本实用新型专利技术涉及无损检测技术领域，尤其涉及一种无损检测装置，包括超声探头机构，所述超声探头机构包括楔块、压电晶片和阻尼块，所述楔块的上端面设有向下凹陷设置弧形探测面；所述超声探头机构还包括与所述弧形探测面相对设置的转动件，所述转动件的一端设有可沿所述弧形探测面的弧面移动的连接部，所述压电晶片和阻尼块依次层叠设置在连接部上，且所述压电晶片与所述弧形探测面贴合。通过设置在楔块上设置弧形探测面，且通过设置转动件，使得所述压电晶片和阻尼块能够通过转动件在所述弧形探测面的弧面上移动，从而能够调节超声探头的声束入射角。的声束入射角。的声束入射角。
【技术实现步骤摘要】
一种无损检测装置
[0001]本技术涉及无损检测
，尤其涉及一种无损检测装置。
技术介绍
[0002]无损检测是确保被检对象质量的重要手段，金属管材和板材的无损检测常用超声检测，通过超声波与试件相互作用，就反射、透射和散射的波进行研究，对试件进行缺陷检测、组织结构和力学性能变化的检测和表征。超声检测采用超声探头发射的纵波入射到被检工件，但由于结构原因，在管材或板材的边界位置以及焊接的折角位置的焊缝进行检测时，因为现有的超声探头角度受限难以检测，市面上主要以固定角度为45
°
和90
°
的探头为主，检测角度范围小，对不同工件的角焊缝和弯头焊缝等进行检测时造成不便。
技术实现思路
[0003]为了克服上述现有技术的缺陷，本技术所要解决的技术问题是提供一种具有角度可调的超声探头的无损检测装置。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：提供一种无损检测装置，包括超声探头机构，所述超声探头机构包括楔块、压电晶片和阻尼块，所述楔块的上端面设有向下凹陷设置弧形探测面；所述超声探头机构还包括与所述弧形探测面相对设置的转动件，所述转动件的一端设有可沿所述弧形探测面的弧面移动的连接部，所述压电晶片和阻尼块依次层叠设置在连接部上，且所述压电晶片与所述弧形探测面贴合。
[0005]进一步的，所述楔块的弧形探测面沿一端至另一端的水平高度渐低，且所述弧形探测面包括呈四分之一圆周的弧面段和与所述弧面段底部衔接的水平段。
[0006]进一步的，还包括外壳体，所述转动件通过转轴与所述外壳体铰接，且所述转动件与所述外壳体之间的铰接点位于所述弧形探测面对应的圆弧的圆心上。
[0007]进一步的，所述外壳体相对设置的两侧壁上分别设有同轴的铰接孔和第一螺孔，所述转动件上的转轴与所述铰接孔铰接，所述转动件上还设有与所述第一螺孔同轴设置的第二螺孔，所述外壳体通过锁紧螺栓依次穿过所述第一螺孔和第二螺孔与所述转动件紧固连接。
[0008]进一步的，所述外壳体的外侧壁上对应所述弧形探测面所在位置设有角度刻度线，所述转轴的一端穿过所述铰接轴至外壳体的外部，且所述转轴的一端的端部设有旋钮，所述旋钮上设有与所述角度刻度线相适配的刻度指针。
[0009]进一步的，还包括用于放置楔块的楔块壳体，所述楔块壳体位于所述外壳体的内部；所述楔块壳体对应所述弧形探测面所在位置设有开口，所述转动件的连接部穿过所述开口置于所述楔块壳体内。
[0010]进一步的，所述外壳体的底部设有探测开口，所述楔块的下端面穿过所述楔块壳体位于所述探测开口上；所述外壳体内侧壁与所述楔块壳体的外侧壁之间填充有吸音材料。
[0011]进一步的，所述压电晶片的末端呈与所述弧面段相适配的弧状。
[0012]进一步的，所述外壳体上设有外接插座，所述转动件上设有与所述连接部连通的接线孔，所述外接插座通过电缆线穿过接线孔与所述压电晶片电连接。
[0013]本技术的有益效果在于：提供一种无损检测装置，通过设置在楔块上设置弧形探测面，且通过设置转动件，使得所述压电晶片和阻尼块能够通过转动件在所述弧形探测面的弧面上移动，从而能够调节超声探头的声束入射角。
附图说明
[0014]图1所示为本技术一种无损检测装置的局部剖视图；
[0015]图2所示为本技术一种无损检测装置的侧剖视图；
[0016]标号说明：
[0017]1、外壳体；2、转动件；21、转轴；22、锁紧螺栓；3、楔块壳体；4、楔块；41、探测面；411、弧面段；412、水平段；5、压电晶片；6、阻尼块；7、外接插座。
具体实施方式
