【技术实现步骤摘要】
一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机
[0001]本专利技术涉及半导体晶振
,具体为一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机。
技术介绍
[0002]目前半导体晶振在投入使用前,需要利用半导体晶振检测机对其进行一系列的检测,以确保产品的完好性,最后再将其装配到料带上进行覆膜,但是现有的半导体晶振检测机,在使用时,不仅体积较大,各个机构之间分布较为分散,无法保证检测的连续性,而且还需要工作人员在旁辅助,费时费力,增加了劳动成本,降低了检测效率,为此,本领域的工作人员提出了一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机。
技术实现思路
[0003]针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机,解决了现有的半导体晶振检测机,在使用时,不仅体积较大,各个机构之间分布较为分散,无法保证检测的连续性,而且还需要工作人员在旁辅助,费时费力,增加了劳动成本,降低了检测效率的问题。
[0004]为实现以上目的,本专利技术通过以下技术方案予以实现:一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机,包括工作台,所述工作台的上端分别安装有振料盘、抓取上料机构、上料摆正机构、绝缘测试机构、阻抗测试机构、频率测试机构、激光打标机构、下料摆正机构、治具锁止检测机构、抓取下料机构、分选分装机构、料带封装机构和CCD检测机构,所述上料摆正机构和下料摆正机构的结构相同,所述抓取上料机构和抓取下料机构的结构相同;所述治具锁止检测机构包括转盘,所述转盘的顶部边缘分别安装有若干组等距离且呈圆周状分布的治具组件,所述转盘的上方且 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机,包括工作台(1),其特征在于,所述工作台(1)的上端分别安装有振料盘(2)、抓取上料机构(3)、上料摆正机构(4)、绝缘测试机构(5)、阻抗测试机构(6)、频率测试机构(7)、激光打标机构(8)、下料摆正机构(9)、治具锁止检测机构(10)、抓取下料机构(12)、分选分装机构(11)、料带封装机构(13)和CCD检测机构(14),所述上料摆正机构(4)和下料摆正机构(9)的结构相同,所述抓取上料机构(3)和抓取下料机构(12)的结构相同;所述治具锁止检测机构(10)包括转盘(101),所述转盘(101)的顶部边缘分别安装有若干组等距离且呈圆周状分布的治具组件(102),所述转盘(101)的上方且位于其中两个所述治具组件(102)的一侧分别安装有推动组件(104)和锁扣组件(105),所述转盘(101)的底部且与锁扣组件(105)相对应处安装有移动下料组件(106),所述转盘(101)的上方且位于其中两个所述治具组件(102)的上方安装有异物检测组件(103)。2.根据权利要求1所述的一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机,其特征在于,所述抓取上料机构(3)包括第一壳座(31)和第二壳座(32),其特征在于,所述第一壳座(31)的底部安装有驱动电机(33),所述驱动电机(33)的动力驱动端通过联轴器(34)连接有爪盘(35),所述爪盘(35)和第二壳座(32)的底部边缘分别安装有若干组等距离且呈圆周状分布的吸料组件(36)和抓料组件(37);所述抓料组件(37)包括抓料座(371)和抓料气缸(372),所述抓料座(371)的底部一侧自上而下分别安装有承力板(373)和抓料滑轨(374),所述抓料滑轨(374)的外部通过抓料滑座(375)连接有第一压板(376),所述承力板(373)和第一压板(376)之间共同通过第一复位弹簧(377)形成固定连接结构;所述吸料组件(36)包括吸料座(361),所述吸料座(361)的上端安装有限位管(363),所述吸料座(361)和限位管(363)的内部共同贯穿有外管(362),所述外管(362)的底部和顶部分别连接有吸取头(366)和压柱(364),所述限位管(363)和压柱(364)之间共同通过第二复位弹簧(365)形成固定连接结构。3.