一种电子零配件智能综合检验系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种电子零配件智能综合检验系统，包括摄像头、光源、显示器，摄像头包括镜头和Camera控制器，镜头输出端连接CCD传感器输入端，CCD传感器输出端连接图像信号处理模块的输入端，图像信号处理模块输出端连接Camera控制器，Camera控制器、光源分别连接系统主机，系统主机通过光纤模块或5G模块连接识别与检测单元，系统主机通过线路连接有显示器，摄像头用于对待测电子零配件进行拍照，并通过光纤模块或5G模块将拍摄图片上传至识别与检测单元，系统主机接收识别与检测单元回传的检测结果后显示于显示器上；本实用新型专利技术能够快速准确地检测待测电子零配件存在的加工或组装的缺陷和错误，大幅降低了成本。大幅降低了成本。大幅降低了成本。

【技术实现步骤摘要】
一种电子零配件智能综合检验系统
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][0001]本技术涉及视觉检测
，具体地说是一种电子零配件智能综合检验系统。
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技术介绍
][0002]传统视觉检测(AOI)设备的结构与原理主要是在SMT贴片制程后或组装完成前，拍摄待测SMT电路板或者含有可见电子零配件的待测物照片，按目标检测项目分割照片(需要人工先行维护规则编程)，再进行电子零配件贴片或组装质量判定(需要人工先行维护规则编程)，最后对于判定结果进行人工复判(导入阶段,需要人工调适,提高准确度)。其主要存在以下的问题与缺点：(1)不同的电路板或者含有可见电子零配件的待测物,不同的目标检测点位,都需要人工编程与维护规则进行调适；(2)终端运算，需要运算能力较高的计算器；(3)导入时间长,准确度低，误判率高；(4)同一电子零配件在不同电路板或者含有可见电子零配件的待测物上，需要一再重复维护编程调适的过程。
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技术实现思路
][0003]本技术的目的就是要解决上述的不足而提供一种电子零配件智能综合检验系统，能够快速准确地检测待测电子零配件存在的加工或组装的缺陷和错误，提高了工作效率，降低了误判率，大幅降低了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子零配件智能综合检验系统，其特征在于：包括系统主机(1)、摄像头(2)、光源(3)、显示器(4)，所述摄像头(2)包括镜头(9)和Camera控制器(10)，所述镜头(9)与Camera控制器(10)电连接，所述镜头(9)的输出端连接CCD传感器(8)的输入端，所述CCD传感器(8)的输出端连接图像信号处理模块(11)的输入端，所述图像信号处理模块(11)的输出端连接Camera控制器(10)，所述Camera控制器(10)、光源(3)分别连接系统主机(1)，所述系统主机(1)通过光纤模块或5G模块(6)连接识别与检测单元(7)，所述系统主机(1)通过线路连接有显示器(4)，所述摄像头(2)用于对待测电子零配件进行拍照，并通过光纤模块或5G模块(6)将拍摄图片上传至识别与检测单元(7)，所述系统主机(1)接收识别与检测单元(7)回传的检测结果后显示于显示器(4)上。2.如权利要求1所述的电子零配件智能综合检验系统，其特征在于：所述系统主机(1)内设置有数据设定模块(12)、数据存储模块(13)、数据显示模块(14)，所述数据设定模块(12)的输出端连接数据存储模块(13)的输入端，所述数据存储模块(13)的输出端连接数据显示模块(14)的输入端，所述数据显示模块(...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏小燕，
申请(专利权)人：魏小燕，
类型：新型
国别省市：