一种检测零件折弯处凸包高度的检具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种检测零件折弯处凸包高度的检具，它包括底座（1）和压块（2），所述底座（1）的顶表面上设置有定位柱（3），定位柱（3）与零件上其中一个凸包A（11）相配合，所述底座（1）的顶表缘上设置有与弧形部（10）相配合的弧形面I（4），所述压块（2）的前端面且沿其水平方向固设有多个压条（5），压条（5）的底表面与压块（2）的底表面平齐，每相邻压条（5）之间均形成有用于容纳凸包A（11）内的容纳槽（6），最右侧的容纳槽（6）内开设有贯穿压块（2）后端面的开口（7）。本实用新型专利技术的有益效果是：结构紧凑、提高凸包B测量精度、提高校平效率。提高校平效率。提高校平效率。

【技术实现步骤摘要】
一种检测零件折弯处凸包高度的检具


[0001]本技术涉及用于检测凸包高度的
，特别是一种检测零件折弯处凸包高度的检具。

技术介绍

[0002]高分子材料零件的结构如图1~2所示，该零件为条形结构，厚度较薄，零件包括水平部9和弧形部10，水平部9和弧形部10一体成型，水平部9的顶表面上且沿其长度方向成型有多个凸包A11，相邻两个凸包A11之间的间距相等，弧形部10的顶表面上成型有一个凸包B12。零件成型后，需要检测凸包B12的顶表面距离水平部9的顶表面之间的垂向间距。现有的检测方法是：先将零件的水平部9的底表面平放置于工作台上，且将弧形部10悬置于工作台的外部，然后用多个小磁铁压住水平部9的外边缘，以实现水平部9的校平，然后将高倍放大镜照射在零件的侧面，高倍放大镜将放大的图像传递到显示器上，工人在显示器上通过采线的方式凸包B12的高度，即将一条水平光标线画在水平部9的顶表面上，再将另一条水平光标线画在凸包B12的顶表面上，两个水平光标线之间的垂向间距即为凸包B12的高度。
[0003]然而，这种检测方式虽然能够检测凸包B12的高度，但是仍然存在以下缺陷：I、使用的小磁铁的数量较多，且有凸包A11的干涉，导致校平水平部相当麻烦，增加了工作强度，同时降低了校平效率。II、弧形部10在成型过程中会向上翘起变形，造成凸包B12的顶表面上不在水平面上，而是出于倾斜状态，从而导致所测量出的凸包B的高度不精确，存在测量精确度低、重复性差的缺陷。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种结构紧凑、提高凸包B测量精度、提高校平效率的检测零件折弯处凸包高度的检具。
[0005]本技术的目的通过以下技术方案来实现：一种检测零件折弯处凸包高度的检具，它包括底座和压块，所述底座的顶表面上设置有定位柱，定位柱与零件上其中一个凸包A相配合，所述底座的顶表缘上设置有与弧形部相配合的弧形面I，所述压块的前端面且沿其水平方向固设有多个压条，压条的底表面与压块的底表面平齐，每相邻压条之间均形成有用于容纳凸包A内的容纳槽，最右侧的容纳槽内开设有贯穿压块后端面的开口，最右侧的压条的下端部向下延伸于压块的下方，且延伸端的底表面上开设有与弧形面I相配合的弧形面II。
[0006]所述定位柱的直径与凸包A的内径相等。
[0007]所述压条与压块一体成型。
[0008]每相邻两个压条之间的间距相等。
[0009]所述弧形面II与压块的底表面平齐。
[0010]所述底座的四个边上均设置有弧形面I，底座的顶表面上设置有四个定位柱，四个定位柱分别设置于底座的四个角落处。
[0011]本技术中的检具具有以下优点：本技术结构紧凑、提高凸包B测量精度、提高校平效率。
附图说明
[0012]图1 为零件的结构示意图;
[0013]图2 为图1的俯视图；
[0014]图3 为本技术中压块的结构示意图；
[0015]图4 为图3的主视图；
[0016]图5 为本技术的底座的结构示意图；
[0017]图6 为图5的主视图；
[0018]图7 为本技术的工作示意图；
[0019]图8 为图7的主视图；
[0020]图中，1
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底座，2
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压块，3
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定位柱，4
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弧形面I，5
