本实用新型专利技术涉及引伸计技术领域，尤其涉及一种引伸计校准装置，包括直杆、测微头、上导块和下导块，所述上导块和下导块分别可沿所述直杆的轴向平移，所述上导块和下导块上分别设有同轴正对设置的活动轴以及分别用于固定待测引伸计测量爪的固定部；所述测微头包括与所述直杆固定的套筒和活动嵌设在套筒内的转轴，所述转轴的两端分别设有螺距相等且螺向相同的外螺纹，两个所述活动轴的相邻端内部分别设有与所述外螺纹螺接的内螺纹。两个所述活动轴在对引伸计进行校准的过程中同时与所述转轴保持同轴度，以使得所述测微头能够限制两个所述活动轴保持同一轴向上进行校准，从而确保引伸计的校准精度。计的校准精度。计的校准精度。
【技术实现步骤摘要】
一种引伸计校准装置
[0001]本技术涉及引伸计
，尤其涉及一种引伸计校准装置。
技术介绍
[0002]引伸计是测量构件及其他物体两点之间线变形的一种仪器，广泛应用于各种力学性能的测试试验中，长期使用下引伸计需要定期进行校准以保证测量精度。现有引伸计校准装置包括直杆和设置在直杆上且上下相对并同轴设置的固定心轴和活动心轴，引伸计的两个检测爪分别固定在固定心轴和活动心轴上，通过调节测微头使得活动心轴沿轴向移动，通过活动心轴的移动量与引伸计检测的形变量对比得到校准结果。由于引伸计在工作时，测量构件两点之间分别受引伸计两力臂作用同时进行拉伸测量，而现有引伸计校准装置仅移动活动心轴对引伸计的检测爪进行拉伸，而固定心轴受引伸计检测爪斜向力臂作用，长期使用下容易产生轴向偏移，从而影响固定心轴与活动心轴之间的同轴度，从而造成测量误差。
技术实现思路
[0003]为了克服上述现有技术的缺陷，本技术所要解决的技术问题是提供一种能够提高引伸计校准精度的校准装置。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：提供一种引伸计校准装置，包括直杆、测微头、上导块和下导块，所述上导块和下导块分别可沿所述直杆的轴向平移，所述上导块和下导块上分别设有同轴正对设置的活动轴以及分别用于固定待测引伸计测量爪的固定部；所述测微头包括与所述直杆固定的套筒和活动嵌设在套筒内的转轴，所述转轴的两端分别设有螺距相等且螺向相同的外螺纹，两个所述活动轴的相邻端内部分别设有与所述外螺纹螺接的内螺纹。
[0005]进一步的，所述测微头还包括可转动设置在所述套筒内的套管，所述套筒的中部位置设有环形通槽，所述转轴的中部位置固定套接在所述套管内，所述套管的外侧壁上环绕设有与所述环形通槽相适配的环形凸缘，且所述环形凸缘穿过所述环形通槽至外部。
[0006]进一步的，所述套管的两端分别伸出所述套筒至外部，两个所述活动轴分别穿过与所述套管两端至套筒内部与所述转轴的两端连接。
[0007]进一步的，所述活动轴靠近所述套筒的一端设有主刻度，所述套管的两端外侧壁上分别设有与所述主刻度相适配的副刻度。
[0008]进一步的，所述上导块的一端和下导块的一端分别与所述直杆滑动连接，两个所述固定部分别设置在所述上导块的另一端和下导块的另一端，两个所述固定部分别设有相对且同轴设置的固定轴，两个所述固定轴上分别设有与待测引伸计测量爪固定的夹持工位。
[0009]进一步的，所述直杆竖直设置，所述直杆沿轴向分别设有两个直线导轨，所述上导块的一端和下导块的一端分别设有与两个所述直线导轨一一对应设置的滑块。
[0010]本技术的有益效果在于：提供一种引伸计校准装置，通过在所述测微头的转轴两端分别设有与两个所述活动轴螺接的外螺纹，通过转动转轴可以同步驱动两个所述活动轴相向或相背运动，待测引伸计的测量爪固定在上导块和下导块上时，所述上导块和下导块受所述活动轴作用实现对待测引伸计的校准。两个所述活动轴在对引伸计进行校准的过程中同时与所述转轴保持同轴度，以使得所述测微头能够限制两个所述活动轴保持同一轴向上进行校准，从而确保引伸计的校准精度。
附图说明
[0011]图1所示为本技术一种引伸计校准装置的结构示意图；
[0012]图2所示为本技术一种引伸计校准装置的局部剖视图；
[0013]标号说明：
[0014]1、底座；2、直杆；21、直线导轨；3、测微头；31、套筒；32、转轴；33、套管；34、连接杆；331、环形凸缘；4、上导块；5、下导块；6、活动轴；7、固定部；8、测量爪。
具体实施方式