[0018]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0019]请参照图1至图2所示，本技术提供的一种无损检测装置，包括超声探头机构，所述超声探头机构包括楔块、压电晶片和阻尼块，所述楔块的上端面设有向下凹陷设置弧形探测面；所述超声探头机构还包括与所述弧形探测面相对设置的转动件，所述转动件的一端设有可沿所述弧形探测面的弧面移动的连接部，所述压电晶片和阻尼块依次层叠设置在连接部上，且所述压电晶片与所述弧形探测面贴合。
[0020]从上述描述可知，本技术的有益效果在于：提供一种无损检测装置，通过设置在楔块上设置弧形探测面，且通过设置转动件，使得所述压电晶片和阻尼块能够通过转动件在所述弧形探测面的弧面上移动，从而能够调节超声探头的声束入射角。
[0021]进一步的，所述楔块的弧形探测面沿一端至另一端的水平高度渐低，且所述弧形探测面包括呈四分之一圆周的弧面段和与所述弧面段底部衔接的水平段。
[0022]从上述描述可知，所述弧形探测面的结构可满足压电晶片相对楔块的入射角度范围达到0
°
至90
°
，可调角度范围大。
[0023]进一步的，还包括外壳体，所述转动件通过转轴与所述外壳体铰接，且所述转动件与所述外壳体之间的铰接点位于所述弧形探测面对应的圆弧的圆心上。
[0024]从上述描述可知，所述转动件通过调节铰接点的转轴可以实现角度调节并保证压电晶片紧贴弧形探测面移动。
[0025]进一步的，所述外壳体相对设置的两侧壁上分别设有同轴的铰接孔和第一螺孔，所述转动件上的转轴与所述铰接孔铰接，所述转动件上还设有与所述第一螺孔同轴设置的第二螺孔，所述外壳体通过锁紧螺栓依次穿过所述第一螺孔和第二螺孔与所述转动件紧固连接。
[0026]从上述描述可知，所述转动件通过转轴与外壳体实现转动铰接，并通过锁紧螺栓锁紧第一螺孔和第二螺孔实现转动件的角度固定和锁紧。
[0027]进一步的，所述外壳体的外侧壁上对应所述弧形探测面所在位置设有角度刻度线，所述转轴的一端穿过所述铰接轴至外壳体的外部，且所述转轴的一端的端部设有旋钮，所述旋钮上设有与所述角度刻度线相适配的刻度指针。
[0028]从上述描述可知，外壳体的角度刻度线与所述压电晶片对应的入射角度相适配，通过刻度线便于根据需要进行角度选择。
[0029]进一步的，还包括用于放置楔块的楔块壳体，所述楔块壳体位于所述外壳体的内部；所述楔块壳体对应所述弧形探测面所在位置设有开口，所述转动件的连接部穿过所述开口置于所述楔块壳体内。
[0030]进一步的，所述外壳体的底部设有探测开口，所述楔块的下端面穿过所述楔块壳体位于所述探测开口上；所述外壳体内侧壁与所述楔块壳体的外侧壁之间填充有吸音材料。
[0031]从上述描述可知，所述吸音材料吸收由压电晶片发出的振动声波的噪音。
[0032]进一步的，所述压电晶片的末端呈与所述弧面段相适配的弧状。
[0033]从上述描述可知，所述压电晶片的末端呈与所述弧面段相适配的弧状保证所述压电晶片与所述弧形探测面之间的贴合面积更大且贴合更紧密。
[0034]进一步的，所述外壳体上设有外接插座，所本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种无损检测装置，包括超声探头机构，所述超声探头机构包括楔块、压电晶片和阻尼块，其特征在于，所述楔块的上端面设有向下凹陷设置弧形探测面；所述超声探头机构还包括与所述弧形探测面相对设置的转动件，所述转动件的一端设有可沿所述弧形探测面的弧面移动的连接部，所述压电晶片和阻尼块依次层叠设置在连接部上，且所述压电晶片与所述弧形探测面贴合。2.根据权利要求1所述一种无损检测装置，其特征在于，所述楔块的弧形探测面沿一端至另一端的水平高度渐低，且所述弧形探测面包括呈四分之一圆周的弧面段和与所述弧面段底部衔接的水平段。3.根据权利要求2所述一种无损检测装置，其特征在于，还包括外壳体，所述转动件通过转轴与所述外壳体铰接，且所述转动件与所述外壳体之间的铰接点位于所述弧形探测面对应的圆弧的圆心上。4.根据权利要求3所述一种无损检测装置，其特征在于，所述外壳体相对设置的两侧壁上分别设有同轴的铰接孔和第一螺孔，所述转动件上的转轴与所述铰接孔铰接，所述转动件上还设有与所述第一螺孔同轴设置的第二螺孔，所述外壳体通过锁紧螺栓依次穿过所述第一螺孔和第二螺孔与所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘玉明，童雪莲，李传文，
申请(专利权)人：安正计量检测有限公司，
类型：新型
国别省市：
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