一种芯片测试模式控制系统及控制方法技术方案

本发明专利技术涉及芯片测试，具体涉及一种芯片测试模式控制系统及控制方法，包括复位信号检测模块、测试模式判断电路和内部电路，测试模式判断电路在复位信号检测模块检测到外部复位信号时进入工作状态，并在检测到功能管脚出现指定串行序列编码时，生成测试模式信号发送至内部电路；本发明专利技术提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的增加成本、不便在封装完的成品芯片上进行测试、芯片内部存储信息容易被盗取的缺陷。取的缺陷。取的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试模式控制系统及控制方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试，具体涉及一种芯片测试模式控制系统及控制方法。

技术介绍

[0002]芯片在量产测试中一般会加入专用管脚用于控制芯片进入测试模式，这种专用测试模式控制管脚有其优点和缺点。优点是，芯片进入测试模式很简单，只需在专用测试模式控制管脚上加载固定电压，芯片即可自动进入测试模式；缺点是，会占用芯片面积，即使不考虑面积成本，如果测试是在晶圆级别进行的，一般封装完成后，不会对专用测试模式控制管脚进行封装，导致在芯片封装后无法顺利进入测试模式。
[0003]传统的芯片测试模式控制方法如图3所示，通过在功能管脚外增加TEST_MODE管脚，测试时在该管脚施加高电平，可使芯片立即进入测试模式。这样通过从部分功能管脚加入测试信号，从部分功能管脚观测输出信号，可判断芯片是否通过测试。这种方法的优点是控制简单，带来的问题有主要有以下几个方面：
[0004]1)成本增加，需要专用测试模式控制管脚，该管脚只在测试模式下有用，芯片正常工作时无法当做普通功能管脚使用，对于小尺寸芯片，一般管脚面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试模式控制系统，其特征在于：包括复位信号检测模块、测试模式判断电路和内部电路，所述测试模式判断电路在复位信号检测模块检测到外部复位信号时进入工作状态，并在检测到功能管脚出现指定串行序列编码时，生成测试模式信号发送至内部电路。2.根据权利要求1所述的芯片测试模式控制系统，其特征在于：所述指定串行序列编码通过外部设备按照预定规则在相应功能管脚上加载不同字节串码形成。3.根据权利要求1所述的芯片测试模式控制系统，其特征在于：所述复位信号检测模块将检测信号发送至内部电路，所述内部电路接收到测试模式信号，并且在外部复位信号撤销后控制芯片进入测试模式。4.根据权利要求3所述的芯片测试模式控制系统，其特征在于：所述外部复位信号加载于芯片的外部复位管脚，所述外部复位管脚上加载低电平的外部复位信号时，芯片进入复位状态。5.一种基于权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：程青云，
申请(专利权)人：合肥甘尧电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：