述安装脚与支架平台固装,四个所述安装脚对称设置在所述圆形测量孔两侧;所述C型支架上设有与安装脚位置相对应的定位孔。2.根据权利要求1所述的一种X射线测厚仪校准用的支架装置,其特征在于:所述支架平台的各边长度均大于等于常用厚度样板的边长。3.根据权利要求1所述的一种X射线测厚仪校准用的支架装置,其特征在于:所述直角型围挡沿支架平台的边缘设置。4.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员:祝耐成
申请(专利权)人:天津市新宇彩板有限公司
类型:新型
国别省市:

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