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本发明涉及芯片测试，具体涉及一种芯片测试模式控制系统及控制方法，包括复位信号检测模块、测试模式判断电路和内部电路，测试模式判断电路在复位信号检测模块检测到外部复位信号时进入工作状态，并在检测到功能管脚出现指定串行序列编码时，生成测试模式信号...
该专利属于合肥甘尧电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥甘尧电子科技有限公司授权不得商用。

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