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本申请提供一种状态的检测方法及装置、可穿戴设备、可读存储介质。状态的检测方法，应用于可穿戴设备，所述可穿戴设备包括多个待检测通路和与所述多个待检测通路连接的ADC模块，所述多个待检测通路均包括待检测电容，所述待检测电容位于所述可穿戴设备的触...
该专利属于恒玄科技（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过恒玄科技（上海）股份有限公司授权不得商用。

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