分析仪器、装置和方法制造方法及图纸

一种样本分析装置（１０）包括处理回路（２２），其被耦接到数据集设备（２０）和存储设备（２４），以根据一个分析参数设置从分析部件（１４）获取一个数据集，并利用先前获得的另一数据集来准备另一分析参数设置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】本申请要求2005年4月25日^it的、题目为AnalyticalInstrumentation and Analytical Processes的美国临时专利申请No. 60/675^40的^U5L，该专利申请文件4^ft为参考^H^此。 M领域^/iHH殳计分析仪器、M和方法。更*的实施例包括质^^析仪器、 装置和方法。 背景脉目前，分析仪器通常包括分析制4W^^接到处^^制辦的糊，J部供械而对分析进行控制的计#^的形式。例如，城it^析仪i的情:下，处3^ ^制*可^^!，^^提##^;|^:, i^a给电子，器的电压^a/或电子，a^^到接it^关闭l同样地，处igjNt制部件也可以提供离子化能 量、离子化时间、扫描范围和/或波形形式的分析制^H^It通常，由处理 和控制^Hfil些械下栽到这些耕，并J^用这些^Wt^得数据集。在解释所获得的数据集后，仪器的,者可能感觉到需要重新定义某些^lt、下^it些^lit并获得额外的^:据集。本专利技术4^供了分析仪器和分析处理，它们在某些实施例中在分析期间提供 对分析辦械的动綈正。
技术实现思路
^Hf了样本分析装置，其可以包^S&置^A^^个^^斤Wi&j:配置 的分析辦中获取一个数据集，并利用另一先前获得的数据集制备另一分析参数M的处理回路。f了样本分析方法，其可以包括M^^第一分析部件^I^U配置的分析部件中获取第--^第_=^据集，该第一分析部件^^^^y^接到分析部件的处3S^控制部件提^^析部件。样本分析方法可以还包树'J用处iS^制6^Mu^理第一数据集，从而制备第二分析*#|^0:。^^了样本分析仪器，其可包:fe^接到分析W的处^t制耕，其中处3g^控制部件包^i^接到^i殳备的处理回路。该仪器的^i殳4可以还包 括与数据#^:働目关的分析部件#^设置，其中分析部件^^设置中的单独一 个与数据^:值的单独一个相关，仪器的处理回路可 己狄处理数据集并利 用该数据集的数据^WuMf^i殳备中选择分析部件^lt&^。 附图说明以下多^考下面的附图^M^^^Hf的实施刺。 图l ^1#^个实施例的^^斤仪器。图2是##^//^一个方面的质^#^析仪器的一个实施例。 图3是才Mt4^Hf—个方面的质iM析仪器的一个实施例。 图4描绘了才NM^^f的方面配置的质^^析仪器。 图5描绘了#^^^的方面配置的质^#^析仪器。 图6描绘了才Mt4^Hf配置的分析^ff^^iU。 图7^^i^;2M^f的仪器的方块图。图8 个实^fe例的^。图9是才Mt个实施例的^。图10^^W个实^fe例的it^的一^P分。图ii >1#4^个实施例的图io的ii^的另^分。图12是##-个实施例的^^呈'图13是#^个实施例的处理的4分。图14是#^个实施例的图13的it^的另^P分。图15描绘了才Mt4^Hf配置的^^f^NNtiU。参考图l-15描述分才/f^置、仪器和方法的实^fe例。首先参考图1，仪器10被显示为包:fe^接到分析部降13的处S^制部 件12。例如，仪器10可^^ ^用于分析的样本18并在分#1^本18后提样本18可以是^f可已知的和/或未知的化学成分。例如，样本18可以是包 括固态、液态和/或气态的无^Mp有^^质的任何化学成分。##本专利技术的适于分析的样本18的^^例子包括挥发性^^, *曱苯，或者糾的示例包括 高>^杂基于一^#发性蛋白质的结构(highly-complex non-volatile protein based structure), iH^Jit在某些方面，样本18可以是含有不止一种物质的混 杨，或者在雞方面中，样本18可以;U^上纯净的物质。仪器10可以;U2^^M处S^制W 12和分析W 13的《^T仪器。 这包^^备有妙錢离子^^'J器、紫外可见光(UV-vis)糊'J器、传导探 测器、M卜(IR)糊'j器和/^H鹏'谱这样的糊'J器的用于化学分析、* ^目或斜目色^^析的分才/f^置。仪器10可按2005年7月13日奴的、题目 为Mass Spectrometer Assemblies, Mass Spectrometry Vacuum Chamber Lid Assemblies, and Mass Spectrometer Operational Methods的美国专利申请系歹'J 号为10/542,817中所描述的进^S&置，所述专利申请4^ft为参考结^此。 仪器10同样可按2005年10月20日提交的、题目为Mass Spectrometiy Instruments and Methods的美国专利申请系列号为10/554,039中所描述的进行 配置，所述专利申请dNp作为参考结^此。作为另 例，仪器10可按2005 年6月13日4I^的、题目为Analytical Instruments, Assemblies, and Methods 的国际专利申请系列号为PCT/US05/20783中戶糊述的进根i置，所述专利申 t4^Mt为^^考结合于此。仪器10可包^^接到处3s^制W 12的分析部 件13。分析部件13包^^接到处S^制辦的鄉'〗辦16。鄉，J耕16可包 括质i棘、烦离子4鹏，J器、热传导鄉，J器、热离子鄉，谱、电子捕获御寸 器^^子iUt^，J器。