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本发明公开了一种电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统。该测试方法包括以下步骤：步骤A.使待测试电路主板经开关电连接控制装置；步骤C.把温控箱的温度调节至测试温度；步骤E.控制装置启动计时，计至预设冷却时长后，控制装置令所述开关导通，以使待...
该专利属于广东汉为信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东汉为信息技术有限公司授权不得商用。

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