【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测用多工位检测装置
[0001]本技术涉及测试
，具体为一种芯片检测用多工位检测装置。
技术介绍
[0002]随着电子产品的不断推陈出新，而芯片作为电子产品的核心配件，市场日趋扩大。随着电子市场的扩大，芯片的需求也越来越大，在生产过程中，检验芯片质量是否合格是保证质量的不可缺少的重要环节，现有的技术在进行测试时，无法使待测芯片准确的进入待测位置，为此我们提出一种芯片检测用多工位检测装置。
技术实现思路
[0003]本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种芯片检测用多工位检测装置，可以将待测芯片精准的送到不同的测试工位进行测试，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片检测用多工位检测装置，包括底板、输送单元和抓取单元；
[0005]底板：上表面中部安装转动单元；
[0006]输送单元：安装在底板的上表面右侧；
[0007]抓取单元：包含电机三、齿轮、齿条、活动块和机械爪，所述电机三固定连接在转动单元上，所述电...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片检测用多工位检测装置，其特征在于：包括底板(1)、输送单元(3)和抓取单元(5)；底板(1)：上表面中部安装转动单元(4)；输送单元(3)：安装在底板(1)的上表面右侧；抓取单元(5)：包含电机三(51)、齿轮(52)、齿条(53)、活动块(54)和机械爪(55)，所述电机三(51)固定连接在转动单元(4)上，所述电机三(51)的输入端通过外部控制开关组与外部电源的输出端电连接，电机三(51)的转动轴与齿轮(52)固定连接，所述活动块(54)与转动单元(4)上开设的通槽滑动连接，所述齿条(53)纵向固定连接在活动块(54)的左侧表面，所述齿条(53)与齿轮(52)啮合连接，所述机械爪(55)固定连接在活动块(54)的下端。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用多工位检测装置，其特征在于：所述输送单元(3)包含传动轴支架(31)、传动轴(32)、电机一(34)、传送带(35)、随动轴支架(36)和随动轴(37)，所述传动轴(32)的左右两端分别与传动轴支架(31)的上侧转动连接，两个传动轴支架(31)的下端分别固定连接在底板(1)的上表面前侧右部，右侧的传动轴支架(31)的右侧面上部固定连接电机一(34)，所述电机一(34)的转动轴穿过传动轴支架(31)上开设的圆孔与传动轴(32)的右端固定连接，所述电机一(34)的输入端通过外部控制开关组与外部电源的输出端电连接，所述随动轴(37)的左右两端分别与随动轴支架(36)上侧转动连接，两个随动轴支架(36)的下端固定连接在底板(1)的上表面后侧右部，所述随动轴(37)与传动轴(32...
【专利技术属性】
技术研发人员：殷国海，刘振华，杨峰，张豹，
申请(专利权)人：江苏求是缘半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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