【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、装置及服务器
[0001]本申请涉及芯片
，特别是涉及一种芯片验证方法、装置及服务器。
技术介绍
[0002]伴随着芯片设计规模的不断增大，功能日趋复杂，芯片验证的复杂度更是大幅度提高，逐渐成为制约芯片设计的瓶颈之一。
[0003]传统的验证方法包括：人工开发定向测试用例的方法和受约束随机验证方法。其中，人工开发定向测试用例的方法效率低，并且验证结果完备性得不到充分的保证。而受约束随机验证方法需要进行多轮回归仿真迭代，仍然无法100％覆盖全部功能点，需要在多轮回归以后，分析未覆盖到的功能点，然后进行人工补充测试用例进行覆盖。受约束随机验证方法最大的缺陷在于无法以最快的时间完成对所有功能的覆盖。同时，在芯片规模较大，功能点较多时，多轮回归往往会随机到大量的重复功能点，导致服务器资源白白浪费。
[0004]专利技术人在实现本专利技术实施例的过程中，发现相关技术至少存在以下问题：多轮回归仿真迭代的方式造成芯片验证的测试时间长，效率不足。
技术实现思路
[0005]本申请实施例提供...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取功能覆盖率模型；根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，所述回归文件包括：所有功能点的测试用例；基于所述回归文件，进行回归测试；统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点，包括：确定所述功能覆盖率模型中的每一个变量对应的覆盖仓；确定所述功能覆盖率模型中的所有变量对应的交叉覆盖仓；根据所述交叉覆盖仓，统计每一个交叉覆盖仓中功能点的总数，确定功能点的总数的最大值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在生成回归文件之后，所述方法还包括：为每一个覆盖仓设置一个数组或者队列，用于存储该覆盖仓对应的功能点；根据每一变量对应的数值的数量，确定用例控制参数的取值数量；根据所述用例控制参数的取值数量，计算每一变量对应的参数索引值；根据所述参数索引值，从每一个覆盖仓对应的数组或者队列中选取参数值；根据选取到的参数值，配置所述测试用例中的参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在配置所述测试用例中的参数之后，生成用例参数解析文件，其中，该用例参数解析文件包括所有测试用例中的参数。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述回归文件，进行回归测试，包括：通过所述用例参数解析文件，为所述回归文件中的每一测试用例配置对应...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱佳齐，黄运新，
申请(专利权)人：深圳大普微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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