一种双基准多角度旋转式测量支架制造技术

本实用新型专利技术提供一种双基准多角度旋转式测量支架，包括：底座；相对所述底座可旋转的翻转架；设置于所述翻转架上的X向定位结构，Y向定位结构，以及Z向定位结构；设置于所述翻转架正面的第一基准块，用于所述翻转架未旋转时的三坐标基准的建立；设置于所述翻转架背面的第二基准块，用于所述翻转架旋转时的三坐标基准的建立；其中，所述翻转架可通过定位销与底座锁定。根据本实用新型专利技术提供的一种具备双基准、多角度、旋转式的测量支架结构，通过双基准、定位销、旋转结构设计，实现了产品安装到测量支架上后可以在不同角度下测量三坐标尺寸，不需要拆装零件即可实现测量，拓宽了产品的测量范围、提高了产品的测量效率、节约了测量支架的投资成本。投资成本。投资成本。

【技术实现步骤摘要】
一种双基准多角度旋转式测量支架


[0001]本技术涉及测量支架领域，更具体地涉及一种双基准多角度旋转式测量支架。

技术介绍

[0002]测量支架作为汽车零部件尺寸开发的一种常用工装，直接关系到其操作的便捷性和产品尺寸测量的效率。而针对面越来越复杂的产品，前、后、左、右都有匹配要求时，传统检测方式无法测量到产品的所有边边角角，尺寸未经测量则没有说服力，导致在业务竞争中缺少技术上的足够支撑，为了实现测量，就需要开发多个测量支架，来满足客户的要求。然而，多个测量支架的开发存在成本高、操作复杂、需多次调整、耗费时间长、测量效率低下的缺陷。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种双基准多角度旋转式测量支架，从而解决现有技术中开发多个测量支架存在的成本高、操作复杂、需多次调整、耗费时间长、检测效率低下的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术采用以下技术方案：
[0005]提供一种双基准多角度旋转式测量支架，包括：底座；相对所述底座可旋转的翻转架；设置于所述翻转架上的X向定位结构，Y向定位结构，以及Z向定位结构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双基准多角度旋转式测量支架，其特征在于，包括：底座；相对所述底座可旋转的翻转架；设置于所述翻转架上的X向定位结构，Y向定位结构，以及Z向定位结构；设置于所述翻转架正面的第一基准块，用于所述翻转架未旋转时的三坐标基准的建立；设置于所述翻转架背面的第二基准块，用于所述翻转架旋转时的三坐标基准的建立；其中，所述翻转架可通过定位销与底座锁定。2.根据权利要求1所述的双基准多角度旋转式测量支架，其特征在于，所述X向定位结构成型为在前、后两端将产品夹置于其中的X向限位块，所述X向定位块具有与产品形状配合的外轮廓。3.根据权利要求1所述的双基准多角度旋转式测量支架，其特征在于，所述Y向定位结构成型为在左、右两端将产品夹置于其中的Y向定位块，每个所述Y向定位块的外侧还分别设有一个百分表。4.根据权利要求1所述的双基准多角...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗孝辉，蔡书理，施纯才，
申请(专利权)人：延锋彼欧汽车外饰系统有限公司，
类型：新型
国别省市：