一种新型的LED灯珠巨量分选方法技术

本申请提供一种新型的LED灯珠巨量分选方法，涉及LED灯珠分选技术领域。所述新型的LED灯珠巨量分选方法，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行一次性检测，然后根据设定的分档要求，标记出不符合要求的LED灯珠进行剔除，并将剩余LED灯珠进行切割分类分档。与现有技术相比，本申请操作简单，通过先将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行一次性测试，光电参数测试完毕后，剔除异常点，对剩余良品LED灯珠切割成单颗，然后根据测试结果进行分类归档，大大节省了机械抓取、轨道运行及测试的时间，分选速度可提升至300K/h，回BIN率99％以上。回BIN率99％以上。回BIN率99％以上。

【技术实现步骤摘要】
一种新型的LED灯珠巨量分选方法


[0001]本申请涉及LED灯珠分选
，尤其涉及一种新型的LED灯珠巨量分选方法。

技术介绍

[0002]随着人们对显示屏高清的要求越来越高，显示屏小间距产品发展迅猛。LED显示愈来愈趋于小型化、轻量化、智能化、高画质和低功耗，并且成为行业内大家共同追求的目标，由此Mini LED应运而生。
[0003]尽管Mini LED已成为业内的明星产品，但仍存在着成本、工艺等诸多难题。比如当前LED封装生产中，LED灯珠的分类分档，通常是先将封装后的整板(或片)LED成品分割成单颗后，逐颗进行光电检测，再分档。此工艺存在分选速度慢，设备投入大，人机配比高，故障率高等问题，严重制约了LED产业产能提升。

