一种三合一电子元件晶振下压测试机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三合一电子元件晶振下压测试机构，涉及晶振检测技术领域，包括由电机进行驱动旋转的转盘，在所述转盘的边缘固定安装有若干个晶振治具，在所述转盘的上方设置有往复下压机构，所述往复下压机构边缘分别固定安装有绝缘测试探头、阻抗测试探头、频率测试探头，该晶振下压测试机构，将绝缘测试、阻抗测试以及频率测试集成在一台设备上进行测试，形成三合一测试结构，并且三种性能的测试是同时进行的，中间不存在真空期，从而进一步提高了晶振性能测试的效率，加快测试速度，提高晶振的产量。提高晶振的产量。提高晶振的产量。

【技术实现步骤摘要】
一种三合一电子元件晶振下压测试机构


[0001]本技术涉及晶振检测
，具体为一种三合一电子元件晶振下压测试机构。

技术介绍

[0002]为了提高晶振在后期投入使用的效果，成品晶振在生产后，均需要进行性能测试，包括绝缘测试、阻抗测试以及频率测试，然而上述三个测试项目，均需要在不同的检测设备上完成，无法做到同时进行，从而造成晶振性能检测效率较低的问题，为此，本领域的技术人员提出了一种三合一电子元件晶振下压测试机构。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本技术提供了一种三合一电子元件晶振下压测试机构，解决了现有晶振在性能测试时，绝缘、阻抗以及频率均需要在不同的检测设备上完成，无法做到同时进行，从而造成晶振性能检测效率较低的问题。
[0004]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种三合一电子元件晶振下压测试机构，包括由电机进行驱动旋转的转盘，在所述转盘的边缘固定安装有若干个晶振治具，在所述转盘的上方设置有往复下压机构，所述往复下压机构边缘分别固定安装有绝缘测试探头、阻抗测试探头、频率测试探头；
[0005]所述往复下压机构包括贯穿设置在所述转盘内部的立柱，所述立柱的顶端固定连接有支撑板，所述支撑板的一侧滑动设置有测试探头安装座，所述测试探头安装座的内部开设有容纳槽，所述支撑板的另一侧固定安装有电机，所述电机的驱动端固定安装有偏心轮。
[0006]进一步的，所述测试探头安装座的底部一侧固定连接有外延支架，所述支撑板与测试探头安装座之间设置有滑轨。
[0007]进一步的，所述阻抗测试探头和频率测试探头固定安装在所述测试探头安装座的边缘，所述绝缘测试探头固定安装在所述外延支架的端部。
[0008]进一步的，所述测试探头安装座的内部且位于容纳槽的两侧分别安装有上限位板、下限位板。
[0009]进一步的，所述偏心轮位于所述容纳槽的内部。
[0010]有益效果
[0011]本技术提供了一种三合一电子元件晶振下压测试机构。与现有技术相比具备以下有益效果：
[0012]该三合一电子元件晶振下压测试机构，将绝缘测试、阻抗测试以及频率测试集成在一台设备上进行测试，形成三合一测试结构，并且三种性能的测试是同时进行的，中间不存在真空期，从而进一步提高了晶振性能测试的效率，加快测试速度，提高晶振的产量。
附图说明
[0013]图1为本技术的结构示意图；
[0014]图2为本技术的俯视图；
[0015]图3为本技术往复下压机构第一视角的结构示意图；
[0016]图4为本技术往复下压机构第二视角的结构示意图；
[0017]图5为本技术往复下压机构的分解结构示意图。
[0018]图中：1、转盘；2、晶振治具；3、往复下压机构；31、立柱；32、支撑板；33、测试探头安装座；34、上限位板；35、下限位板；36、容纳槽；37、电机；38、偏心轮；39、外延支架；310、滑轨；4、绝缘测试探头；5、阻抗测试探头；6、频率测试探头。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1
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2，本技术提供一种技术方案：一种三合一电子元件晶振下压测试机构，包括由电机进行驱动旋转的转盘1，在转盘1的边缘固定安装有若干个晶振治具2，其特征在于，在转盘1的上方设置有往复下压机构3，往复下压机构3边缘分别固定安装有绝缘测试探头4、阻抗测试探头5、频率测试探头6。
[0021]请参阅图3
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5，往复下压机构3包括贯穿设置在转盘1内部的立柱31，立柱31的顶端固定连接有支撑板32，支撑板32的一侧滑动设置有测试探头安装座33，测试探头安装座33的内部开设有容纳槽36，测试探头安装座33的内部且位于容纳槽36的两侧分别安装有上限位板34、下限位板35，支撑板32的另一侧固定安装有电机37，电机37的驱动端固定安装有偏心轮38，偏心轮38位于容纳槽36的内部，测试探头安装座33的底部一侧固定连接有外延支架39，支撑板32与测试探头安装座33之间设置有滑轨310，阻抗测试探头5和频率测试探头6固定安装在测试探头安装座33的边缘，绝缘测试探头4固定安装在外延支架39的端部。
[0022]使用时，携带有若干晶振的晶振治具2跟随转盘1旋转（转盘1由外部的电机进行驱动，图中未示出），当三组晶振治具2分别对应旋转至绝缘测试探头4、阻抗测试探头5、频率测试探头6下方时，电机37带动偏心轮38旋转，偏心轮38旋转时，会对上限位板34或下限位板35施加作用力，进而促使测试探头安装座33上移或下移，当测试探头安装座33下移时，绝缘测试探头4、阻抗测试探头5、频率测试探头6的探针，均插入到晶振治具2中，并与晶振接触，进行性能测试，当测试结束后，同理上述过程，探头安装座33上移，探针脱离晶振，转盘1继续旋转，让下一个晶振治具2顶替上一个晶振治具2的位置，依次循环，即可实现快速对晶振进行性能测试，提高晶振的产能。
[0023]在本实施例中，绝缘测试探头4、阻抗测试探头5、频率测试探头6为本领域对晶振性能检测时所使用的必要装置，均是通过对应功能的探针进行检测，为本领域的公知技术，从而绝缘测试探头4、阻抗测试探头5、频率测试探头6的结构特征、工作原理以及与外部电性连接的具体电路结构均采用现有技术，此处不再详述。
[0024]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实
体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
[0025]尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三合一电子元件晶振下压测试机构，包括由电机进行驱动旋转的转盘（1），在所述转盘（1）的边缘固定安装有若干个晶振治具（2），其特征在于，在所述转盘（1）的上方设置有往复下压机构（3），所述往复下压机构（3）边缘分别固定安装有绝缘测试探头（4）、阻抗测试探头（5）、频率测试探头（6）；所述往复下压机构（3）包括贯穿设置在所述转盘（1）内部的立柱（31），所述立柱（31）的顶端固定连接有支撑板（32），所述支撑板（32）的一侧滑动设置有测试探头安装座（33），所述测试探头安装座（33）的内部开设有容纳槽（36），所述支撑板（32）的另一侧固定安装有电机（37），所述电机（37）的驱动端固定安装有偏心轮（38）。2.根据权利要求1所述的一种三合一电子元件晶振下压测试机...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐新君，卓维煌，唐升平，高威，张鑫，胡松华，彭亚军，
申请(专利权)人：深圳市铭宇泰科技有限公司，
类型：新型
国别省市：