硅棒碳头敲击定位装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种硅棒碳头敲击定位装置，涉及多晶硅生产设备技术领域，主要目的是提供一种能够精确硅棒敲击的位置的硅棒碳头敲击定位装置。本实用新型专利技术的主要技术方案为：一种硅棒碳头敲击定位装置，包括：固定部件，固定部件包括固定把手、连接块和固定套，固定把手设置在连接块的一端，固定套设置在连接块的另一端，固定块上具有第一安装孔，固定套的一端具有第一凹槽，用于固定石墨夹头；测距部件，测距部件包括支撑杆、测量尺和调节部件，支撑杆的一端设置在第一安装孔内，调节部件设置在支撑杆上，测量尺上具有第一移动孔，第一移动孔套在支撑杆上。本实用新型专利技术主要用于硅棒敲击位置定位。敲击位置定位。敲击位置定位。

【技术实现步骤摘要】
硅棒碳头敲击定位装置


[0001]本技术涉及多晶硅生产设备
，尤其涉及一种硅棒碳头敲击定位装置。

技术介绍

[0002]在生产多晶硅的生产技术中，改良西门子法为主要的生产方法。多晶硅还原炉石墨碳头是多晶硅生产中影响产品质量的核心环节，在生产过程中必须将碳头人工清除。在还原炉多晶硅生产结束后，必须将石墨夹头和硅棒分离，作含碳料单独处理，现有的方式是把石墨夹头及包裹在夹头上面的多晶硅通过氮化钨榔头人工一起敲掉，和硅棒分离，敲击的位置太短，多晶硅碎料多，而且硅棒上的石墨碳头不容易完全剔除，造成多晶硅碳污染，影响产品质量，敲击的位置太长，容易造成多晶硅硅棒免洗料浪费，而且敲下的多晶硅容易被石墨夹头污染，大大增加了后期人员的挑选和清洗人员的工作量，给硅料带来很大的质量隐患。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术实施例提供一种硅棒碳头敲击定位装置，主要目的是提供一种能够精确硅棒敲击的位置的硅棒碳头敲击定位装置。
[0004]为达到上述目的，本技术主要提供如下技术方案：
[0005]本技术实施例提供了一种硅棒碳头敲击定位装置，该装置包括：
[0006]固定部件，所述固定部件包括固定把手、连接块和固定套，所述固定把手设置在所述连接块的一端，所述固定套设置在所述连接块的另一端，所述固定块上具有第一安装孔，所述固定套的一端具有第一凹槽，用于固定石墨夹头；
[0007]测距部件，所述测距部件包括支撑杆、测量尺和调节部件，所述支撑杆的一端设置在所述第一安装孔内，所述调节部件设置在所述支撑杆上，所述测量尺上具有第一移动孔，所述第一移动孔套在所述支撑杆上。
[0008]进一步的，所述调节部件包括第一调节环和第二调节环，所述支撑杆的另一端侧具有第一外螺纹，所述测量尺设置在所述第一调节环和所述第二调节环之间。
[0009]进一步的，所述调节部件包括旋转杆、第一固定环和第一移动环，所述支撑杆的另一端具有第一螺纹孔，所述旋转杆转动连接于所述第一螺纹孔，所述第一固定环固定在所述旋转杆上，所述第一移动环螺纹连接于所述第一旋转杆，所述测量尺设置在所述第一调节环和所述第二调节环之间。
[0010]进一步的，所述第一安装孔为第二螺纹孔，所述支撑杆的一端侧面具有第二外螺纹，所述第二外螺纹连接于所述第二螺纹孔。
[0011]进一步的，所述第一安装孔与所述支撑杆之间为过盈配合连接。
[0012]进一步的，固定杆，所述固定把手上具有第一固定孔，所述第一固定孔与所述第一安装孔相互连通，所述固定杆的一端伸入所述第一固定孔并顶接于所述支撑杆。
[0013]进一步的，所述第一移动孔为长条形孔。
[0014]进一步的，所述测量尺的表面具有刻度。
[0015]进一步的，所述支撑杆的一端侧面具有第二固定孔，所述固定杆的一端伸入所述第二固定孔。
[0016]与现有技术相比，本技术具有如下技术效果：
[0017]本技术实施例提供的技术方案中，固定部件的作用是固定测距部件，固定部件包括固定把手、连接块和固定套，固定把手设置在连接块的一端，固定套设置在连接块的另一端，固定块上具有第一安装孔，固定套的一端具有第一凹槽，用于固定石墨夹头；测距部件的作用是确定敲击的位置，测距部件包括支撑杆、测量尺和调节部件，支撑杆的一端设置在第一安装孔内，调节部件设置在支撑杆上，测量尺上具有第一移动孔，第一移动孔套在支撑杆上，相对于现有技术，把石墨夹头及包裹在夹头上面的多晶硅通过氮化钨榔头人工一起敲掉，和硅棒分离，敲击的位置太短，多晶硅碎料多，而且硅棒上的石墨碳头不容易完全剔除，造成多晶硅碳污染，影响产品质量，敲击的位置太长，容易造成多晶硅硅棒免洗料浪费，而且敲下的多晶硅容易被石墨夹头污染，大大增加了后期人员的挑选和清洗人员的工作量，给硅料带来很大的质量隐患，本技术方案中，通过固定套对石墨夹头进行固定，然后通过调节部件纵向调节测量尺的位置，使测量尺与硅棒表面相互贴合，然后横向调节测量尺的位置，从而确定敲击的位置，然后通过调节部件对测量尺的位置进行固定，从而达到精确显示敲击位置的技术效果，进而达到降低劳动强度和生产成本的技术效果。
