一种针对非接触智能卡的干扰测试方法技术

本发明专利技术提出的一种针对非接触智能卡的干扰测试方法，由干扰器产生直流叠加干扰毛刺的波形，加载到直流叠加干扰输入端上，直流叠加干扰输入端再与桥式整流电路的直流输出端连接。在桥式整流电路的交流输入端，外接一个用于输出非接干扰的干扰天线，干扰天线放在非接触智能卡和非接读卡器之间。当非接触智能卡与非接读卡器通信时，启动干扰器，干扰器产生的直流叠加干扰毛刺的波形通过桥式整流电路耦合到非接触智能卡与非接读卡器之间的干扰天线上，干扰天线的电磁干扰信号再干扰非接触智能卡与读卡器之间的通信。能卡与读卡器之间的通信。能卡与读卡器之间的通信。

【技术实现步骤摘要】
一种针对非接触智能卡的干扰测试方法


[0001]本专利技术涉及一种针对非接触智能卡的干扰测试方法。

技术介绍

[0002]非接触智能卡与读卡器通过频率为13.56MHz的电磁信号来完成二者之间的通信。非接触智能卡为无源卡，只能被动接收信号，非接触智能卡接收到读卡器发出的信号后，一部分信号与非接触智能卡的L/C产生谐振产生一个瞬间能量的电源信号，另一部分为数据通信信号。由于外界的电磁干扰信号需要耦合进去才能形成干扰信号，相对来说，非接触智能卡比接触智能卡的抗干扰信号要强。针对接触智能卡的抗干扰测试相对得到更多的重视，已经开发出针对接触智能卡的多种抗干扰测试方法，而业界很少有专门针对非接触智能卡的抗干扰测试方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术提出了一种针对非接触智能卡的干扰测试方法，干扰器产生的直流叠加干扰毛刺的波形加载到直流干扰输入端上，直流叠加干扰输入端与桥式整流电路的直流输出端连接。在桥式整流电路的交流输入端，外接一个用于输出非接干扰的干扰天线，干扰天线放在非接触智能卡和非接读卡器之间。当非接触智能卡与非接读卡器通信时，启动干扰器，干扰器产生的直流叠加干扰毛刺的波形通过桥式整流电路耦合到非接触智能卡与非接读卡器之间的干扰天线上，干扰天线的电磁干扰信号再干扰非接触智能卡与读卡器之间的通信，使非接触智能卡与读卡器的通信过程产生通信误码，并促使非接触智能卡的CPU产生跑飞等异常现象。
[0004]没有非接通信干扰存在时，非接触智能卡与非接读卡器的通信波形为干净的无毛刺正常通信波形。启动干扰器时，由于直流叠加干扰毛刺的波形耦合到干扰天线上，产生了对非接触智能卡与非接读卡器的通信过程的电磁干扰。
附图说明
[0005]图1为非接触智能卡与非接读卡器通信过程的通信干扰示意图
[0006]图2为非接触智能卡与非接读卡器的正常通信波形图
[0007]图3为受到干扰的非接触智能卡与非接读卡器异常通信波形图
具体实施方式
[0008]如图1所示，干扰器6产生直流叠加干扰毛刺的波形，干扰器6的直流叠加干扰毛刺的波形加载到直流干扰输入端1上，直流叠加干扰输入端1与桥式整流电路2的直流输出端连接。在桥式整流电路2的交流输入端，外接一个用于输出非接干扰的干扰天线3，干扰天线3放在非接触智能卡5和非接读卡器4之间，即非接触智能卡5的下面、非接读卡器4的上面。当非接触智能卡5与非接读卡器4通信时，启动干扰器6，干扰器6产生的直流叠加干扰毛刺
的波形通过桥式整流电路2耦合到非接触智能卡5与非接读卡器4之间的干扰天线3上，干扰天线3的电磁干扰信号再干扰非接触智能卡5与读卡器4之间的通信，使非接触智能卡5与读卡器4的通信过程产生通信误码，并促使非接触智能卡5的CPU产生跑飞等异常现象。
[0009]如图2所示，为非接触智能卡与非接读卡器的正常通信波形图，此时，由于没有非接通信干扰存在，非接触智能卡与非接读卡器的通信波形为干净的无毛刺正常通信波形。
[0010]如图3所示，为受到干扰的非接触智能卡与读卡器异常通信波形图，此时，非接触智能卡与非接读卡器之间放入了干扰天线，启动干扰器时，由于直流叠加干扰耦合到干扰天线上，非接触智能卡与非接读卡器的通信波形上叠加了一些毛刺波形，从而产生了对非接触智能卡与非接读卡器的通信过程的电磁干扰。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对非接触智能卡的干扰测试方法，其特征在于：将干扰器产生的直流叠加干扰毛刺的波形连接桥式整流电路的直流输出端，干扰天线连接桥式整流电路的交流输入端；干扰天线放在读卡器和非接触智能卡的中间；...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨利华，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：