一种超声相控阵检测的校准试块制造技术

本实用新型专利技术公开了一种超声相控阵检测的校准试块，其包括主体部，所述主体部为配置有圆弧顶面的矩形块；所述主体部的厚度方向配置有贯通的测试孔，所述测试孔沿所述主体部的长度方向间隔设置，且所述测试孔沿主体部的高度方向间隔设置；所述主体部的前后侧面配置有第一固定孔，所述第一固定孔的内部设置有第一磁扣；所述主体部的左右侧面配置有第二固定孔，所述第二固定孔的内部配置有第二磁扣。本实用新型专利技术提供的一种超声相控阵检测的校准试块，其结构合理，操作便捷，能够通过磁吸连接将多个校准试块横向连接和纵向连接，提高校准检测的效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种超声相控阵检测的校准试块


[0001]本技术属于建筑工程
，涉及一种超声相控阵检测的校准试块。

技术介绍

[0002]超声相控阵检测技术在建筑工程中得到广泛的应用，其使用不同形状的多阵元换能器产生和接收超声波束，通过控制换能器阵列中各阵元发射或接收脉冲的不同延迟时间，改变声波到达或来自物体内某点时的相位关系，实现焦点和声束方向的变化，从而实现超声波的波束扫描、偏转和聚焦，然后采用机械扫描和电子扫描相结合的方法来实现图像成像，实现无损检测。通常使用一维线形阵列探头，压电晶片呈直线状排列，聚焦声场为片状，得到缺陷的二维图像。
[0003]在进行超声相控阵检测之前，需要进行基准校核。现有的校准试块种类繁多，需要校核人员依次对多项参数进行校准，影响校准效率；各种校准试块种类繁多，且相互之间孤立设置，不利于高效准确地完成基准校核。
[0004]因此，亟需设计一种超声相控阵检测的校准试块，解决现有技术中存在的技术问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是至少一定程度上解决现有技术中存在的部分技术问题，提供的一种超声相控阵检测的校准试块，其结构合理，操作便捷，能够通过磁吸连接将多个校准试块横向连接和纵向连接，提高校准检测的效率。
[0006]为解决上述技术问题，本技术提供的一种超声相控阵检测的校准试块，其包括主体部，所述主体部为配置有圆弧顶面的矩形块；所述主体部的厚度方向配置有贯通的测试孔，所述测试孔沿所述主体部的长度方向间隔设置，且所述测试孔沿主体部的高度方向间隔设置；所述主体部的前后侧面配置有第一固定孔，所述第一固定孔的内部设置有第一磁扣；所述主体部的左右侧面配置有第二固定孔，所述第二固定孔的内部配置有第二磁扣。
[0007]作为优选实施例，所述测试孔沿所述主体部的长度方向间隔均匀设置。
[0008]作为优选实施例，所述测试孔沿所述主体部的长度方向间隔距离为10mm
‑
30mm。
[0009]作为优选实施例，所述测试孔沿主体部的高度方向间隔距离不相等，相邻测试孔的间隔距离自圆弧顶面向下逐渐增大。
[0010]作为优选实施例，所述测试孔距离所述主体部的圆弧顶面的最大距离为40mm。
[0011]作为优选实施例，所述第一固定孔为圆形孔，其对称设置于所述主体部前后侧面的端部。
[0012]作为优选实施例，所述第一固定孔的孔径与所述第一磁扣的外径相匹配，所述第一磁扣粘接于所述第一固定孔中。
[0013]作为优选实施例，所述第二固定孔为矩形孔，其数量不少于一个，所述第二固定孔
沿所述主体部的高度方向间隔设置。
[0014]作为优选实施例，所述第二固定孔与第二磁扣相匹配设置，所述第二磁扣粘接于所述第二固定孔中。
[0015]作为优选实施例，所述圆弧顶面沿所述主体部的长度方向延伸并沿主体部的厚度方向对称设置，其尺寸为R20mm
‑
R150mm。
[0016]本技术有益效果：
[0017]本技术提供的一种超声相控阵检测的校准试块，其结构合理，操作便捷，能够通过磁吸连接将多个校准试块横向连接和纵向连接，提高校准检测的效率。
附图说明
[0018]通过结合以下附图所作的详细描述，本技术的上述优点将变得更清楚和更容易理解，这些附图只是示意性的，并不限制本技术，其中：
[0019]图1是本技术所述一种超声相控阵检测的校准试块的结构示意图；
[0020]图2是图1对应的部件拆解图；
[0021]图3是本技术所述校准试块的主视图；
[0022]图4是本技术所述校准试块沿厚度方向连接的示意图；
[0023]图5是本技术所述校准试块沿长度方向连接的示意图。
[0024]附图中，各标号所代表的部件如下：
