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本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片验证方法、装置及服务器，该芯片验证方法，包括：获取功能覆盖率模型；根据功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，回归文件包括：所有功能点的测试用例；基...
该专利属于深圳大普微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳大普微电子科技有限公司授权不得商用。

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