本发明专利技术涉及尘埃粒子检测技术领域，公开了一种尘埃粒子检测装置，包括：壳体，壳体内形成有测量腔，且壳体上设置有连通于测量腔的出射口；衰减部，连接于所述壳体上；衰减部包括：衰减筒，连通于测量腔，用于限制进入到衰减筒内的激光杂散光反射回所述测量腔内；衰减片，用于吸收并反射由测量腔进入到衰减部内的激光杂散光；消散盖，设置于壳体上，用于吸收由衰减片反射的激光杂散光。本发明专利技术的尘埃粒子检测装置，其衰减部可吸收大量的激光杂散光，有效阻止激光杂散光返回到测量腔，提高了检测结果的准确性。准确性。准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种尘埃粒子检测装置
[0001]本专利技术涉及尘埃粒子检测
，特别是涉及一种尘埃粒子检测装置。
技术介绍
[0002]空气中的微粒在光的照射下会发生散射，这种现象叫光散射，光散射和微粒大小、光波波长、微粒折射率及微粒对光的吸收特性等因素有关。尘埃粒子计数器的具体工作原理：来自光源的光线被透镜组聚焦于测量腔内，当空气中的每一个粒子快速地通过测量腔时，便把入射光散射一次，形成一个光脉冲信号。这一光信号经过透镜组2被送到光检测器，正比地转换成电脉冲信号，再经过仪器电子线路的放大、甄别，拣出需要的信号，通过计数系统显示出来。
[0003]检测气体粒子腔室是尘埃粒子计数器等类似仪器中必不可少的一个结构部分，用于测量洁净环境中单位体积内尘埃粒子数和粒径分布，包含该结构的仪器可广泛应用于为各省市药检所、血液中心、防疫站、疾控中心、质量监督所等权威机构、电子行业、制药车间、半导体、光学或精密机械加工、塑胶、喷漆、医院、环保、检验所等生产企业和科研部门。
[0004]但是现有的尘埃粒子检测装置仍然存在一定的不足，首先，尘埃粒子计数器通过激光照射到被检测气体，由于粒子的遮挡，在两个反光镜处发生散射和折射，其余平行激光照射进入到衰减片上，发生镜面反射进而衰减掉，但是由于激光不全是平行光线照射到衰减片，导致光线在衰减片附近反复发生折射，最终导致这部分激光杂散光再次进入到腔室照射被检测气体中的粒子，出现检测粒子的假阳性偏多的现象，影响粒子计数器的灵敏度；如果在衰减片位置增加格挡的方式(例如增加阻止反射光进入腔室的方式)，会直接或间接阻碍反光镜的聚光作用，减弱聚光点的光强度，检测粒子的数量减少，因此，现有的尘埃粒子检测装置对激光杂散光处理不彻底，检测结果的准确性不高。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供一种尘埃粒子检测装置，以解决现有检测装置对激光杂散光处理不彻底，影响检测结果准确性的问题。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术提供了一种尘埃粒子检测装置，包括：壳体，所述壳体内形成有测量腔，且所述壳体上设置有连通于所述测量腔的出射口；衰减部，连接于所述壳体上；所述衰减部包括：衰减筒，连通于所述测量腔，用于限制进入到所述衰减筒内的激光杂散光反射回所述测量腔内；衰减片，用于吸收并反射由所述测量腔进入到所述衰减部内的激光杂散光；消散盖，设置于所述壳体上，用于吸收由所述衰减片反射的激光杂散光。
[0007]优选的，所述衰减筒包括：筒体；缩口结构，连接于所述筒体，伸入到所述出射口内。
[0008]优选的，所述缩口结构的一端延伸至所述筒体内，且所述缩口结构的另一端延伸至所述测量腔内。
[0009]优选的，所述缩口结构的径向截面的直径小于所述筒体结构的径向截面的直径。
[0010]优选的，所述衰减片相交于所述出射口所在的面；所述消散盖相交于所述衰减片所在的面，且垂直于所述消散盖所在面的方向与所述衰减片的法线方向之间的夹角，与垂直于所述出射口所在面的方向与所述衰减片的法线方向之间的夹角相同；所述消散盖和所述出射口均对应于所述衰减片设置。
[0011]优选的，还包括：基座，设置于所述壳体上，且所述衰减片设置于所述基座和所述衰减筒之间。
[0012]优选的，所述壳体上设置有安装部，所述衰减筒和所述衰减片均设置于所述安装部内，至少部分所述基座设置于所述安装部内。
[0013]优选的，所述壳体上设置有消散通道，所述衰减筒上设置有消散口，所述消散盖上设置有吸收槽；所述消散通道、所述消散口和所述吸收槽的几何中心线均处于同一直线上；所述衰减筒内壁设置有消光层。