根据权利要求2所述的一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机,其特征在于,所述上料摆正机构(4)包括安装座(41)、升降电机(42)和定位电机(43),其特征在于,所述升降电机(42)的动力驱动端连接有偏心轮(44),所述安装座(41)的内部贯穿有第一驱动杆(45),所述第一驱动杆(45)的底部套接有过渡轮(46),其顶部连接有定位夹持组件(47);所述定位夹持组件(47)包括定位座(471)以及与第一驱动杆(45)相接的顶推杆(475),所述定位座(471)的内部顶端安装有摆正台(472),所述定位座(471)的内部开设有呈“十”字型结构的槽孔,且槽孔的内部通过连接件(473)连接有夹臂(474),所述顶推杆(475)的外表面开设有滚动轮外推槽(476),所述夹臂(474)的内侧安装有与滚动轮外推槽(476)相贴合的滚动轮(477),其顶部则安装有定位头(478)。4.根据权利要求1所述的一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机,其特征在于,所述治具组件(102)包括第二直线滑轨(1021),所述第二直线滑轨(1021)的外部连接有两个相对称的调节滑座(1022),两个所述调节滑座(1022)的顶部共同安装有第一支板(1023),所述第一支板(1023)的顶部一端分别安装有相对称的第一限位柱(1024)和第二限位柱(1025),所述第一支板(1023)的底部安装有竖板(10210),所述竖板(10210)的前侧分别安装有相对称的第三限位柱(10211)和第四限位柱(10212);
所述异物检测组件(103)包括加强座(1031),所述加强座(1031)的一侧安装有滑动气缸(1032),所述滑动气缸(1032)的伸缩端连接有滑板(1033),所述滑板(1033)的一侧安装有背板(1034),所述滑板(1033)和背板(1034)的前侧共同安装有位移感应器(1035),所述背板(1034)的一侧安装有相对称的第四直线滑轨(1036),所述第四直线滑轨(1036)的外部通过第二滑座(1037)连接有侧板(1038),所述侧板(1038)的底部通过第二压板(1039)连接有异物检测板(10310),其外侧安装有传感器感应片(10313),所述异物检测板(10310)的底部设置有若干个等距离的治具槽凸块(10311);所述推动组件(104)包括底座(1041),所述底座(1041)的上端安装有推动气缸(1042),所述推动气缸(1042)的伸缩端连接有推板(1043);所述锁扣组件(105)包括固定座(1051),所述固定座(1051)的上端安装有第一直线滑轨(1052),所述第一直线滑轨(1052)的外部连接有锁止滑座(1053),所述锁止滑座(1053)的上端安装有锁扣板(1054),所述锁扣板(1054)的一端设置有第一凸块(1056),另一端则通过第五复位弹簧(1055)与固定座(1051)形成固定连接结构,所述锁扣板(1054)的顶部安装有抵柱(1057);所述移动下料组件(106)包括横板(1061),所述横板(1061)的上端分别安装有调节气缸(1062)和横座(1063),所述横座(1063)的内部连接有移动滑座(1064),所述移动滑座(1064)的上端安装有L形板(1065),所述L形板(1065)的内部安装有升降气缸(1066),所述升降气缸(1066)的伸缩端连接有升降座(1067),所述升降座(1067)的顶部通过第六复位弹簧(1068)连接有顶板(1069),所述顶板(1069)的顶端设置有第二凸块(10610)。5.根据权利要求4所述的一种全自动高速转盘式半导体晶振检测机,其特征在于,所述分选分装机构(11)包括支架(111)和分装电机(118),其特征在于,所述支架(111)的内部安装有放置箱(112),所述放置箱(112)的内部放置有若干组等距离且呈圆周状分布的分装盒(113),所述支架(111)的内部顶端安装有相对称的夹持板(114),两个所述夹持板(114)的底部共同安装有挡板组件(115),所述支架(111)和挡板组件(115)之间共同连接有分装组件(116),所述分装组件(116)的外部套接有第二从动轮(117),所述分装电机(118)的动力驱动端套接有第二主动轮(119),所述第二从动轮(117)和第二主动轮(119)的外部共同套设有第二皮带(1110);所述分装组件(116)包括第二驱动杆(1161...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐新君,卓维煌,唐升平,高威,张鑫,胡松华,
申请(专利权)人:深圳市铭宇泰科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。