一种千分尺制造技术

本实用新型专利技术涉及千分尺技术领域，尤其涉及一种千分尺，包括尺架和分别设置在尺架上的测砧和测微螺杆，所述测砧上设有第一夹持板，所述测微螺杆上设有第二夹持板，所述第一夹持板与所述第一止挡片接触时，所述第一夹持面与所述测砧靠近所述测微螺杆一端的端面位于同一平面；所述测微螺杆靠近所述测砧的一端设有活动部，所述第二夹持板与靠近所述测砧的一端的所述第二止挡片接触时，所述第二夹持面与所述测微螺杆靠近所述测砧一端的端面位于同一平面。对大面积的待测量物进行测量时，无需拆装更换测砧和测微螺杆的检测头，避免了拆装误差对测量精度产生影响。对测量精度产生影响。对测量精度产生影响。

【技术实现步骤摘要】
一种千分尺


[0001]本技术涉及千分尺
，尤其涉及一种千分尺。

技术介绍

[0002]千分尺又称螺旋测微器、分厘卡，是由尺架、测砧、测微螺杆、止动旋钮、精密螺杆、可动刻度、粗调旋钮和微调旋钮组成。测量时，将测量物的测量面放置在测砧和测微螺杆之间，测砧和测微螺杆并拢时使测砧和测微螺杆的面正好接触测量面的两端，就可以从千分尺的刻度上读出测量面的测量数值。由于现有的带夹持的千分尺只能夹持体积较小的物体，需要工作人员手动扶持，较麻烦，所以现在市面上出现了很多可拆卸更换不同尺寸的测砧的头部和测微螺杆的头部以适配较大夹持面，然而由于更换安装时，容易出现安装不到位等情况，则会影响千分尺的测量精度。

