引线框架材料残余应力检测方法技术

本发明专利技术涉及一种引线框架材料残余应力检测方法，包括下列步骤：在标准铜带材分条处理前进行取样，得到铜带样片；将铜带样片通过胶带固定到耐蚀板上，在胶带上设置至少一个位于铜带样片上的观测孔；将带有铜带样片的耐蚀板放入腐蚀液中腐蚀，直至观测孔中的铜带溶解；清洗铜带样片，晾干后测量铜带样片的翘曲高度。本发明专利技术提供的引线框架材料残余应力检测方法通过胶带将选取铜带样片贴合到耐蚀板上，再将其投入腐蚀液进行腐蚀，通过测量腐蚀后的铜带样片的翘曲高度，确定引线框架材料的残余应力大小，判断其是否满足生产使用要求，可以提前对引线框架材料的残余应力进行评价，并且检测方法简单，检测效率大幅度提升。检测效率大幅度提升。检测效率大幅度提升。

【技术实现步骤摘要】
引线框架材料残余应力检测方法


[0001]本专利技术涉及材料检测方法领域，特别是涉及一种引线框架材料残余应力检测方法。

技术介绍

[0002]常规C19400(美标铁青铜)引线框架母带，在加工过程中材料内部会产生残余应力，随着电子行业向轻薄化、精密化的趋势发展，下游工序越来越多的选择蚀刻工艺进行引线框架材料的加工，要求母带材料的残余应力越小越好。因此，在母带材料出厂前，对其残余应力的检测工作就显得尤为必要。
[0003]传统的残余应力检测方法既繁琐，又不能保证检测结果的准确性，为了适应快节奏的生产需要，检测方法需要不断简化且保持较为准确的测量精度。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述提到的至少一个问题，提供一种引线框架材料残余应力检测方法。
[0005]本专利技术申请提供的引线框架材料残余应力检测方法，包括下列步骤：
[0006]在标准铜带材分条处理前进行取样，得到铜带样片；
[0007]将所述铜带样片通过胶带固定到耐蚀板上，在所述胶带上设置至少一个位于所述铜带样片上的观测孔；
[0008]将带有所述铜带样片的耐蚀板放入腐蚀液中腐蚀，直至所述观测孔中的铜带溶解；
[0009]清洗所述铜带样片，晾干后测量所述铜带样片的翘曲高度。
[0010]在其中一个实施例中，所述铜带样片的长度为300～500mm，所述铜带样片的宽度为60～100mm。
[0011]在其中一个实施例中，所述胶带采用透明胶带，所述耐蚀板为塑料板；所述透明胶带的宽度方向上，一部分粘贴在所述耐蚀板上，另一部分粘贴在所述铜带样片的边沿上。
[0012]在其中一个实施例中，所述腐蚀液包括三氯化铁和盐酸，所述盐酸的浓度为1～5％。
[0013]在其中一个实施例中，所述腐蚀液的温度为25～35℃。
[0014]在其中一个实施例中，所述清洗所述铜带样片的步骤包括：
[0015]将腐蚀后的所述铜带样片从所述耐蚀板上取下，采用清水冲洗所述铜带样片并晾干。
[0016]在其中一个实施例中，所述晾干后测量所述铜带样片的翘曲高度的步骤，包括：
[0017]将晾干后的所述铜带样片垂直悬置后，松开所述铜带样片的下边沿；
[0018]测量所述铜带样片的下边沿与垂直面的间距，确定所述铜带样片的翘曲高度。
[0019]本专利技术的实施例中提供的技术方案带来如下有益技术效果：
[0020]本专利技术提供的引线框架材料残余应力检测方法通过胶带将选取铜带样片贴合到耐蚀板上，再将其投入腐蚀液进行腐蚀，通过测量腐蚀后的铜带样片的翘曲度，确定引线框架材料的残余应力大小，判断其是否满足生产使用要求，可对大尺寸的标准铜带材进行分条裁剪前选取样品，也就可以提前对引线框架材料的残余应力进行评价，并且检测方法简单，检测效率大幅度提升。
[0021]本申请附加的方面和优点将在后续部分中给出，并将从后续的描述中详细得到理解，或通过对本专利技术的具体实施了解到。
附图说明
[0022]图1为本专利技术一实施例中引线框架材料残余应力检测方法的方法流程示意图；
[0023]图2为本专利技术一实施例中铜带样片贴合到耐蚀板的贴合示意图。
具体实施方式