[0025]10.主体部；11.测试孔；20.第一固定孔；30.第一磁扣；40.第二固定孔；50.第二磁扣。
具体实施方式
[0026]图1至图5是本申请所述一种超声相控阵检测的校准试块的相关示意图，下面结合具体实施例和附图，对本技术进行详细说明。
[0027]在此记载的实施例为本技术的特定的具体实施方式，用于说明本技术的构思，均是解释性和示例性的，不应解释为对本技术实施方式及本技术范围的限制。除在此记载的实施例外，本领域技术人员还能够基于本申请权利要求书和说明书所公开的内容采用显而易见的其它技术方案，这些技术方案包括采用对在此记载的实施例的做出任何显而易见的替换和修改的技术方案。
[0028]本说明书的附图为示意图，辅助说明本技术的构思，示意性地表示各部分的形状及其相互关系。请注意，为了便于清楚地表现出本技术实施例的各部件的结构，各附图之间并未按照相同的比例绘制。相同的参考标记用于表示相同的部分。
[0029]本技术所述一种超声相控阵检测的校准试块的结构示意图，如图1至图3所示。超声相控阵检测的校准试块包括主体部10，所述主体部10为配置有圆弧顶面的矩形块；所述主体部10的厚度方向配置有贯通的测试孔11，所述测试孔11沿所述主体部10的长度方向间隔设置，且所述测试孔11沿主体部10的高度方向间隔设置；所述主体部10的前后侧面配置有第一固定孔20，所述第一固定孔20的内部设置有第一磁扣30；所述主体部10的左右侧面配置有第二固定孔40，所述第二固定孔40的内部配置有第二磁扣50。
[0030]图1所示的实施例中，所述测试孔11沿所述主体部10的长度方向间隔均匀设置。进
一步地，所述测试孔11沿所述主体部10的长度方向间隔距离为10mm
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30mm。优选地，测试孔11沿所述主体部10的长度方向间隔距离为20mm，这样有利于真实反应待测试部件的情况，保证检测的准确性。
[0031]图1中，所述测试孔11沿主体部10的高度方向间隔距离不相等，相邻测试孔11的间隔距离自圆弧顶面向下逐渐增大。所述测试孔11距离所述主体部的圆弧顶面的最大距离为40mm。如测试孔11距离所述主体部的圆弧顶面的距离可以为3mm、5mm、10mm等。
[0032]图2中，所述第一固定孔20为圆形孔，其对称设置于所述主体部10前后侧面的端部。所述第一固定孔20的孔径与所述第一磁扣30的外径相匹配，所述第一磁扣30粘接于所述第一固定孔20中。本技术所述的多个校准试块可以通第一磁扣30连接为一体，如图4所示，校准试块的主体部10的底面在同一水平面上，保证对应的测试孔11同轴设置。
[0033]本技术中，第一磁扣30的位置不会与测试孔11相互重叠，以防止第一磁扣30干扰超声相控阵检测的校准。
[0034]作为本技术的一个实施例，所述第二固定孔40为矩形孔，如图2所示，其数量不少于一个，所述第二固定孔40沿所述主体部10的高度方向间隔设置。所述第二固定孔40与第二磁扣50相匹配设置，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声相控阵检测的校准试块，其特征在于，包括主体部，所述主体部为配置有圆弧顶面的矩形块；所述主体部的厚度方向配置有贯通的测试孔，所述测试孔沿所述主体部的长度方向间隔设置，且所述测试孔沿主体部的高度方向间隔设置；所述主体部的前后侧面配置有第一固定孔，所述第一固定孔的内部设置有第一磁扣；所述主体部的左右侧面配置有第二固定孔，所述第二固定孔的内部配置有第二磁扣。2.根据权利要求1所述的校准试块，其特征在于，所述测试孔沿所述主体部的长度方向间隔均匀设置。3.根据权利要求2所述的校准试块，其特征在于，所述测试孔沿所述主体部的长度方向间隔距离为10mm
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30mm。4.根据权利要求1所述的校准试块，其特征在于，所述测试孔沿主体部的高度方向间隔距离不相等，相邻测试孔的间隔距离自圆弧顶面向下逐渐增大。5.根据权利要求4所述的校准...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫伟明，赖通，舒洁，蒋强，袁玉，李治乾，
申请(专利权)人：重庆建工无损检测工程有限公司，
类型：新型
国别省市：