技术实现思路

[0004]为了解决现有工艺存在分选速度慢，设备投入大，人机配比高，故障率高等问题，本申请提供了一种新型的LED灯珠巨量分选方法，能够实现LED灯珠快速精细批量分选。
[0005]本申请由以下技术方案实现：
[0006]一种新型的LED灯珠巨量分选方法，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行一次性检测，然后根据设定的分档要求，标记出不符合要求的LED灯珠进行剔除，并将剩余LED灯珠进行切割分类分档。
[0007]进一步的，所述分选方法包括以下步骤：
[0008]S1、安装，将待测试的具有有多个行列LED灯珠的整板LED放入测试治具上；
[0009]S2、测试与记录，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行点亮测试，并对点亮测试时所产生的测试数据进行保存，上传信息处理系统；
[0010]S3、数据运算处理，通过信息处理系统将测试数据进行比较运算，并与标准数据进行对比后，对具有多个行列LED灯珠的整板LED中不符合要求的LED灯珠进行标记；
[0011]S4、剔除，根据标记信息将不符合要求的LED灯珠切割剔除；
[0012]S5、分类归档，然后对剩余LED灯珠进行切割，并根据设定的分档要求分类归档。
[0013]进一步的，步骤S1中，所述测试治具上设有能将具有多个行列LED灯珠的整板LED同时点亮的若干个高精密度探针，以使所述测试治具能将外部接收的测试信号输入到所述整板LED中。
[0014]进一步的，步骤S2中，通过所述高精密度探针与各LED灯珠引脚接触，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行点亮，同时搭配测试电路，将测试的电性数据进行采集检测。
[0015]进一步的，步骤S2中，具有多个行列LED灯珠的整板LED点亮后，采用高光谱相机，将整体的点亮效果进行拍照，收集具有多个行列LED灯珠的整板LED光性数据及各LED灯珠坐标信息。
[0016]进一步的，步骤S3中，所述信息处理系统将记录的光电参数进行比较运算，得出具
有多个行列LED灯珠的整板LED中所有LED灯珠的各项参数信息。
[0017]优选的，步骤S3中，所述标准数据包括标准样板在测试中整体点亮时的标准样板光性数据，以及标准样板电性数据。
[0018]进一步的，步骤S3中，所述信息处理系统根据各项参数信息找出max、min点与标准数据对比计算，然后根据设定的要求，对整板LED灯珠进行分级分档。
[0019]优选的，所述电性数据包括有正向导通电压VF、小电流电压VFL、反向漏电电流IR、引脚之间短路电流(或漏电电流)RIR。
[0020]优选的，所述光性数据包括有主波长λd、亮度IV。
[0021]与现有技术相比，本申请有如下优点：
[0022]1、通过先将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行一次性测试，光电参数测试完毕后，剔除异常点，对剩余良品LED灯珠切割成单颗，然后根据测试结果进行分类归档，大大节省了机械抓取、轨道运行及测试的时间，分选速度可提升至300K/h，回BIN率99％以上。
【附图说明】
[0023]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0024]图1为本申请所述新型的LED灯珠巨量分选方法的步骤流程图。
【具体实施方式】
[0025]为了使本申请所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0026]如图1所示，一种新型的LED灯珠巨量分选方法，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行一次性检测，然后根据设定的分档要求，标记出不符合要求的LED灯珠进行剔除，并将剩余LED灯珠进行切割分类分档。
[0027]所述分选方法包括以下步骤：
[0028]S1、安装，将待测试的具有有多个行列LED灯珠的整板LED放入测试治具上；
[0029]S2、测试与记录，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行点亮测试，并对点亮测试时所产生的测试数据进行保存，上传信息处理系统；
[0030]S3、数据运算处理，通过信息处理系统将测试数据进行比较运算，并与标准数据进行对比后，对具有多个行列LED灯珠的整板LED中不符合要求的LED灯珠进行标记；
[0031]S4、剔除，根据标记信息将不符合要求的LED灯珠切割剔除；
[0032]S5、分类归档，然后对剩余LED灯珠进行切割，并根据设定的分档要求分类归档。
[0033]本申请提供了一种新型的LED灯珠巨量分选方法，通过以上步骤对LED灯珠进行测试分选，相比于将LED灯珠一颗一颗进行逐一点亮或多颗同时进行测试，本申请的方法大大节省了机械抓取、轨道运行及测试的时间，分选速度可提升至300K/h，回BIN率99％以上，提升生产效率。特有的LED灯珠分选工艺，先将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行一次性检测，光电参数测试完毕后，再对具有多个行列LED灯珠的整板LED进行切割，然后针对测试结果进行分类归档。
[0034]进一步地，作为一种具体实施方式而非限定，步骤S1中，步骤S1中，所述测试治具上设有能将具有多个行列LED灯珠的整板LED同时点亮的若干个高精密度探针，以使所述测试治具能将外部接收的测试信号输入到所述整板LED中。测试时，只需将所述高精密度探针与各LED灯珠引脚接触即可。这样，通过将具有多个行列LED灯珠的整板LED点亮进行测试，大大节省测试时间。
[0035]进一步地，作为一种具体实施方式而非限定，步骤S2中，通过所述高精密度探针与各LED灯珠引脚接触，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行点亮，同时搭配高灵敏度电路，将测试的电性数据进行采集检测。所述电气信息包括有正向导通电压VF、小电流电压VFL、反向漏电电流IR、引脚之间短路电流(或漏电电流)RIR。
[0036]进一步地，作为一种具体实施方式而非限定，步骤S2中，具有多个行列LED灯珠的整板LED点亮后，采用高光谱相机，将整体的点亮效果进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型的LED灯珠巨量分选方法，其特征在于，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行一次性检测，然后根据设定的分档要求，标记出不符合要求的LED灯珠进行剔除，并将剩余LED灯珠进行切割分类分档。2.根据权利要求1所述的一种新型的LED灯珠巨量分选方法，其特征在于，所述分选方法包括以下步骤：S1、安装，将待测试的具有有多个行列LED灯珠的整板LED放入测试治具上；S2、测试与记录，将具有多个行列LED灯珠的整板LED进行点亮测试，并对点亮测试时所产生的测试数据进行保存，上传信息处理系统；S3、数据运算处理，通过信息处理系统将测试数据进行比较运算，并与标准数据进行对比后，对具有多个行列LED灯珠的整板LED中不符合要求的LED灯珠进行标记；S4、剔除，根据标记信息将不符合要求的LED灯珠切割剔除；S5、分类归档，然后对剩余LED灯珠进行切割，并根据设定的分档要求分类归档。3.根据权利要求2所述的一种新型的LED灯珠巨量分选方法，其特征在于，步骤S1中，所述测试治具上设有能将具有多个行列LED灯珠的整板LED同时点亮的若干个高精密度探针，以使所述测试治具能将外部接收的测试信号输入到所述整板LED中。4.根据权利要求3所述的一种新型的LED灯珠巨量分选方法，其特征在于，步骤S2中，通过所述高精密度探针与各LED灯珠引脚接触，将具有多个行列LED灯珠的整板L...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘勇华，李秦豫，
申请(专利权)人：吉安市木林森显示器件有限公司，
类型：发明
国别省市：