本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片验证方法、装置及服务器，该芯片验证方法，包括：获取功能覆盖率模型；根据功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，回归文件包括：所有功能点的测试用例；基于回归文件，进行回归测试；统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。通过利用功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点，并生成回归文件，该回归文件包括所有功能点的测试用例，以进行回归测试，本申请实施例能够减少迭代次数，并且，能够满足预设要求的功能覆盖率，提高芯片验证的效率。的效率。的效率。
【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、装置及服务器
[0001]本申请涉及芯片
，特别是涉及一种芯片验证方法、装置及服务器。
技术介绍
[0002]伴随着芯片设计规模的不断增大，功能日趋复杂，芯片验证的复杂度更是大幅度提高，逐渐成为制约芯片设计的瓶颈之一。
[0003]传统的验证方法包括：人工开发定向测试用例的方法和受约束随机验证方法。其中，人工开发定向测试用例的方法效率低，并且验证结果完备性得不到充分的保证。而受约束随机验证方法需要进行多轮回归仿真迭代，仍然无法100％覆盖全部功能点，需要在多轮回归以后，分析未覆盖到的功能点，然后进行人工补充测试用例进行覆盖。受约束随机验证方法最大的缺陷在于无法以最快的时间完成对所有功能的覆盖。同时，在芯片规模较大，功能点较多时，多轮回归往往会随机到大量的重复功能点，导致服务器资源白白浪费。
[0004]专利技术人在实现本专利技术实施例的过程中，发现相关技术至少存在以下问题：多轮回归仿真迭代的方式造成芯片验证的测试时间长，效率不足。
技术实现思路
[0005]本申请实施例提供一种芯片验证方法、装置及电子设备，其解决了目前芯片验证存在的效率低的技术问题，提高芯片验证的效率。
[0006]为解决上述技术问题，本申请实施例提供以下技术方案：
[0007]第一方面，本申请实施例提供一种芯片验证方法，所述方法包括：
[0008]获取功能覆盖率模型；
[0009]根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；
[0010]根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，所述回归文件包括：所有功能点的测试用例；
[0011]基于所述回归文件，进行回归测试；
[0012]统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。
[0013]在一些实施例中，所述根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点，包括：
[0014]确定所述功能覆盖率模型中的每一个变量对应的覆盖仓；
[0015]确定所述功能覆盖率模型中的所有变量对应的交叉覆盖仓；
[0016]根据所述交叉覆盖仓，统计每一个交叉覆盖仓中功能点的总数，确定功能点的总数的最大值。
[0017]在一些实施例中，在生成回归文件之后，所述方法还包括：
[0018]为每一个覆盖仓设置一个数组或者队列，用于存储该覆盖仓对应的功能点；
[0019]根据每一变量对应的数值的数量，确定用例控制参数的取值数量；
[0020]根据所述用例控制参数的取值数量，计算每一变量对应的参数索引值；
[0021]根据所述参数索引值，从每一个覆盖仓对应的数组或者队列中选取参数值；
[0022]根据选取到的参数值，配置所述测试用例中的参数。
[0023]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0024]在配置所述测试用例中的参数之后，生成用例参数解析文件，其中，该用例参数解析文件包括所有测试用例中的参数。
[0025]在一些实施例中，所述基于所述回归文件，进行回归测试，包括：
[0026]通过所述用例参数解析文件，为所述回归文件中的每一测试用例配置对应的参数，生成配置参数的回归文件；
[0027]基于所述配置参数的回归文件，进行回归测试。
[0028]在一些实施例中，所述获取功能覆盖率模型，包括：
[0029]获取功能覆盖率模型文件；
[0030]根据所述功能覆盖率模型文件，获取功能覆盖率模型。
[0031]在一些实施例中，所述预设要求包括功能覆盖率达到100％。
[0032]第二方面，本申请实施例提供一种芯片验证装置，所述装置包括：
[0033]功能覆盖率模型获取模块，用于获取功能覆盖率模型；
[0034]功能点确定模块，用于根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；
[0035]回归文件生成模块，用于根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，所述回归文件包括：所有功能点的测试用例；
[0036]回归测试模块，用于基于所述回归文件，进行回归测试；
[0037]功能覆盖率统计模块，用于统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。
[0038]第三方面，本申请实施例提供一种服务器，包括：
[0039]至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够用于执行如第一方面所述的芯片验证方法。
[0040]第四方面，本申请实施例提供一种非易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使服务器能够执行如第一方面所述的芯片验证方法。
[0041]本申请实施例的有益效果是：区别于现有技术的情况下，本申请实施例提供的一种芯片验证方法，所述方法包括：获取功能覆盖率模型；根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，所述回归文件包括：所有功能点的测试用例；基于所述回归文件，进行回归测试；统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。通过利用功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点，并生成回归文件，该回归文件包括：所有功能点的测试用例，以进行回归测试，本申请实施例能够减少迭代次数，并且，能够满足预设要求的功能覆盖率，提高芯片验证的效率。
附图说明
[0042]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
[0043]图1是现有技术中的受约束随机验证方法的流程示意图；
[0044]图2是本申请实施例提供的一种芯片验证方法的流程示意图；
[0045]图3是本申请实施例提供的另一种芯片验证方法的流程示意图；
[0046]图4是图3中的步骤S32的细化流程图；
[0047]图5是本申请实施例提供的配置测试用例中的参数的流程示意图；
[0048]图6是本申请实施例提供的又一种芯片验证方法的流程示意图；
[0049]图7a是现有技术中的受约束随机验证方法功能点覆盖趋势图；
[0050]图7b是本申请实施例中的功能点覆盖趋势图；
[0051]图8是本申请实施例提供的一种芯片验证装置的结构示意图；
[0052]图9是本申请实施例提供的一种服务器的结构示意图。
具体实施方式
[0053]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取功能覆盖率模型；根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，所述回归文件包括：所有功能点的测试用例；基于所述回归文件，进行回归测试；统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点，包括：确定所述功能覆盖率模型中的每一个变量对应的覆盖仓；确定所述功能覆盖率模型中的所有变量对应的交叉覆盖仓；根据所述交叉覆盖仓，统计每一个交叉覆盖仓中功能点的总数，确定功能点的总数的最大值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在生成回归文件之后，所述方法还包括：为每一个覆盖仓设置一个数组或者队列，用于存储该覆盖仓对应的功能点；根据每一变量对应的数值的数量，确定用例控制参数的取值数量；根据所述用例控制参数的取值数量，计算每一变量对应的参数索引值；根据所述参数索引值，从每一个覆盖仓对应的数组或者队列中选取参数值；根据选取到的参数值，配置所述测试用例中的参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在配置所述测试用例中的参数之后，生成用例参数解析文件，其中，该用例参数解析文件包括所有测试用例中的参数。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述回归文件，进行回归测试，包括：通过所述用例参数解析文件，为所述回归文件中的每一测试用例配置对应...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱佳齐，黄运新，
申请(专利权)人：深圳大普微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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