可编程设备和云系统技术方案

公开一种可编程设备和云系统。该可编程设备包括：多个待测设备，包括第一待测设备；控制模块，用于接收测试数据包，解析所述测试数据包并获得所述第一待测设备的标识和由所述第一待测设备执行的测试命令，根据所述第一待测设备的标识从多个连接通道确定第一连接通道，并将所述测试命令发送给所述第一连接通道；多个连接通道，包括所述第一连接通道，所述第一连接通道将所述测试命令发送给所述第一待测设备执行。鉴于连接通道是通过硬件编程的方式在可编程设备中设计的，因此本公开实施例可以在同一个可编程设备构建多个连接通道，不同连接通道连接不同待测设备进行测试，从而实现采用同一个可编程设备测试多个待测设备。用同一个可编程设备测试多个待测设备。用同一个可编程设备测试多个待测设备。

【技术实现步骤摘要】
可编程设备和云系统


[0001]本公开涉及处理器测试领域，尤其涉及一种可编程设备和云系统。

技术介绍

[0002]测试是研发过程中的重要环节。例如，在嵌入式处理器设计过程中，研发人员需要经常对嵌入式处理器进行功能和性能测试，在嵌入式处理器的硬件结构和硬件逻辑基本定型之后，有购买意向的客户会通过测试评估嵌入式处理器的性能是否达到设定指标。
[0003]图1示出了嵌入式处理器的测试场景。如图上所示，客户端软件111部署在终端11上，服务端程序131部署在服务器13上。客户端软件111和服务端程序131通过网络12进行通信，服务器13通过接口14与现场可编程逻辑门阵列(FPGA)设备15通信。FPGA属于专用集成电路中的一种半定制电路，包括多个硬件可编程组件。当利用FPGA测试嵌入式处理器时，可使用FPGA的硬件可编程组件搭建嵌入式处理器以及嵌入式处理器的处理器逻辑。测试过程包括：客户端软件111经由服务端程序131将测试命令发送给嵌入式处理器151并接收测试结果。参考图上所示，客户可以通过测试对嵌入式处理器的代码密度、性能和调试能力等各个方面进行评估，而研发人员则可以通过测试不断调试嵌入式处理器。
[0004]但是专利技术人发现，在上述测试场景中，同一时间，研发人员和客户只能一对一地使用FPGA设备进行测试，从而导致对FPGA设备动态需求较高，需要采购大量的FPGA设备以应对测试需求。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本公开的目的是提供一种可编程设备和云系统，以解决现有技术存在的问题。
[0006]根据本公开实施例的第一方面，提供一种可编程设备，包括：
[0007]多个待测设备，包括第一待测设备；
[0008]控制模块，用于接收测试数据包，解析所述测试数据包并获得所述第一待测设备的标识和由所述第一待测设备执行的测试命令，根据所述第一待测设备的标识从多个连接通道确定第一连接通道，并将所述测试命令发送给所述第一连接通道；
[0009]多个连接通道，包括所述第一连接通道，所述第一连接通道将所述测试命令发送给所述第一待测设备执行。
[0010]可选地，所述控制模块还用于从所述第一连接通道接收测试结果数据并发送出去。
[0011]可选地，所述控制模块还包括存储器控制器，所述存储器控制器用于从存储器读取连接通道和待测设备之间的对应关系数据，所述控制模块使用所述第一待测设备的标识检索所述对应关系数据，以确定所述第一连接通道。
[0012]可选地，所述第一待测设备为嵌入式处理器，所述测试命令经由JTAG接口被写入到指令寄存器或闪存中，以便于所述嵌入式处理器读取并执行。
[0013]可选地，所述第一待测设备为嵌入式系统，所述测试命令经由JTAG接口被写入到嵌入式系统的闪存中，以便于嵌入式系统中的嵌入式处理器读取并执行。
[0014]可选地，所述控制模块通过以下之一的接口类型接收所述测试数据包：
[0015]PCIe接口、USB接口、UART接口。
[0016]可选地，所述测试数据包包括多个第一待测设备的标识以及多个由所述第一待测设备执行的测试命令。
[0017]可选地，所述多个待测设备为通过所述可编程设备提供的可编程组件并通过硬件编程构建而成的虚拟设备，或者，
[0018]所述多个待测设备为多个实体设备，通过所述可编程设备与所述多个实体设备连接。
[0019]可选地，所述多个连接通道被实现为AXI总线、APB总线、通用异步收发传输器和串行外设接口中的一个或多个。
[0020]可选地，所述可编程设备为FPGA设备。
[0021]第二方面，本公开实施例提供一种基于可编程设备的云系统，包括：上述任一项的可编程设备和云服务器，所述云服务器部署有服务端程序，所述服务端程序用于从客户端程序接收所述测试命令，并根据所述测试命令组织并发送所述测试数据包。