#卜，鄉，^j^ 16可包4^及Jj^'J器，^tn紫外吸收探 测器、荧i^'j器、电化学鄉'J器、折射W^器、传导糊'J器、傅里叶变换 ^卜光iti十、光^fe^!，J器、光离子4^i!，j器和/或^L管阵列糊，J器。糊，J部 件16可以^f、子光^^!'j器、it^光il^^器、^#磁^#光##^器。示例 性的糊'J^f包括在美国专利申请系列号为10/537,019、题目为Processes for Designing Mass Separators and Ion IVaps， Methods for Producing Mass Separators and Ion TYaps， Mass Spectrometers, Ion TVaps， and Methods for Analyzing SamPles中所描述的那些部降，该专利申请^作为参考结^此。 附加的探测部件包括在2004年9月3日提交的国际专利系列号为 PCT/US04/29127、才示^j^ Ion Detection Methods, Mass Spectrometiy AnalysisMethods, and Mass Spectrometry Instrument Circuitry中描述的那些Ms该专 利申请4^作为参考结^此。如果需要，分析部件13还可包括分析制4W 14。例如，分析帝MW 14可包括色镨、衍生和/或吹扫捕集(purge and trap)艘。示例性分析制备 部件包括在2005年6月30日提交的、题目为Spectrometry Instruments, Assemblies and Methods的美国专利申请系列号为11/173^263中所描述的那些， 该专利申请4^Mt为参考结衬此。分析部件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种样本分析装置，包括处理回路，被配置为从根据一个分析参数设置配置的分析部件获取一个数据集，并利用先前获取的另一数据集制备另一分析参数设置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2005-4-25 60/675,3401、一种样本分析装置，包括处理回路，被配置为从根据一个分析参数设置配置的分析部件获取一个数据集，并利用先前获取的另一数据集制备另一分析参数设置。2、 iwMi漆求i的装置，其中处理回5^ge^A同时获^^斤述一个数据集 賴备所述另 一分析沐 。3、 fc^U'漆求1的装置，其中处理回^分析*连接。4、 ftwM']^求3的装置，其中分析*包含质^^*。5、 ^5^'j^求4的装置，其中质#^*包括离子源部降、离子传送门部件、质量分析仪W^^部件中一个或多个。6、 :H5U'漆求5的装置，其中质il^辦包括第—第二离子传送门^ff 和第^第二质量分析仪耕。7、 H5U'JJ^求5的装置，其中质量分析仪W包括圆柱离子阱。8、 ^，J^求5的装置，其中所述离子源部降、离子传送门^H^质量分 析仪部件中的一个或多个可^Si置^^所述一个分析^lfciU为^l'Hl^提 #^析物离子，并才NI所述另一分析^lti5^t其重新配置。9、 H5U'J^求8的装置，其中^ltiU包括离子门位置^^:、俘获RF幅 度M、聚焦DC幅度^lgt^pi!'J器功率^l!t中一个或多个。10、 fc^'J^求l的^JL其中处理回路进一^S己置成利用^^I于获取 !^据集的分析^!W^tlt据集进行定标。11、 J^ij要求10的M，其中分析l^bi线包括门控械，并J^'J用所 述门控Wfc^数据集进行定标。12、 ft^U'J要求l的装置，其中通itl^^斤述另一数据集的数据集^^并 将所述数据集錄与阈值量进行rt^制备所述另 一分析沐U。13、 如拟'决求12的装置，其中数据集^lfcUt据集的总分析物离子丰度。14、 ^U'J要求12的装置，其中阈值量AJi限量。15、 ^U'J^求14的装置，其中所述tb^i—步包括确^^iiJi限量并存 衞亥超过。16、 H5U'涹求15的M，其中通过》b^斤^W超过与超it^大iM^i一步制备所述另 一分析Wti5^。17、 iwM'虔求15的装置，其中lt据集^liby^据集的总离子流，并Jii 过判断所ii^过大于上极P艮并减小所述一^h^析^t设置的离子化时间M以 形成所述另 一分析沐U来制备所述另吵析鍵組18、 H5U'J要求12的装置，其中阈值量是下限量。19、 M5U，澳求18的装置，其中所述H^i—步包括确定下限量的不足并 ^i亥不足。20、 d^'溪求19的M，其中通过》b^斤^f^不足与不;^L大it^Mi 一步制备所述另 一分析^I^M。21、 dH5U'漆求19的叙，其中所述数据集^I^Ot据集的总离子流，并 JJt过判断所述不足大于下极限并增;^斤述一个分析^lt集的离子4匕时间^lt 而形成所述另 一分析M^UIt制备所述另 一分析#| 。22、 一种样本分才彷法，缺W娥第一分析部件^l^t^配置的分析部件获取第—第《=^据集，其 中所i^一分析部件^lti0^yj^接到分析部件的处S^制部件提^^析W;和利用处^N^制辦处理第一数据集从而制备第二分析部件^tiU。23、 h3u，J^求22的方法，其中在获...

【专利技术属性】
技术研发人员：B拉迪恩，JM威尔斯，GE帕特森，
申请(专利权)人：格里芬分析技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]