【技术实现步骤摘要】
一种光学硬化膜试产线用缺陷检测系统
[0001]本专利技术属于光学硬化膜生产
，尤其是涉及一种光学硬化膜试产线用缺陷检测系统。
技术介绍
[0002]光学硬化膜一般包括透明基材和涂覆在透明基材表面经热固和/或UV光固形成的透明硬化层。在生产过程中，透明基材本身的缺陷(如扎点、划痕、孔洞等)、生产原料流转时被污染或人为因素致使透明硬化层混入异物(如气泡、团聚粒子、蚊虫等)以及在光学硬化膜的制备过程中因机械磕碰产生的划伤等缺陷，都会严重影响光学硬化膜的品质。
[0003]为优化量产工艺，在正式量产前需要进行试产，试产前需要人工进行透明基材的来料检验和光学硬化膜试生产过程检验，根据检验结果为后续生产工艺的优化及过程控制提供参考依据。透明基材的来料检验为采用人工检测透明基材卷料的外圈，且仅以外圈上各种缺陷的分布情况作为依据判断透明基材的来料是否合格，但是若透明基材卷料的外圈合格，而透明基材卷料的内圈存在缺陷，且内圈上的缺陷在涂布前未被及时发现，则可能严重影响光学硬化膜的品质，致使硬化涂液大量浪费。另外，透明基材上的部分...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学硬化膜试产线用缺陷检测系统，包括卷绕有透明基材的放卷单元、第一输送单元、用于将硬化涂液涂布到所述的透明基材下表面上的涂布单元、第二输送单元、用于将所述的透明基材上的硬化涂液固化形成透明硬化层的固化单元、收卷单元、警报单元和控制单元，所述的透明基材依次通过所述的第一输送单元、所述的涂布单元、所述的第二输送单元、所述的固化单元后得到光学硬化膜，所述的光学硬化膜卷绕到所述的收卷单元上，其特征在于所述的放卷单元与所述的第一输送单元之间沿输送方向依次设置有第一光学检测设备和第一打标装置，所述的第一光学检测设备用于检测所述的透明基材上的缺陷，将所述的第一光学检测设备检测到的缺陷记为第一缺陷，所述的第一打标装置根据所述的第一缺陷所在的位置在所述的透明基材的上表面上做第一标识，所述的第一标识包括与所述的第一缺陷最严重的位置相对应的第一十字标识和将所述的第一缺陷包围的第一图形标识，所述的第一图形标识的形状与所述的第一缺陷的类型相对应；所述的固化单元与所述的收卷单元之间沿输送方向依次设置有第二光学检测设备、第二打标装置和第三光学检测设备，所述的第二光学检测设备用于检测所述的光学硬化膜上的缺陷，将所述的第二光学检测设备检测到的缺陷记为第二缺陷，所述的第二打标装置根据所述的第二缺陷所在的位置在所述的透明基材的上表面上做第二标识，所述的第二标识包括与所述的第二缺陷最严重的位置相对应的第二十字标识和将所述的第二缺陷包围的第二图形标识，所述的第二图形标识的形状与所述的第二缺陷的类型相对应，所述的第三光学检测设备用于识别所述的第一十字标识、所述的第一图形标识、所述的第二十字标识和所述的第二图形标识，并将识别的图像数据发送至所述的控制单元；所述的控制单元用于控制所述的第一光学检测设备、所述的第一打标装置、所述的第一输送单元、所述的涂布单元、所述的第二输送单元、所述的固化单元、所述的第二光学检测设备、所述的第二打标装置、所述的第三光学检测设备、所述的收卷单元和所述的警报单元协同工作，并根据所述的第三光学检测设备发送的图像数据做出如下判定：a.若以某一位置处的第一十字标识为中心的Lcm范围内没有第二十字标识，则表示该位置处的第一缺陷能够被透明硬化层完全遮盖；b.若以某一位置处的第一十字标识为中心的Lcm范围内有1～n个第二十字标识，与该位置处Lcm范围内的所有第二十字标识相对应的第二图形标识的形状和该位置处的第一图形标识的形状均相同，则表示该位置处的第一缺陷不能被透明硬化层完全遮盖；c.若以某一位置处的第一十字标识为中心的Lcm范围内有1～n个第二十字标识，与该位置处Lcm范围内的所有第二十字标识相对应的第二图形标识的形状分别和该位置处的第一图形标识的形状不同，则表示该位置处的第一缺陷能够被透明硬化层完全遮盖，但在涂布过程中引入了新的缺陷；d.若以某一位置处的第一十字标识为中心的Lcm范围内有2～n个第二十字标识，与该位置处Lcm范围内的部分第二十字标识相对应的第二图形标识的形状和该位置处的第一图形标识的形状相同，与该位置处Lcm范围内的另一部分第二十字标识相对应的第二图形标识的形状分别和该位置处的第一图形标识的形状不同，则表示该位置处的第一缺陷不能被透明硬化层完全遮盖，且在涂布过程中引入了新的缺陷；e.若...
【专利技术属性】
技术研发人员：樊燕，张永汉，董红星，
申请(专利权)人：宁波惠之星新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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