一种射电波波长测量装置和射电波波长测量方法制造方法及图纸

本公开涉及一种射电波波长测量装置和射电波波长测量方法。其中，射电波波长测量装置包括第一波源、第二波源、探测器、圆形金属膜、距离调节器和信号处理器；探测器、圆形金属膜、第一波源和第二波源沿预设方向依次布设；第一波源和第二波源为相干波源；距离调节器用于调节第一波源与圆形金属膜之间的距离、第二波源与圆形金属膜之间的距离以及探测器与圆形金属膜之间的距离；探测器用于接收第一波源和第二波源的发射信号绕过圆形金属膜形成的泊松亮斑信号；信号处理器与探测器连接，信号处理器用于将泊松亮斑信号转换成直流电压信号。本公开技术方案采用上述射电波波长测量装置，能够使用泊松亮斑相干方法实现波长的测量。够使用泊松亮斑相干方法实现波长的测量。够使用泊松亮斑相干方法实现波长的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种射电波波长测量装置和射电波波长测量方法


[0001]本公开涉及波长测量领域，尤其涉及一种射电波波长测量装置和射电波波长测量方法。

技术介绍

[0002]在实验教学中，测量可见光波长有迈克尔逊干涉仪、光栅和杨氏双缝等实验，而可见光的泊松亮斑实验一般局限于显示效果，难以定量测量波长。另外，微波实验中有驻波法测量波导中微波波长的实验，没有泊松亮斑的演示实验，更没法使用泊松亮斑来测量波长。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种射电波波长测量装置和射电波波长测量方法。
[0004]本公开提供了一种射电波波长测量装置，包括第一波源、第二波源、探测器、圆形金属膜、距离调节器和信号处理器；
[0005]所述探测器、所述圆形金属膜、所述第一波源和所述第二波源沿预设方向依次布设；
[0006]所述第一波源和所述第二波源为相干波源；所述距离调节器用于沿所述预设方向调节所述第一波源与所述圆形金属膜之间的距离、所述第二波源与所述圆形金属膜之间的距离以及所述探测器与所述圆本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射电波波长测量装置，其特征在于，包括第一波源、第二波源、探测器、圆形金属膜、距离调节器和信号处理器；所述探测器、所述圆形金属膜、所述第一波源和所述第二波源沿预设方向依次布设；所述第一波源和所述第二波源为相干波源；所述距离调节器用于沿所述预设方向调节所述第一波源与所述圆形金属膜之间的距离、所述第二波源与所述圆形金属膜之间的距离以及所述探测器与所述圆形金属膜之间的距离；所述探测器用于接收所述第一波源和所述第二波源的发射信号绕过所述圆形金属膜形成的泊松亮斑信号；所述信号处理器与所述探测器连接，所述信号处理器至少用于将所述泊松亮斑信号转换成直流电压信号。2.根据权利要求1所述的射电波波长测量装置，其特征在于，所述第一波源的中心、所述第二波源的中心、所述探测器的中心和所述圆形金属膜的圆心位于一条直线上，所述圆形金属膜所在平面与所述直线垂直。3.根据权利要求1所述的射电波波长测量装置，其特征在于，所述第一波源为第一发射天线，所述第二波源为第二发射天线，所述探测器为探测天线。4.根据权利要求3所述的射电波波长测量装置，其特征在于，所述第一发射天线、所述第二发射天线和所述探测天线均为半波振子天线。5.根据权利要求4所述的射电波波长测量装置，其特征在于，所述第一发射天线、所述第二发射天线和所述探测天线的长度方向相同。6.根据权利要求1至5任一项所述的射电波波长测量装置，其特征在于，所述距离调节器包括标有刻度的导轨，所述导轨沿所述预设方向延伸，所述第一波源和所述第二波源能够沿所述导轨移动。7.根据权利要求3所述的射电波波长测量装置，其特征在于，所述射电波波长测量装置还包括射频信号源、转接头、第一射频功放和第二射频功放；所述射频信号源的输出端与所述转接头的输入端连接，所述转接头的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵诗华，冯锋，赵贤觉，李知宇，高丽媛，杜炳毅，陈婷婷，胡江宇，薛宽，
申请(专利权)人：中国矿业大学北京，
类型：发明
国别省市：