状态的检测方法及装置、可穿戴设备、可读存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种状态的检测方法及装置、可穿戴设备、可读存储介质。状态的检测方法，应用于可穿戴设备，所述可穿戴设备包括多个待检测通路和与所述多个待检测通路连接的ADC模块，所述多个待检测通路均包括待检测电容，所述待检测电容位于所述可穿戴设备的触摸部件处或者按压部件处；所述检测方法包括：获取所述ADC模块输出的采样值；所述采样值为所述多个待检测电容分别对应的采样值；根据所述采样值确定所述可穿戴设备的状态；所述可穿戴设备的状态包括：第一状态和第二状态；所述第一状态为：未被用户触摸或者按压，所述第二状态为：被用户触摸或者按压。该检测方法用以提高状态检测的效率，降低状态检测的功耗。降低状态检测的功耗。降低状态检测的功耗。

【技术实现步骤摘要】
状态的检测方法及装置、可穿戴设备、可读存储介质


[0001]本申请涉及智能设备
，具体而言，涉及一种状态的检测方法及装置、可穿戴设备、可读存储介质。

技术介绍

[0002]可穿戴设备，为了能够及时响应用户的操作或者交互，需要实时地检测可穿戴设备的状态，以根据检测的状态进行响应。
[0003]现有技术中，为了实现可穿戴设备的状态检测，通常设置多个处理模块，多个处理模块分别检测对应的状态检测点(例如触点)的电容变化，以确定状态变化，这种检测方式，存在着功耗较高，以及检测效率较低的问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的在于提供一种状态的检测方法及装置、可穿戴设备、可读存储介质，用以提高状态检测的效率，降低状态检测的功耗。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种状态的检测方法，应用于可穿戴设备，所述可穿戴设备包括多个待检测通路和与所述多个待检测通路连接的ADC模块，所述多个待检测通路均包括待检测电容，所述待检测电容位于所述可穿戴设备的触摸部件处或者按压部件处；所述检测方法包括：获取所述ADC模块输本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种状态的检测方法，其特征在于，应用于可穿戴设备，所述可穿戴设备包括多个待检测通路和与所述多个待检测通路连接的ADC模块，所述多个待检测通路均包括待检测电容，所述待检测电容位于所述可穿戴设备的触摸部件处或者按压部件处；所述检测方法包括：获取所述ADC模块输出的采样值；所述采样值为多个待检测电容分别对应的采样值；根据所述采样值确定所述可穿戴设备的状态；所述可穿戴设备的状态包括：第一状态和第二状态；所述第一状态为：未被用户触摸或者按压，所述第二状态为：被用户触摸或者按压。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，针对每一个待检测通路，所述检测方法还包括：获取在先时刻的对照值；所述在先时刻为当前时刻之前的一个或者多个时刻；所述对照值为所述待检测电容对应的对照值；基于所述可穿戴设备的状态，根据所述在先时刻的对照值确定当前时刻的对照值；基于所述可穿戴设备的状态，根据所述当前时刻的采样值和所述当前时刻的对照值确定所述可穿戴设备的更新状态。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述可穿戴设备的状态，根据所述在先时刻的对照值确定所述当前时刻的对照值，包括：若所述可穿戴设备的状态为所述第一状态；根据所述当前时刻的采样值和所述在先时刻的对照值确定所述当前时刻的对照值；若所述可穿戴设备的状态为所述第二状态，确定所述当前时刻的前一时刻的对照值为所述当前时刻的对照值。4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，若所述可穿戴设备的状态为所述第一状态，所述在先时刻为所述当前时刻的前一时刻；所述当前时刻的对照值表示为：S2＝S1*(1
‑
Q)+R*Q；其中，S1为所述当前时刻的前一时刻的对照值，R为所述当前时刻的采样值，Q为预设值。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，针对每一个待检测通路，所述检测方法还包括：获取在先时刻的采样值和当前时刻的前一时刻的对照值；所述在先时刻为当前时刻之前的多个时刻；所述对照值为所述待检测电容对应的对照值；基于所述可穿戴设备的状态，根据所述在先时刻的采样值和所述当前时刻的前一时刻的对照值确定所述当前时刻的对照值；基于所述可穿戴设备的状态，根据所述当前时刻的采样值和所述当前时刻的对照值确定所述可穿戴设备的更新状态。6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述可穿戴设备的状态，根据所述在先时刻的采样值和所述当前时刻的前一时刻的对照值确定所述当前时刻的对照值，包括：若所述可穿戴设备的状态为第一状态，对所述当前时刻之前...

【专利技术属性】
技术研发人员：童伟峰，张亮，方飞，
申请(专利权)人：恒玄科技上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：