电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统。该测试方法包括以下步骤：步骤A.使待测试电路主板经开关电连接控制装置；步骤C.把温控箱的温度调节至测试温度；步骤E.控制装置启动计时，计至预设冷却时长后，控制装置令所述开关导通，以使待测试电路主板通电并通信连接控制装置，然后自动扫描电路主板，若在预设扫描时长内扫描到电路主板X，则记录电路主板X启动成功，否则记录电路主板X启动失败。该测试方法能自动对电路主板进行恶劣温度下的启动测试，无需人工计时后手动启动电路主板以及记录启动结果，比较方便。比较方便。比较方便。

【技术实现步骤摘要】
电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统


[0001]本专利技术涉及电路主板性能测试
，尤其涉及一种电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统。

技术介绍

[0002]作为主机控制核心的电路主板生产出来之后，需要在恶劣环境例如低温/高温环境下进行测试，对测试不通过的电路主板进行回收处理。现有的测试方式是：测试人员把待测试电路主板放入温控箱中并启动待测试电路主板看看其是否能够在常温下正常启动，若能够正常启动就关闭待测试电路主板，然后调整温控箱的温度至测试温度，使待测试电路主板在温控箱中冷置两个小时以确保待测试电路主板中的电子器件达到了测试温度。在此过程中，测试人员需要人工计时，待冷置达到两小时之后，测试人员再手动启动待测试电路主板并记录主板的启动情况。这种方式需要测试人员留意冷置时间，并在达到冷置时间之后，手动启动待测试电路主板并手动记录主板的启动情况，比较麻烦。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种电路主板可靠性测试方法、存储有被执行时实现上述方法的计算机程序的计算机可读存储介质以及包括该计算机可读存本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路主板可靠性测试方法，其特征是包括以下步骤：步骤A.使待测试电路主板经开关电连接控制装置；步骤C.把温控箱的温度调节至测试温度；步骤E.控制装置启动计时，计至预设冷却时长后，控制装置令所述开关导通，以使待测试电路主板通电并通信连接控制装置，然后自动扫描电路主板，若在预设扫描时长内扫描到电路主板X，则记录电路主板X启动成功，否则记录电路主板X启动失败。2.如权利要求1所述的电路主板可靠性测试方法，其特征是：包括在步骤A和步骤C之间执行的步骤B.控制装置令所述开关导通以使待测试电路主板通电启动，然后控制装置自动扫描电路主板；步骤C的执行条件包括：步骤B中，扫描到的主板的数量和待测试电路主板的数量相等；还包括在步骤C和步骤E之间执行的步骤D.令所述开关断开以使待测试电路主板断电关机。3.如权利要求1所述的电路主板可靠性测试方法，其特征是步骤E中，所述的自动扫描电路主板具体进行如下操作：逐一ping待测试电路主板所在网段内的各个I...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭孝云，严寒亮，
申请(专利权)人：广东汉为信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：