【技术实现步骤摘要】
一种相控阵检测校准试块
[0001]本技术属于建筑工程
，涉及一种相控阵检测校准试块。
技术介绍
[0002]相控阵广泛用于建筑，管道和发电等多个工业领域的无损检测。此方法是一种先进的无损检测方法，用于检测不连续性并由此确定组件质量。由于可以控制诸如光束角度和焦距之类的参数，因此该方法在缺陷检测和测试速度方面非常有效。
[0003]为实现更快、更安全的检测，一般会制造用作无损检测的试块。现有的试块只能完成某一项指标的校核，影响了相控阵检测的校准效率。
[0004]因此，亟需设计一种相控阵检测校准试块，解决现有技术中存在的技术问题。
技术实现思路
[0005]本技术的目的是至少一定程度上解决现有技术中存在的部分技术问题，提供的一种相控阵检测校准试块，用于不等厚复杂铸铁件的无损检测，其结构合理，使用方便，通过一个校准试块完成校核，提高了校核效率，有利于准确高效的完成相关测试。
[0006]为解决上述技术问题，本技术提供的一种相控阵检测校准试块，其包括主体部，所述主体部为矩形块，其顶面配置...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种相控阵检测校准试块，其特征在于，包括主体部，所述主体部为矩形块，其顶面配置有台阶结构，相邻台阶结构的高度差相等；所述台阶结构还配置有测试孔，所述测试孔沿所述主体部的纵向设置，其自所述主体部的一个侧面沿纵向延伸而成；相邻测试孔的纵向长度不同；所述主体部包括第一台阶结构、第二台阶结构、第三台阶结构、第四台阶结构、第五台阶结构和第六台阶结构，台阶结构对应顶面的粗糙度不大于Ra3.2。2.根据权利要求1所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述测试孔包括第一测试孔，其设置在第一台阶结构处；所述第一测试孔的纵向长度为10mm。3.根据权利要求2所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述测试孔包括第二测试孔，其设置在第二台阶结构处，所述第二测试孔的纵向长度为15mm。4.根据权利要求3所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述测试孔还包括第六测试孔，其贯穿设置在第六台阶结构处。5.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：闫伟明，赖通，舒洁，蒋强，袁玉，李治乾，
申请(专利权)人：重庆建工无损检测工程有限公司，
类型：新型
国别省市：
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