薄膜处理系统和方法技术方案

本发明专利技术提供一种薄膜处理系统和方法，所述薄膜处理系统包括：一种薄膜处理系统，其包括：第一抛光装置，被配置的对薄膜带的第一表面进行抛光，其包括至少一个抛光组件；第二抛光装置，被配置的对薄膜带的第二表面进行抛光，其包括至少一个抛光组件，其中所述抛光组件包括从动辊和抛光单元，所述薄膜带从从动辊和抛光单元之间的穿过，所述抛光单元用于对接触到的薄膜带的表面进行抛光。这样可以在一个处理流程中，实现对所述薄膜带的双面进行抛光处理，无需中断，生产效率高。生产效率高。生产效率高。

【技术实现步骤摘要】
薄膜处理系统和方法


[0001]本专利技术涉及薄膜处理领域，尤其涉及一种薄膜处理系统和方法。

技术介绍

[0002]现有技术中的卷对卷压印设备一般用于单层结构压印。对多层柔性印刷电路(Flexible Printed Circuit，FPC)，包括触控模组在内，传统方案都是逐片制备 (曝光、刻蚀、对准贴合)，制程工效低、折叠性差、大尺寸电路线宽大约10 微米，还存在污染问题。
[0003]由于所述柔性印刷电路具有柔性，很难精确的控制所述柔性印刷电路张力或拉伸度，这样在后续的曝光、刻蚀或对准贴合等处理中很难进行对位。此外，在薄膜上进行进一步的处理，比如对准压印等步骤时，需要的对准精度比较高，目前的卷对卷压印设备在应用于柔性薄膜的进一步处理时通常会遇到对位精度不能满足要求的问题。
[0004]对于触控薄膜的处理过程中，通常需要进行上浆、填刮、裱干和抛光等处理，然而，现有的处理方式通常都是对单个的触控薄膜进行处理，处理效率低。此外，由于所述触控薄膜具有两个导电层，形成两个导电层需要分别执行，生产效率低，不能满足大规模生产的需要。尤其是，目前抛光步骤都是单独处理的，效率很低。
[0005]因此有必要提出一种改进的薄膜处理方案。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种薄膜处理系统和方法，其可以在快速的对薄膜带的两个表面进行抛光处理，效率很高。
[0007]为实现专利技术目的，根据本专利技术的一个方面，本专利技术提供一种薄膜处理系统，其包括：第一抛光装置，被配置的对薄膜带的第一表面进行抛光，其包括至少一个抛光组件；第二抛光装置，被配置的对薄膜带的第二表面进行抛光，其包括至少一个抛光组件，其中所述抛光组件包括从动辊和抛光单元，所述薄膜带从从动辊和抛光单元之间的穿过，所述抛光单元用于对接触到的薄膜带的表面进行抛光。
[0008]根据本专利技术的另一个方面，本专利技术提供一种一种薄膜处理方法，其包括：第一抛光装置对薄膜带的第一表面进行抛光，所述第一抛光装置包括至少一个抛光组件；第二抛光装置，被配置的对薄膜带的第二表面进行抛光，所述第一抛光装置包括至少一个抛光组件，其中所述抛光组件包括从动辊和抛光单元，所述薄膜带从从动辊和抛光单元之间的穿过，所述抛光单元用于对接触到的薄膜带的表面进行抛光。
[0009]与现有技术相比，本专利技术薄膜处理系统和方法，可以在同一个处理阶段中，在薄膜带的两个表面上同步实现抛光等处理，生产效率大幅提高。
附图说明
[0010]图1为本专利技术中的薄膜处理系统在第一实施例中的结构示意图；
[0011]图2为本专利技术中的薄膜带上的多个第一图案的示意图；
[0012]图3为本专利技术中触控薄膜在一个实施例中的形成过程示意图；
[0013]图4为本专利技术中触控薄膜在另一个实施例的形成过程示意图；
[0014]图5为本专利技术中的薄膜处理系统在第二实施例中的结构示意图；
[0015]图6为本专利技术中的薄膜带在处理过程中各种形态的示意图；
[0016]图7为本专利技术中的薄膜处理系统的上料组件在一个实施例中的结构示意图；
[0017]图8为本专利技术中的薄膜处理系统的收料组件在一个实施例中的结构示意图；
[0018]图9为本专利技术中的触控薄膜的对位示意图。
[0019]图10为本专利技术中的薄膜处理系统在第三实施例中的结构示意图；
[0020]图11为图10中的薄膜处理系统处理过程中的薄膜带在各个步骤时的截面结构示意图。
[0021]图12为本专利技术中的薄膜处理系统在一个实施例中的结构示意图；
[0022]图13为本专利技术中的抛光装置在一个实施例中的结构示意图。
具体实施方式
[0023]为更进一步阐述本专利技术为达成预定专利技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如下。
[0024]薄膜处理方案的第一实施例
[0025]根据本专利技术的一个方面，本专利技术提供一种薄膜处理系统，在该薄膜处理系统中通过调控两个主动辊的转速，来精确的调整位于两个主动辊之间的薄膜带的拉伸度。
[0026]图1为本专利技术中的薄膜处理系统在一个实施例100中的结构示意图。如图 1所示的，所述薄膜处理系统100包括第一主动辊110、第二主动辊120、拉伸检测装置130和控制器140。
[0027]所述第一主动辊110可以在所述控制器140的控制下进行转动，图1示例性的示出了所述第一主动辊110的转动方向R1，所述第一主动辊110的转动可以驱动薄膜带200沿着箭头F1的方向向前传送。所述控制器140可以控制所述第一主动辊110的转动速度和/或转动方向。