附图说明
[0018]图1为本技术实施例提供的第一种硅棒碳头敲击定位装置的结构示意图；
[0019]图2为本技术实施例提供的第二种硅棒碳头敲击定位装置的结构示意图；
[0020]图3为本技术实施例提供的一种固定部件的结构示意图；
[0021]图4为本技术实施例提供的一种测量尺的结构示意图；
[0022]图5为本技术实施例提供的一种硅棒碳头敲击定位装置的使用状态结构示意图。
具体实施方式
[0023]下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。
[0024]如图1、图3、图4和图5所示，本技术实施例提供了一种硅棒碳头敲击定位装置，该装置包括：
[0025]固定部件，固定部件包括固定把手11、连接块12和固定套13，固定把手11设置在连接块12的一端，固定套13设置在连接块12的另一端，固定块上具有第一安装孔15，固定套13的一端具有第一凹槽14，用于固定石墨夹头8；
[0026]测距部件，测距部件包括支撑杆21、测量尺22和调节部件23，支撑杆21的一端设置在第一安装孔15内，调节部件23设置在支撑杆21上，测量尺22上具有第一移动孔，第一移动孔套在支撑杆21上。
[0027]本技术实施例提供的技术方案中，固定部件的作用是固定测距部件，固定部件包括固定把手11、连接块12和固定套13，固定把手11设置在连接块12的一端，固定套13设
置在连接块12的另一端，固定块上具有第一安装孔15，固定套13的一端具有第一凹槽14，用于固定石墨夹头8；测距部件的作用是确定敲击的位置，测距部件包括支撑杆21、测量尺22和调节部件23，支撑杆21的一端设置在第一安装孔15内，调节部件23设置在支撑杆21上，测量尺22上具有第一移动孔，第一移动孔套在支撑杆21上，相对于现有技术，把石墨夹头8及包裹在夹头上面的多晶硅通过氮化钨榔头9人工一起敲掉，和硅棒分离，敲击的位置太短，多晶硅碎料多，而且硅棒上的石墨碳头不容易完全剔除，造成多晶硅碳污染，影响产品质量，敲击的位置太长，容易造成多晶硅硅棒免洗料浪费，而且敲下的多晶硅容易被石墨夹头8污染，大大增加了后期人员的挑选和清洗人员的工作量，给硅料带来很大的质量隐患，本技术方案中，通过固定套13对石墨夹头8进行固定，然后通过调节部件23纵向调节测量尺22的位置，使测量尺22与硅棒表面相互贴合，然后横向调节测量尺22的位置，从而确定敲击的位置，然后通过调节部件23对测量尺22的位置进行固定，从而达到精确显示敲击位置的技术效果，进而达到降低劳动强度和生产成本的技术效果。
[0028]上述固定部件的作用是固定测距部件，固定部件包括固定把手11、连接块12和固定套13，固定把手11设置在连接块12的一端本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硅棒碳头敲击定位装置，其特征在于，包括：固定部件，所述固定部件包括固定把手、连接块和固定套，所述固定把手设置在所述连接块的一端，所述固定套设置在所述连接块的另一端，所述固定块上具有第一安装孔，所述固定套的一端具有第一凹槽，用于固定石墨夹头；测距部件，所述测距部件包括支撑杆、测量尺和调节部件，所述支撑杆的一端设置在所述第一安装孔内，所述调节部件设置在所述支撑杆上，所述测量尺上具有第一移动孔，所述第一移动孔套在所述支撑杆上。2.根据权利要求1所述的硅棒碳头敲击定位装置，其特征在于，所述调节部件包括第一调节环和第二调节环，所述支撑杆的另一端侧具有第一外螺纹，所述测量尺设置在所述第一调节环和所述第二调节环之间。3.根据权利要求1所述的硅棒碳头敲击定位装置，其特征在于，所述调节部件包括旋转杆、第一固定环和第一移动环，所述支撑杆的另一端具有第一螺纹孔，所述旋转杆转动连接于所述第一螺纹孔，所述第一固定环固定在所述旋转杆上，所述第一移动环螺纹连接于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁建，
申请(专利权)人：新疆大全新能源股份有限公司，
类型：新型
国别省市：