技术实现思路

[0003]为了克服上述现有技术的缺陷，本技术所要解决的技术问题是提供一种能够调节夹持面的千分尺。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：提供的一种千分尺，包括尺架和分别设置在尺架上的测砧和测微螺杆，所述测砧和测微螺杆相对设置，所述测砧上设有第一夹持板，所述测微螺杆上设有第二夹持板；
[0005]所述第一夹持板设有与所述测砧活动连接的第一连接孔，所述测砧靠近所述测微螺杆的一端设有第一止挡片，所述第一夹持板靠近所述测微螺杆的一端设有凸起的第一夹持面，所述第一夹持板与所述第一止挡片接触时，所述第一夹持面与所述测砧靠近所述测微螺杆一端的端面位于同一平面；
[0006]所述测微螺杆靠近所述测砧的一端设有活动部，所述活动部的两端均设有第二止挡片，所述第二夹持板设有与所述测微螺杆的活动部活动连接的第二连接孔，所述第二夹持板靠近所述测砧的一端设有凸起的第二夹持面，所述第二夹持面与所述第一夹持面正对设置；所述第二夹持板与靠近所述测砧的一端的所述第二止挡片接触时，所述第二夹持面与所述测微螺杆靠近所述测砧一端的端面位于同一平面。
[0007]进一步的，所述测砧远离所述测微螺杆的一端至所述第一止挡片之间的位置上设有第一螺纹，所述第一夹持板的第一连接孔设有与所述第一螺纹相适配的第二螺纹；
[0008]所述测微螺杆的活动部设有第三螺纹，所述第二夹持板的第二连接孔设有与所述第三螺纹相适配的第四螺纹。
[0009]进一步的，所述第一夹持板的第一夹持面和所述第二夹持板的第二夹持面上均设有橡胶层。
[0010]进一步的，所述橡胶层的表面上设有波纹纹路。
[0011]进一步的，所述第一夹持板和第二夹持板的外轮廓均呈矩形，且所述第一夹持板和第二夹持板分别与所述尺架的开口对应的端面相齐平。
[0012]进一步的，所述第一夹持板和第二夹持板的外轮廓均呈圆形，且所述第一夹持板和第二夹持板分别与所述尺架的开口对应的端面相齐平。
[0013]进一步的，所述活动部两端之间的长度为10mm。
[0014]本技术的有益效果在于：提供一种千分尺，通过设置与所述测砧活动连接的第一夹持板和与测微螺杆活动连接的第二夹持板，需要增加对待测量物的夹持面时，通过调节所述第一夹持板至所述第一夹持面与所述测砧靠近所述测微螺杆一端的端面位于同一平面，从而增加测砧端的夹持面大小；以及调节所述第二夹持板上的第二夹持面与所述测微螺杆靠近所述测砧一端的端面位于同一平面，从而增加测微螺杆的夹持面大小，在对大面积的待测量物进行测量时，无需拆装更换测砧和测微螺杆的检测头，避免了拆装误差对测量精度产生影响。
附图说明
[0015]图1所示为本技术一种千分尺的结构示意图；
[0016]图2所示为本技术一种千分尺的实施例二的结构示意图；
[0017]标号说明：
[0018]1、尺架；2、测砧；21、第一止挡片；22、第一螺纹；3、测微螺杆；31、第二止挡片；32、第三螺纹；4、第一夹持板；41、第一夹持面；5、第二夹持板；51、第二夹持面。
具体实施方式
[0019]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0020]请参照图1至图2所示，本技术提供的一种能够调节夹持面的千分尺。
[0021]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：提供的一种千分尺，包括尺架和分别设置在尺架上的测砧和测微螺杆，所述测砧和测微螺杆相对设置，所述测砧上设有第一夹持板，所述测微螺杆上设有第二夹持板；
[0022]所述第一夹持板设有与所述测砧活动连接的第一连接孔，所述测砧靠近所述测微螺杆的一端设有第一止挡片，所述第一夹持板靠近所述测微螺杆的一端设有凸起的第一夹持面，所述第一夹持板与所述第一止挡片接触时，所述第一夹持面与所述测砧靠近所述测微螺杆一端的端面位于同一平面；
[0023]所述测微螺杆靠近所述测砧的一端设有活动部，所述活动部的两端均设有第二止挡片，所述第二夹持板设有与所述测微螺杆的活动部活动连接的第二连接孔，所述第二夹持板靠近所述测砧的一端设有凸起的第二夹持面，所述第二夹持面与所述第一夹持面正对设置；所述第二夹持板与靠近所述测砧的一端的所述第二止挡片接触时，所述第二夹持面与所述测微螺杆靠近所述测砧一端的端面位于同一平面。
[0024]从上述描述可知，本技术的有益效果在于：提供一种千分尺，通过设置与所述测砧活动连接的第一夹持板和与测微螺杆活动连接的第二夹持板，需要增加对待测量物的夹持面时，通过调节所述第一夹持板至所述第一夹持面与所述测砧靠近所述测微螺杆一端的端面位于同一平面，从而增加测砧端的夹持面大小；以及调节所述第二夹持板上的第二夹持面与所述测微螺杆靠近所述测砧一端的端面位于同一平面，从而增加测微螺杆的夹持
面大小。在对大面积的待测量物进行测量时，无需拆装测砧和测微螺杆，避免了拆装误差对测量精度产生影响。
[0025]进一步的，所述测砧远离所述测微螺杆的一端至所述第一止挡片之间的位置上设有第一螺纹，所述第一夹持板的第一连接孔设有与所述第一螺纹相适配的第二螺纹；
[0026]所述测微螺杆的活动部设有第三螺纹，所述第二夹持板的第二连接孔设有与所述第三螺纹相适配的第四螺纹。
[0027]从上述描述可知，所述第一夹持板和所述第二夹持板均通过螺旋的方式调节行程。
[0028]进一步的，所述第一夹持板的第一夹持面和所述第二夹持板的第二夹持面上均设有橡胶层。
[0029]从上述描述可知，所述第一夹持板的第一夹持面和所述第二夹持板的第二夹持面上均设有橡胶层，在进行测量时，所述第一夹持面和所述第二夹持面可以同归橡胶层增加夹持面与待测量物的测量面之间的摩擦力，保证夹持稳定，降低手持测量的难度。
[0030]进一步的，所述橡胶层的表面上设有波纹纹路。
[0031]从上述描述可知，波纹纹路能够防止橡胶层表面与待测量物的测量面之间产生侧滑。
[0032]进一步的，所述第一夹持板和第二夹持板的外轮廓均呈矩形，且所述第一夹持板和第二夹持板分别与所述尺架的开口对应的端面相齐平。
[0033]从上述描述可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种千分尺，包括尺架和分别设置在尺架上的测砧和测微螺杆，所述测砧和测微螺杆相对设置，其特征在于，所述测砧上设有第一夹持板，所述测微螺杆上设有第二夹持板；所述第一夹持板设有与所述测砧活动连接的第一连接孔，所述测砧靠近所述测微螺杆的一端设有第一止挡片，所述第一夹持板靠近所述测微螺杆的一端设有凸起的第一夹持面，所述第一夹持板与所述第一止挡片接触时，所述第一夹持面与所述测砧靠近所述测微螺杆一端的端面位于同一平面；所述测微螺杆靠近所述测砧的一端设有活动部，所述活动部的两端均设有第二止挡片，所述第二夹持板设有与所述测微螺杆的活动部活动连接的第二连接孔，所述第二夹持板靠近所述测砧的一端设有凸起的第二夹持面，所述第二夹持面与所述第一夹持面正对设置；所述第二夹持板与靠近所述测砧的一端的所述第二止挡片接触时，所述第二夹持面与所述测微螺杆靠近所述测砧一端的端面位于同一平面。2.根据权利要求1所述一种千分尺，其特征在于，所述测砧远...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯腾兴，周瑞千，黄义为，
申请(专利权)人：安正计量检测有限公司，
类型：新型
国别省市：