一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：包括玻璃和用于检测玻璃的光源，所述玻璃竖直放置，光源位于玻璃的底部，玻璃的底部与光源接触。光源发出的光为黄光。本实用新型专利技术检验的光为黄光，黄色的光穿透性好，且玻璃竖向放置，从玻璃端面打光，光线穿透玻璃，肉眼平视检验，光线遇点状缺陷会产生折射，肉眼检验为亮点不良，故可以检出0.005～0.01mm的点状缺陷。检验装置还包括背景板，背景板竖直放置，背景板与玻璃前后排列放置；背景板为黑色，背景板位于玻璃的后面。将背景设置为黑色，更利于微小缺陷的检查。检查。检查。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置


[0001]本技术属于玻璃检测
，具体涉及一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置。

技术介绍

[0002]目前玻璃表观一般的检验方法为日光灯反射光和透射光，缺陷尺寸在 0.05mm以上可以检出，但小于0.05mm的缺陷在现有的检验条件下无法检出。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中存在的不足，本技术的目的在于提供一种结构简单、使用方便的用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，通过该检验装置肉眼可以检出0.005～0.01mm的点状缺陷。
[0004]为实现上述目的，本技术的技术方案为：一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：包括玻璃和用于检测玻璃的光源，所述玻璃竖直放置，光源位于玻璃的底部，玻璃的底部与光源接触。
[0005]进一步的，所述光源发出的光为黄光。
[0006]进一步的，所述检验装置还包括背景板，背景板竖直放置，背景板与玻璃前后排列放置。
[0007]进一步的，所述背景板为黑色，背景板位于玻璃的后面。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：包括玻璃(1)和用于检测玻璃(1)的光源(2)，所述玻璃(1)竖直放置，光源(2)位于玻璃(1)的底部，玻璃(1)的底部与光源接触。2.如权利要求1所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：所述光源(2)发出的光为黄光。3.如权利要求1或2所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：所述检验装置还包括背景板(3)，背景板(3)竖直放置，背景板(3)与玻璃(1)前后排列放置。4.如权利要求3所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：所述背景板(3)为黑色，背景板(3)位于玻璃(1)的后面。5.如权利要求4所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：所述检验装置还包括机架(4)，机架(4)包括底座(41)和立杆(42)，立杆(42)固定连接在底座(41)上。6.如权利要求5所述的一种用于检测玻璃表面微观点状缺陷的检验装置，其特征在于：所述玻璃(1)和背景板(3)均竖直安装在机架(4)上，玻璃(1)和背景板(3)的两...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍晓胜，吕如军，刘梅，王蒙蒙，蒋家斌，
申请(专利权)人：芜湖长信科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：