片材制作装置以及片材制作方法制造方法及图纸

本公开提供片材制作装置以及片材制作方法，片材制作装置(1)将涂覆材料涂覆到片材材料(11)来制作多层片材。片材制作装置(1)具备：放射光源，射出放射光；分割部，将放射光分割成入射到多层片材的测定光和照射到参照面的参照光；和光学部件，向多层片材射出测定光，并且入射由多层片材反射后的测定光。片材制作装置(1)还具备：干涉检测部，检测由多层片材反射后的测定光和由参照面反射后的参照光的干涉光；和厚度计算部(62)，基于检测到的干涉光来计算多层片材的片材材料(11)以及涂覆材料的厚度。由此，能够缩短从多层片材的制作到厚度的计算的节拍时间。的节拍时间。的节拍时间。

【技术实现步骤摘要】
片材制作装置以及片材制作方法


[0001]本公开涉及片材制作装置以及片材制作方法。

技术介绍

[0002]在包括多个层的带状的层叠片材中，在它们的特性上，层叠片材的厚度的检查较重要。作为检查层叠片材的厚度的装置，例如在日本特开平5
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185022号公报(以下记为“专利文献1”)中公开了如图10所示的装置。
[0003]专利文献1中记载的检查层叠片材的厚度的装置具备刮刀92，设置在比树脂90的涂覆位置更靠金属板91的搬运目标侧的位置，控制涂覆的树脂90的厚度。进而，装置具备X射线厚度计93，设置在比树脂90的涂覆位置更靠金属板91的搬运目标侧的位置。而且，专利文献1的装置首先通过X射线厚度计93来测量金属板91的板厚。然后，运算器94根据测量出的金属板91的板厚的偏差，使刮刀92相对于金属板91而进退。由此，减少涂覆到金属板91的树脂90的膜厚的不均匀性。
[0004]然而，在专利文献1的技术中，未检查涂覆树脂90之后的层叠片材的厚度。因而，存在不能制造期望的厚度的层叠片材的担忧。因此，可考虑在比树脂90的涂覆位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种片材制作装置，将涂覆材料涂覆到搬运的片材材料来制作多层片材，所述片材制作装置具备：放射光源，射出放射光；分割部，将所述放射光分割成入射到所述多层片材的测定光和照射到参照面的参照光；光学部件，向所述多层片材射出所述测定光，并且入射由所述多层片材反射后的所述测定光；干涉检测部，检测由所述多层片材反射后的所述测定光和由所述参照面反射后的所述参照光干涉而得到的干涉光；和厚度计算部，基于检测到的所述干涉光，计算所述多层片材的所述片材材料以及所述涂覆材料的厚度。2.根据权利要求1所述的片材制作装置，其中，还具备：检查辊，设置为隔着所述多层片材而在所述光学部件的相反侧与所述多层片材接触，所述检查辊设置为所述检查辊的中心轴与所述多层片材的宽度方向平行，所述光学部件构成为朝向所述检查辊中与所述多层片材接触的圆弧面射出所述测定光。3.根据权利要求2所述的片材制作装置，其中，所述光学部件构成为使所述测定光垂直地入射到所述圆弧面。4.根据权利要求1所述的片材制作装置，其中，还具备：涂覆器，将所述涂覆材料涂覆到所述片材材料；和卷绕辊，对所述多层片材进行卷绕，所述光学部件构成为向位于所述涂覆器与所述卷绕辊之间的所述多层片材射出所述测定光。5.根据权利要求1至4中任一项所述的片材制作装置，其中，还具备：获取所述干涉光的强度分布的分布获取部，所述干涉光的强度分布是通过控制所述光学部件而在所述多层片材的长度方向的给定位置处使所述测定光的入射位置沿着所述多层片材的宽度方向移动而获得的，所述厚度计算部基于所述干涉光的强度分布来计算所述片材材料以及所述涂覆材料的厚度。6.根据权利要求5所述的片材制作装置，其中，所述分布获取部获取所述多层片材的长度方向的多个位置处的所述干涉光的强度分布，所述厚度计算部基于对多个所述强度分布进行平均化而得到的结果来计算所述片材材料以及所述涂覆材料的厚度。7.根据权利要求6所述的片材制作装置，其中，所述分布获取部在获取到所述多层片材的长度方向的第一位置处的第一干涉光的强度分布...

【专利技术属性】
技术研发人员：壁谷泰宏，本间航也，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：