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一种样本分析装置（１０）包括处理回路（２２），其被耦接到数据集设备（２０）和存储设备（２４），以根据一个分析参数设置从分析部件（１４）获取一个数据集，并利用先前获得的另一数据集来准备另一分析参数设置。...
该专利属于格里芬分析技术有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过格里芬分析技术有限责任公司授权不得商用。

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