一种激光侦听器波长测量实验装置及其实验方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种激光侦听器波长测量实验装置及其实验方法，实验测量装置包括光学导轨、若干二维滑座、激光器、偏振光片组、扩束镜、比累对切透镜、测微目镜以及白屏；实验方法依次包括调节等高共轴、调出清晰的干涉条纹、测量参考光源的干涉条纹以及测量待测光源的干涉条纹。本发明专利技术的有益效果：本发明专利技术将比累对切透镜应用于激光侦听器的波长测量，通过测量干涉条纹间距，得到比累对切透镜切去部分宽度，从而计算出激光波长；实验操作简便，测量准确，精度较高，同时，对该实验装置进一步改进完善后，还可用于犯罪现场勘查中对多波段光源所产生的特定波长单色光进行检验，操作简便，测量精度高，可大面积推广应用。可大面积推广应用。可大面积推广应用。

【技术实现步骤摘要】
一种激光侦听器波长测量实验装置及其实验方法


[0001]本专利技术涉及实验设备
，具体为一种激光侦听器波长测量实验装置及其实验方法。

技术介绍

[0002]激光侦听器在实战中发挥了重要的作用，该设备对接收到的反射激光进行光电检测，通过滤波、功率放大等步骤解析出声信号，从而实现远程监听和声源定位的功能。
[0003]半导体激光器是一种比较敏感的器件，在使用过程中由于环境和驱动电源等因素的影响可能会导致波长发生漂移。有研究表明，在电流恒定的情况下，当温度升高时半导体激光器输出波长会变大，变化量约为0.1
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0.2nm/℃。作为激光侦听器的核心部件，半导体激光器的发射功率和发射波长稳定性直接决定了激光侦听器的实战效果。特别是激光发射器的发射波长，与激光侦听器中解析环节的检波、滤波、调制解调、功放等电子器件的工作频率息息相关，只有工作频率相互匹配时，才能实现最佳的侦听效果。
[0004]在实战中，随着激光侦听器长时间工作或使用寿命的增长，受自身温度和外界环境等因素的影响，半导体激光器的发射波长总会发生一定的偏移，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光侦听器波长测量实验装置，基于比累对切透镜，其特征在于：所述激光侦听器波长测量实验装置包括光学导轨、若干二维滑座、激光器、偏振光片组、扩束镜、比累对切透镜、测微目镜以及白屏；所述光学导轨正面设有长刻尺，底部两端设有升降调节座；若干所述二维滑座可左右移动的设在所述光学导轨上；所述激光器、偏振光片组、扩束镜、比累对切透镜以及测微目镜分别设在若干所述二维滑座上；所述激光器包括作为参考光源的氦氖激光器和作为待测光源的半导体激光器。2.根据权利要求1所述的激光侦听器波长测量实验装置的实验方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)调节等高共轴。将波长为532.0nm的半导体激光器和白屏放置于长度为1.5m的光学导轨上，打开半导体激光器，沿导轨移动白屏，调节激光方向，直至在整根导轨上移动白屏时激光光点均落在白屏小孔上，此时半导体激光束平行于光学导轨；将半导体激光器拿下，放上波长为632.8nm的氦氖激光器，重复上述操作步骤，使氦...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓春，李文姝，
申请(专利权)人：中国刑事警察学院，
类型：发明
国别省市：