[0028]第二主动辊120也可以在所述控制器140的控制下进行转动，图1示例性的示出了所述第二主动辊120的转动方向R2，所述第二主动辊120的转动可以驱动来自第一主动辊110的薄膜带200沿着箭头F2的方向向前传送。所述控制器140可以控制所述第二主动辊120的转动速度和/或转动方向。
[0029]所述拉伸检测装置130被配置的检测位于第一主动辊110和第二主动辊 120之间的薄膜带200上的定位标识之间的距离值。在一个实施例中，所述拉伸检测装置130可以包括光电传感器，所述光电传感器可以识别所述薄膜带200 上的定位标识，并据此测定两个定位标识之间的距离值。在另一个实施例中，所述拉伸检测装置130可以包括图像采集装置，所述图像采集装置可以对所述薄膜带200进行拍照，根据拍摄的照片可以识别出所述薄膜带200上的定位标识，并据此测定所述定位标识之间的距离值。
[0030]所述薄膜带200可以一段连续的薄膜，所述薄膜带200具有一定的弹性。在一个实施例中，所述薄膜带200可以是触控薄膜或制成触控薄膜的原料薄膜。在一个实施例中，所述薄膜带200上包括沿薄膜带的长度方向上重复排布的第一图案。图2为本专利技术中的薄膜带
200上的多个第一图案的示意图，其中示例的出给了三个第一图案，分别为210a，210b和210c，在每个第一图案中具有一个定位标识211，该定位标识就是一个线段。当然，在其他实施例中，所述定位标识也可以是一个圆圈标识、一个十字标识或其他形状的标识。所述第一图案可以是任意图案，本专利技术对此并不做限定。可见，相邻的两个第一图案之间的两个定位标识211之间的距离D1能够非常直接的反映所述薄膜带200的拉伸度。
[0031]所述控制器140与所述拉伸检测装置130电性连接，这样所述控制器140 可以接收来自所述拉伸检测装置130的检测信号，即所述拉伸检测装置检测得到的距离值。所述控制器140与第一主动辊110和第二主动辊120电性连接，这样所述控制器140就可以向第一主动辊110和第二主动辊120发送控制信号，以调控第一主动辊110和第二主动辊120的转速和/或转向。所述控制器140基于所述拉伸检测装置130检测得到的距离值D
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调控第一主动辊110和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜处理系统，其特征在于，其包括：第一抛光装置，被配置的对薄膜带的第一表面进行抛光，其包括至少一个抛光组件；第二抛光装置，被配置的对薄膜带的第二表面进行抛光，其包括至少一个抛光组件，其中所述抛光组件包括从动辊和抛光单元，所述薄膜带从从动辊和抛光单元之间的穿过，所述抛光单元用于对接触到的薄膜带的表面进行抛光。2.根据权利要求1所述的薄膜处理系统，其特征在于，进入所述从动辊的薄膜带和传出所述从动辊的薄膜带的夹角为锐角，所述抛光单元与所述从动辊的中心的连线为所述锐角的中心线。3.根据权利要求1所述的薄膜处理系统，其特征在于，其还包括：第一上浆装置，其被配置的在薄膜带的第一表面上涂布导电浆料，其中所述薄膜带的第一表面上设置有形成重复排布的第一图案，所述薄膜带的第二表面上设置有形成重复排布的第二图案，第一图案包括有多个凹槽，第二图案包括有多个凹槽；第一填刮装置，其被配置的将所述导电浆料填刮至第一图案的凹槽内；第一裱干装置，其被配置的对填充于第一图案的凹槽内所述导电浆料进行干化；第二上浆装置，其被配置的在薄膜带的第二表面上涂布导电浆料；第二填刮装置，其被配置的将所述导电浆料填刮至第二图案的凹槽内；第二裱干装置，其被配置的对填充于第二图案的凹槽内所述导电浆料进行干化；其中第一抛光装置对经过第一裱干装置的薄膜带的第一表面进行抛光，第二抛光装置对经过第二裱干装置的薄膜带的第二表面进行抛光。4.根据权利要求3所述的薄膜处理系统，其特征在于，其还包括有：转向组件，用于对所述薄膜带进行转向，将所述薄膜带的第二表面转为朝上，第一表面转为朝下。5.根据权利要求3所述的薄膜处理系统，其特征在于，其还包括：覆膜装置，用于在第一抛光装置后将一保护膜覆盖于所述薄膜带的第一表面，以对填好导电浆料的第一表面进行保护。6.根据权利要求3所述的薄膜处理系统，其特征在于，所述薄膜带的第一图案是形成于所述薄膜带的第一表面的第一胶层经过第一版辊压印而成的，其中第一版辊的辊面上设置有压印结构；所述薄膜带的第二图案是形成于所述薄膜带的第二表面的第二胶层经过第二版辊压印而成的，其中第二版辊的辊面上设置有压印结构；第一图案包括第一对位标识，第二图案包括第二对位标识，基于第一对位标识和第二对位标识，所述薄膜带上的第一图案和第二图案实现对位。7.根据权利要求6所述的薄膜处理系统，其特征在于，其还包括：对位检测装置，其检测所...

【专利技术属性】
技术研发人员：周小红，基亮亮，刘麟跃，
申请(专利权)人：维业达科技江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：