【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子设备,尤其涉及一种电子元件引脚测试机构。
技术介绍
1、电子元件,是电子电路中的基本元素,常规的电子元件具有引脚,通过引脚连接电路板,从而构成一个具有特定功能的电子电路;为确保电子元件性能,降低电子电路的故障率,电子元件在生产出来后需要进行集中检测。
2、在检测电子元件的性能时,需要将电子元件的引脚连接测试设备,而由于引脚较为细小,一般需要通过人工手持电子元件来完成引脚的连接操作;人工操作时,需要等待前料检测完毕后才能重新取料检测,整个过程中需要耗费较长的时间,工作效率较低,且容易发生遗漏。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、本技术提供了一种电子元件引脚测试机构,可以提高工作效率,并避免遗漏检测。
3、(二)技术方案
4、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
5、一种电子元件引脚测试机构,包括底座、旋盘、工位块、隔板、测试件和驱动机构;所述旋盘可转动地安装于所述底座上;所述工位块设有多个并呈圆周阵列地安
...【技术保护点】
1.一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,所述测试件(5)设有多个并呈半圆周状阵列安装于所述隔板(4)上,随所述旋盘(2)转动,多个所述测试件(5)逐一连接或错开对应的电子元件(7)的引脚(71)。
3.根据权利要求1所述的一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,所述测试件(5)包括固定块(51)、上测试片(52)和下测试片(53);所述固定块(51)安装于所述隔板(4)上,所述上测试片(52)安装于所述固定块(51)上并位于所述隔板(4)的顶侧面,所述下测试片(53)安装于所
...【技术特征摘要】
1.一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,所述测试件(5)设有多个并呈半圆周状阵列安装于所述隔板(4)上,随所述旋盘(2)转动,多个所述测试件(5)逐一连接或错开对应的电子元件(7)的引脚(71)。
3.根据权利要求1所述的一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,所述测试件(5)包括固定块(51)、上测试片(52)和下测试片(53);所述固定块(51)安装于所述隔板(4)上,所述上测试片(52)安装于所述固定块(51)上并位于所述隔板(4)的顶侧面,所述下测试片(53)安装于所述固定块(51)上并位于所述隔板(4)的底侧面;
4.根据权利要求3所述的一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,还包括撑板(8),所述撑板(8)安装于所述隔板(4)一侧,且所述撑板(8)的厚度值沿远离所述隔板(4)的方向逐渐减小;所述撑板(8)先于所述隔板(4)靠拢所述电子元件(7),以将两根所述引脚(71)隔离至所述隔板(4)的顶侧面和底侧面。
5.根据权利要求4所述的一种电子元件引脚测试机构,其特征在于,所述上测试片(52)采用具备弹性的导电材料制成,且所述上测试片(52)一端设有倾斜设计的抵片(54);所述工位块(3)对齐所述上测试片(52)时,所述抵片(54)可将所述电子元件(7)的一根引脚(71)抵接于所述隔板(4)的顶侧面上;所述下测试片(53)的结构与所述上测试片(52)的结构相同,并可将所述电子元件(7)的另一根引脚(71)抵接于所述隔板(4)的底侧面上。
6.根据权利要求5...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐新君,
申请(专利权)人:深圳市铭宇泰科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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