[0014]优选的，所述壳体上还设置有连通于所述测量腔的进气口、出气口和进射口；所述进射口与所述出射口对应设置；所述尘埃粒子检测装置还包括：反光镜，连接于所述壳体，且设置于所述测量腔内；粒子计数器，与所述反光镜相对设置；激光器，设置于所述壳体上，且所述激光器的发射端对应所述进射口设置。
[0015]优选的，所述反射镜包括第一反射镜和第二反射镜，所述粒子计数器包括第一粒子计数器和第二粒子计数器；所述第一反射镜和所述第二反射镜相对设置，所述第一粒子计数器和所述第二粒子计数器相对设置；所述第一粒子计数器连接于所述第二反光镜上，且所述第一粒子计数器的检测端对应所述第二反光镜的透过部设置；所述第二粒子计数器连接于所述第一反光镜上，且所述第二粒子计数器的检测端对应所述第一反光镜的透过部设置；所述进气口和所述出气口上均设置有安装接头。
[0016]本专利技术实施例一种尘埃粒子检测装置与现有技术相比，其有益效果在于：衰减部可大量吸收激光杂散光，阻止激光杂散光返回测量腔室，提高了检测结果的准确性。
附图说明
[0017]图1是本专利技术实施例尘埃粒子检测装置结构的正视图；
[0018]图2是本专利技术实施例尘埃粒子检测装置结构的右视图；
[0019]图3是本专利技术实施例尘埃粒子检测装置结构的左视图；
[0020]图4是本专利技术实施例尘埃粒子检测装置结构的俯视图；
[0021]图5是本专利技术实施例尘埃粒子检测装置衰减筒的结构图；
[0022]图6是本专利技术实施例尘埃粒子检测装置衰减筒结构的剖视图之一；
[0023]图7是本专利技术实施例尘埃粒子检测装置衰减筒结构的剖视图之一。
[0024]图中，1、壳体；
[0025]2、衰减筒；
[0026]3、衰减片；
[0027]4、消散盖；
[0028]5、基座；
[0029]6、第一反光镜；
[0030]7、第二反光镜；
[0031]8、第一粒子计数器；
[0032]9、第二粒子计数器；
[0033]10、激光器；
[0034]11、进气口；
[0035]12、出气口；
[0036]13、进气口接头；
[0037]14、出气口接头；
[0038]15、测量腔。
具体实施方式
[0039]下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。
[0040]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0041]术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0042]在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种尘埃粒子检测装置，其特征在于，所述装置包括：壳体，所述壳体内形成有测量腔，且所述壳体上设置有连通于所述测量腔的出射口；衰减部，连接于所述壳体上；所述衰减部包括：衰减筒，连通于所述测量腔，用于限制进入到所述衰减筒内的激光杂散光反射回所述测量腔内；衰减片，用于吸收并反射由所述测量腔进入到所述衰减部内的激光杂散光；消散盖，设置于所述壳体上，用于吸收由所述衰减片反射的激光杂散光。2.根据权利要求1所述的尘埃粒子检测装置，其特征在于，所述衰减筒包括：筒体；缩口结构，连接于所述筒体，伸入到所述出射口内。3.根据权利要求2所述的尘埃粒子检测装置，其特征在于，所述缩口结构的一端延伸至所述筒体内，且所述缩口结构的另一端延伸至所述测量腔内。4.根据权利要求2所述的尘埃粒子检测装置，其特征在于，所述缩口结构的径向截面的直径小于所述筒体结构的径向截面的直径。5.根据权利要求1所述的尘埃粒子检测装置，其特征在于，所述衰减片相交于所述出射口所在的面；所述消散盖相交于所述衰减片所在的面，且垂直于所述消散盖所在面的方向与所述衰减片的法线方向之间的夹角，与垂直于所述出射口所在面的方向与所述衰减片的法线方向之间的夹角相同；所述消散盖和所述出射口均对应于所述衰减片设置。6.根据权利要求1所述的尘埃粒子检测装置，其特征在于，还包括：基座，设置于所述壳体上，且所述衰减片设置于所述基座和所述衰减筒之间。7.根据权利要求6所述的尘埃粒...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘杰，茹敬会，闫庆鹏，范海悦，赵斌，
申请(专利权)人：麦克微尔天津科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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