[0024]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的可能的实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文已经通过附图描述的实施例。通过参考附图描述的实施例是示例性的，用于使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面，而不能解释为对本专利技术的限制。此外，如果已知技术的详细描述对于示出的本专利技术的特征是非必要技术的，则可能将这些技术细节予以省略。
[0025]相关领域的技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本专利技术所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
[0026]本
技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
[0027]下面以具体地实施例对本专利技术的技术方案以及该技术方案如何解决上述的技术问题进行详细说明。
[0028]本专利技术申请提供的引线框架材料残余应力检测方法，如图1所示，包括下列步骤：
[0029]S100：在标准铜带材分条处理前进行取样，得到铜带样片。可选的，在本专利技术申请提供的一个实施例的一种具体实现方式中铜带样片的长度为 300～500mm，铜带样片的宽度为60～100mm，例如长度为400mm，铜带样片的宽度为80mm。
[0030]S200：将铜带样片通过胶带固定到耐蚀板上，在胶带上设置至少一个位于铜带样片上的观测孔。可选的，如图2所示，胶带采用透明胶带，耐蚀板为塑料板；透明胶带的宽度方向上，一部分粘贴在耐蚀板上，另一部分粘贴在铜带样片的边沿上。
[0031]S300：将带有铜带样片的耐蚀板放入腐蚀液中腐蚀，直至观测孔中的铜带溶解。可选的，腐蚀液包括三氯化铁和盐酸，盐酸的浓度为1～5％，具体可选为盐酸的浓度为2％。可选的，腐蚀液的温度为25～35℃。
[0032]S400：清洗铜带样片，晾干后测量铜带样片的翘曲高度。可选的，清洗铜带样片的步骤包括：将腐蚀后的铜带样片从耐蚀板上取下，采用清水冲洗铜带样片并晾干。
[0033]本专利技术提供的引线框架材料残余应力检测方法通过胶带将选取铜带样片贴合到耐蚀板上，再将其投入腐蚀液进行腐蚀，通过测量腐蚀后的铜带样片的翘曲度，确定引线框架材料的残余应力大小，判断其是否满足生产使用要求，可对大尺寸的标准铜带材进行分条裁剪前选取样品，也就可以提前对引线框架材料的残余应力进行评价，并且检测方法简单，检测效率大幅度提升。
[0034]可选的，在一个具体实施方式中，晾干后测量铜带样片的翘曲高度的步骤，包括：将晾干后的铜带样片垂直悬置后，松开铜带样片的下边沿。测量铜带样片的下边沿与垂直面的间距，确定铜带样片的翘曲高度。
[0035]在一个实际案例中，可将整套方法提炼为：分条前取样——样品预处理(样片长
×
宽为400
×
80、单位mm)——铜带样品单面粘贴胶带(可采用普通的透明胶带)并固定至耐蚀板(非金属塑料材质均可)——单面胶带挖孔并剥离挖孔处胶带——蚀刻机腐蚀液配置(三氯化铁+盐酸、浓度2％)——腐蚀液预加热(设定30℃)——样品腐蚀(一次可腐蚀2片样品、蚀刻机内单向本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种引线框架材料残余应力检测方法，其特征在于，包括下列步骤：在标准铜带材分条处理前进行取样，得到铜带样片；将所述铜带样片通过胶带固定到耐蚀板上，在所述胶带上设置至少一个位于所述铜带样片上的观测孔；将带有所述铜带样片的耐蚀板放入腐蚀液中腐蚀，直至所述观测孔中的铜带溶解；清洗所述铜带样片，晾干后测量所述铜带样片的翘曲高度。2.根据权利要求1所述的引线框架材料残余应力检测方法，其特征在于，所述铜带样片的长度为300～500mm，所述铜带样片的宽度为60～100mm。3.根据权利要求1所述的引线框架材料残余应力检测方法，其特征在于，所述胶带采用透明胶带，所述耐蚀板为塑料板；所述透明胶带的宽度方向上，一部分粘贴在所述耐蚀板上，另一部分粘贴在所述铜带样片的...

【专利技术属性】
技术研发人员：董振兴，张武，赵健，蒋强，任杰克，潘菲，
申请(专利权)人：中铜华中铜业有限公司，
类型：发明
国别省市：