[0022]可选地，所述服务端程序还用于校验发出所述测试命令的用户是否有权限操作所述第一待测设备。
[0023]可选地，所述服务端程序还用于将多个测试命令组织在同一个测试数据包中。
[0024]在本公开实施例中，鉴于连接通道是通过硬件编程的方式在可编程设备中设计的，因此可以在同一个可编程设备构建多个连接通道，不同连接通道连接不同待测设备进行测试，从而实现采用同一个可编程设备测试多个待测设备，由此研发人员和客户能够复用同一个可编程设备进行多个待测设备的测试。
附图说明
[0025]通过参考以下附图对本公开实施例的描述，本公开的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
[0026]图1示出了现有的嵌入式处理器的测试场景；
[0027]图2示出本公开一个实施例所应用的数据中心的层级结构图；
[0028]图3是本公开一个实施例所应用的数据中心的结构图；
[0029]图4是本公开一个实施例的数据中心中一个服务器的内部结构框图；
[0030]图5是FPGA的结构示意图；
[0031]图6a是用于实施本公开一个实施例的云服务器的结构示意图；
[0032]图6b是用于实施本公开一个实施例的云服务器的结构示意图；
[0033]图7是用于实施本公开一个实施例的云服务器的结构示意图；
[0034]图8是基于本公开实施例建立和使用测试环境的流程图。
具体实施方式
[0035]以下基于实施例对本公开进行描述，但是本公开并不仅仅限于这些实施例。在下
文对本公开的细节描述中，详尽描述了一些特定的细节部分。对本领域技术人员来说没有这些细节部分的描述也可以完全理解本公开。为了避免混淆本公开的实质，公知的方法、过程、流程没有详细叙述。另外附图不一定是按比例绘制的。
[0036]数据中心
[0037]图2示出作为本公开实施例所应用的一种场景的数据中心的分层结构图。
[0038]数据中心是全球协作的特定设备网络，用来在互联网网络基础设施上传递、加速、展示、计算、存储数据信息。在今后的发展中，数据中心也将会成为企业竞争的资产。随着数据中心应用的广泛化，人工智能等越来越多地应用到数据中心。而神经网络作为人工智能的重要技术，已经大量应用到数据中心大数据分析运算中。
[0039]在传统的大型数据中心，网络结构通常是图2所示的三层结构，即分级的互连网络模型(hierarchical inter-networking model)。这个模型包含了以下三层：
[0040]接入层(Access Layer)103：有时也称为边缘层，包括接入交换机130和接入交换机所连接的各服务器140。各服务器140是数据中心的处理和存储实体，数据中心中大量数据的处理和存储都是由这些服务器140完成的。接入交换机130是用来让这些服务器接入到数据中心中的交换机。一台接入交换机130接入多台服务器140。接入交换机130通常位于机架顶部，所以它们也被称为机顶(Top 本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可编程设备，包括：多个待测设备，包括第一待测设备；控制模块，用于接收测试数据包，解析所述测试数据包并获得所述第一待测设备的标识和由所述第一待测设备执行的测试命令，根据所述第一待测设备的标识从多个连接通道确定第一连接通道，并将所述测试命令发送给所述第一连接通道；多个连接通道，包括所述第一连接通道，所述第一连接通道将所述测试命令发送给所述第一待测设备执行。2.根据权利要求1所述的可编程设备，其中，所述控制模块还用于从所述第一连接通道接收测试结果数据并发送出去。3.根据权利要求1所述的可编程设备，其中，所述控制模块还包括存储器控制器，所述存储器控制器用于从存储器读取连接通道和待测设备之间的对应关系数据，所述控制模块使用所述第一待测设备的标识检索所述对应关系数据，以确定所述第一连接通道。4.根据权利要求1所述的可编程设备，其中，所述第一待测设备为嵌入式处理器，所述测试命令经由JTAG接口被写入到指令寄存器或闪存中，以便于所述嵌入式处理器读取并执行。5.根据权利要求1所述的可编程设备，其中，所述第一待测设备为嵌入式系统，所述测试命令经由JTAG接口被写入到嵌入式系统的闪存中，以便于嵌入式系统中的嵌入式处理器读取并执行。6.根据权利要求1所述的可编程设备，其中，所述控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏立方，尚云海，吴友飞，赵宽，
申请(专利权)人：平头哥上海半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：