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压条，6
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容纳槽，7
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开口，8
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弧形面II，9
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水平部，10
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弧形部，11
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凸包A，12
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凸包B。
具体实施方式
[0021]下面结合附图对本技术做进一步的描述，本技术的保护范围不局限于以下所述：
[0022]如图3~6所示，一种检测零件折弯处凸包高度的检具，它包括底座1和压块2，所述底座1的顶表面上设置有定位柱3，定位柱3与零件上其中一个凸包A11相配合，所述底座1的顶表缘上设置有与弧形部10相配合的弧形面I4，所述压块2的前端面且沿其水平方向固设有多个压条5，压条5与压块2一体成型，压条5的底表面与压块2的底表面平齐，每相邻压条5之间均形成有用于容纳凸包A11内的容纳槽6，最右侧的容纳槽6内开设有贯穿压块2后端面的开口7，最右侧的压条5的下端部向下延伸于压块2的下方，且延伸端的底表面上开设有与弧形面I4相配合的弧形面II8。所述定位柱3的直径与凸包A11的内径相等。每相邻两个压条5之间的间距相等，所述弧形面II8与压块2的底表面平齐。
[0023]所述底座1的四个边上均设置有弧形面I4，底座1的顶表面上设置有四个定位柱3，四个定位柱3分别设置于底座1的四个角落处，可以根据产品宽度选择适宜的定位柱。
[0024]本技术的工作过程如下：
[0025]S1、工人将零件的弧形部10贴在弧形面I4上，将与定位柱3相对应的凸包A11套设于定位柱3上，且将零件的水平部9支撑于底座1的顶表面上；
[0026]S2、工人将压块2的弧形面II8压在弧形部10的顶表面上，同时将各个压条5错开凸包A11且压在水平部9的顶表面上，此时弧形部10压紧在弧形面I4和弧形面II8之间，水平部9被各个压条5压平，凸包A11处于容纳槽6内，凸包B12处于最右侧的容纳槽6内如图7~8所示；因此该检具实现了一次性将零件的水平部9整平，相比传统的校平方法，极大的缩短了校平时间，提高了水平部的校平效率，同时无需排列多个小磁铁，从而极大的减轻了工人的工作强度；
[0027]S3、将高倍放大镜照射在零件的前侧，高倍放大镜将放大的图像传递到显示器上，工人在显示器上通过采线的方式凸包B12的高度，即将一条水平光标线画在水平部9的顶表
面上，再将另一条水平光标线画在凸包B12的顶表面上，两个水平光标线之间的垂向间距即为凸包B12的高度。在测量过程中，由于零件的弧形部10压紧在弧形面I4和弧形面II8之间，即确保了弧形部10与水平部9相切，从而使凸包B12的顶表面在水平状态下被测量，相比传统的测量方式，极大的提高了凸包B测量精度。
[0028]最后应说明的是：以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测零件折弯处凸包高度的检具，其特征在于：它包括底座（1）和压块（2），所述底座（1）的顶表面上设置有定位柱（3），定位柱（3）与零件上其中一个凸包A（11）相配合，所述底座（1）的顶表缘上设置有与弧形部（10）相配合的弧形面I（4），所述压块（2）的前端面且沿其水平方向固设有多个压条（5），压条（5）的底表面与压块（2）的底表面平齐，每相邻压条（5）之间均形成有用于容纳凸包A（11）内的容纳槽（6），最右侧的容纳槽（6）内开设有贯穿压块（2）后端面的开口（7），最右侧的压条（5）的下端部向下延伸于压块（2）的下方，且延伸端的底表面上开设有与弧形面I（4）相配合的弧形面II（8）。2.根据权利要求1所述的一种检测零件折...

【专利技术属性】
技术研发人员：车坤，罗权，
申请(专利权)人：成都宏明双新科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：