[0015]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0016]请参照图1至图2所示，本技术提供的一种引伸计校准装置，包括直杆、测微头、上导块和下导块，所述上导块和下导块分别可沿所述直杆的轴向平移，所述上导块和下导块上分别设有同轴正对设置的活动轴以及分别用于固定待测引伸计测量爪的固定部；所述测微头包括与所述直杆固定的套筒和活动嵌设在套筒内的转轴，所述转轴的两端分别设有螺距相等且螺向相同的外螺纹，两个所述活动轴的相邻端内部分别设有与所述外螺纹螺接的内螺纹。
[0017]从上述描述可知，本技术的有益效果在于：提供一种引伸计校准装置，通过在所述测微头的转轴两端分别设有与两个所述活动轴螺接的外螺纹，通过转动转轴可以同步驱动两个所述活动轴相向或相背运动，待测引伸计的测量爪固定在上导块和下导块上时，所述上导块和下导块受所述活动轴作用实现对待测引伸计的校准。两个所述活动轴在对引伸计进行校准的过程中同时与所述转轴保持同轴度，以使得所述测微头能够限制两个所述活动轴保持同一轴向上进行校准，从而确保引伸计的校准精度。
[0018]进一步的，所述测微头还包括可转动设置在所述套筒内的套管，所述套筒的中部位置设有环形通槽，所述转轴的中部位置固定套接在所述套管内，所述套管的外侧壁上环绕设有与所述环形通槽相适配的环形凸缘，且所述环形凸缘穿过所述环形通槽至外部。
[0019]从上述描述可知，所述套筒的中部位置设有环形通槽，所述套管上的环形凸缘穿过所述设有环形通槽外部，从而可以在套筒外部通过转动环形凸缘调节两个所述活动轴相向或相背运动，两个所述活动轴带动所述上导块和下导块上的待测引伸计测量爪移动，从而获取待测引伸计的位移变量。
[0020]进一步的，所述套管的两端分别伸出所述套筒至外部，两个所述活动轴分别穿过与所述套管两端至套筒内部与所述转轴的两端连接。
[0021]从上述描述可知，所述套管的两端端部分别伸出所述套筒至外部便于与转轴对接
安装。
[0022]进一步的，所述活动轴靠近所述套筒的一端设有主刻度，所述套管的两端外侧壁上分别设有与所述主刻度相适配的副刻度。
[0023]从上述描述可知，通过将主刻度设置在活动轴上与套管上的副刻度配合进行精密调节，精度更高。
[0024]进一步的，所述上导块的一端和下导块的一端分别与所述直杆滑动连接，两个所述固定部分别设置在所述上导块的另一端和下导块的另一端，两个所述固定部分别设有相对且同轴设置的固定轴，两个所述固定轴上分别设有与待测引伸计测量爪固定的夹持工位。
[0025]从上述描述可知，同轴设置的固定轴用于分别固定待测引伸计的两个测量爪，能够满足待测引伸计的两个测量爪固定间距的要求。
[0026]进一步的，所述直杆竖直设置，所述直杆沿轴向分别设有两个直线导轨，所述上导块的一端和下导块的一端分别设有与两个所述直线导轨一一对应设置的滑块。
[0027]从上述描述可知，所述上导块和下导块通过滑块与直杆上的直线导轨滑动连接能够提高所述上导块和下导块位移过程的稳定性。
[0028]请参照图1至图2所示，本技术的实施例一为：提供一种引伸计校准装置，包括底座1、竖直设置在底座上的直杆2、测微头3和可沿所述直杆轴向平移的上导块4本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种引伸计校准装置，包括直杆、测微头、上导块和下导块，其特征在于，所述上导块和下导块分别可沿所述直杆的轴向平移，所述上导块和下导块上分别设有同轴正对设置的活动轴以及分别用于固定待测引伸计测量爪的固定部；所述测微头包括与所述直杆固定的套筒和活动嵌设在套筒内的转轴，所述转轴的两端分别设有螺距相等且螺向相同的外螺纹，两个所述活动轴的相邻端内部分别设有与所述外螺纹螺接的内螺纹。2.根据权利要求1所述一种引伸计校准装置，其特征在于，所述测微头还包括可转动设置在所述套筒内的套管，所述套筒的中部位置设有环形通槽，所述转轴的中部位置固定套接在所述套管内，所述套管的外侧壁上环绕设有与所述环形通槽相适配的环形凸缘，且所述环形凸缘穿过所述环形通槽至外部。3.根据权利要求2所述一种引伸计校准装置，其特征在于，所述套管的两端...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈誉，高浩菡，江萱明，
申请(专利权)人：安正计量检测有限公司，
类型：新型
国别省市：
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