本实用新型专利技术公开了一种用于检测外径千分尺示值误差的装置，属于量具检测技术领域。所述用于检测外径千分尺示值误差的装置包括底座、圆筒和锁紧座，所述圆筒和锁紧座分别与底座固定连接；圆筒为空心，内部设有测砧；所述测砧与圆筒之间为滑动连接，圆筒的上方设有紧固螺钉；所述锁紧座为圆环形卡环，锁紧座上设有第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉。本实用新型专利技术使用小量块即可完成外径千分尺的示值误差的检测，结构简单，使用方便，成本低，检测效率高，携带方便，检测精度高。检测精度高。检测精度高。
【技术实现步骤摘要】
一种用于检测外径千分尺示值误差的装置
[0001]本技术涉及一种用于检测外径千分尺示值误差的装置，属于量具检测
技术介绍
[0002]外径千分尺是用来测量长度、直径、厚度等几何量尺寸的计量器具，广泛应用于各行各业中。为保证外径千分尺测量的准确性，需定期对其进行示值误差检测。
[0003]现有外径千分尺示值误差的检测方法普遍使用大尺寸量块进行检测，由于量块尺寸越大，制造误差也相应的增大，就会导致检测精度偏低；并且大尺寸量块的造价高，使用也不方便；还有的外径千分尺示值误差的检测方法是将几个小量块组装成一个大量块，这样容易造成综合误差较大，组装操作起来非常不方便，检测效率低，检测不精确。
技术实现思路
[0004][技术问题][0005]本技术要解决的问题是：现有外径千分尺示值误差的检测精度偏低，检测成本高，使用不方便，综合误差较大，检测效率低。
[0006][技术方案][0007]本技术提供了一种用于检测外径千分尺示值误差的装置，适用于外径千分尺示值误差的检测，其结构简单，使用方便，成本低，检测效率高。
[0008]所述用于检测外径千分尺示值误差的装置包括底座、圆筒和锁紧座，所述圆筒和锁紧座分别与底座固定连接；圆筒为空心，内部设有测砧；所述测砧与圆筒之间为滑动连接，圆筒的上方设有紧固螺钉；所述锁紧座为圆环形卡环，锁紧座上设有第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉。
[0009]在本技术的一种实施方式中，所述测砧为长条形，测砧靠近锁紧座的一端为球面。
[0010]在本技术的一种实施方式中，所述测砧的长度大于圆筒的长度。
[0011]在本技术的一种实施方式中，所述第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉之间的夹角为120
°
。
[0012]在本技术的一种实施方式中，所述紧固螺钉、第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉的头部均设有竖向防滑条纹。
[0013][有益效果][0014]1、本技术将圆筒和锁紧座分别与底座固定连接；圆筒为空心，内部设有测砧；所述测砧与圆筒之间为滑动连接，圆筒的上方设有紧固螺钉；所述锁紧座为圆环形卡环，锁紧座上设有第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉；使用小量块即可完成外径千分尺的示值误差的检测，结构简单，使用方便，成本低，检测效率高，携带方便。
[0015]2、本技术的紧固螺钉、第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉和第三锁紧螺钉的头部
均设有竖向防滑条纹，方便将用于检测外径千分尺示值误差的装置与外径千分尺紧固连接，简单实用。
[0016]3、本技术设置测砧靠近锁紧座的一端为球面，用球面与测微螺杆或量块接触，提高了校准的准确度，进一步提高了检测的精度。
附图说明
[0017]图1为本技术用于检测外径千分尺示值误差的装置的主视图。
[0018]图2为本技术用于检测外径千分尺示值误差的装置的俯视图。
[0019]图3为本技术用于检测外径千分尺示值误差的装置使用状态示意图。
[0020]图中，1、底座；2、圆筒；3、紧固螺钉；4、测砧；5、锁紧座；6、第一锁紧螺钉；7、第二锁紧螺钉；8、第三锁紧螺钉；9、外径千分尺；10、量块；11、测微螺杆；12、固定套管；13、微分筒；14、测力装置。
具体实施方式
[0021]为使得本技术实现上述目的、特征和优点且能够更加明显易懂，下面结合具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。
[0022]实施例1
[0023]一种用于检测外径千分尺示值误差的装置，如图1或2所示，包括底座1、圆筒2和锁紧座5，所述圆筒2和锁紧座5分别与底座1固定连接；圆筒2为空心，内部设有测砧4；所述测砧4与圆筒2之间为滑动连接，圆筒2的上方设有紧固螺钉3，所述紧固螺钉3用于固定测砧4。所述锁紧座5为圆环形卡环，锁紧座5上设有第一锁紧螺钉6、第二锁紧螺钉7和第三锁紧螺钉8。
[0024]进一步地，所述测砧4为长条形，测砧4靠近锁紧座5的一端为球面。
[0025]进一步地，所述测砧4的长度大于圆筒2的长度。
[0026]进一步地，所述第一锁紧螺钉6、第二锁紧螺钉7和第三锁紧螺钉8之间的夹角为120
°
。
[0027]进一步地，所述紧固螺钉3、第一锁紧螺钉6、第二锁紧螺钉7和第三锁紧螺钉8的头部均设有竖向防滑条纹。
[0028]本技术的工作原理：如图3所示，首先将锁紧座5套在外径千分尺9的固定套管12上，旋紧第一锁紧螺钉6、第二锁紧螺钉7和第三锁紧螺钉8；把微分筒13调整到零位，移动测砧4，使测砧4与外径千分尺9的测微螺杆11接触，旋紧紧固螺钉3；旋转微分筒13上的测力装置14，在测砧4与外径千分尺9的测微螺杆11之间放置量块10，读出此时微分筒13的数值，将读出的数值与量块10自身的长度数值作比较，若误差在正负4微米之间(包括4微米)，则外径千分尺示值误差合格；若误差在正负4微米之外，则外径千分尺示值误差不合格。
[0029]本技术的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡是在本技术构思的精神和原则之内，本领域的专业人员能够做出的任何修改、等同替换和改进等均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于检测外径千分尺示值误差的装置，其特征在于，包括底座(1)、圆筒(2)和锁紧座(5)，所述圆筒(2)和锁紧座(5)分别与底座(1)固定连接；圆筒(2)为空心，内部设有测砧(4)；所述测砧(4)与圆筒(2)之间为滑动连接，圆筒(2)的上方设有紧固螺钉(3)；所述锁紧座(5)为圆环形卡环，锁紧座(5)上设有第一锁紧螺钉(6)、第二锁紧螺钉(7)和第三锁紧螺钉(8)。2.根据权利要求1所述的用于检测外径千分尺示值误差的装置，其特征在于，所述测砧(4)为长条形，测砧(4)靠近锁紧座(5)...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖建红，
申请(专利权)人：苏州创博检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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