一种非布司他晶型含量检测方法技术

本发明专利技术提供了一种非布司他晶型A原料药中晶型G含量的检测方法。该方法通过粉末X

【技术实现步骤摘要】
一种非布司他晶型含量检测方法


[0001]本专利技术属于医药
，具体涉及一种非布司他晶型含量的检测方法。

技术介绍

[0002]非布司他(Febuxostat)是一种选择性黄嘌呤氧化酶/黄嘌呤脱氢酶抑制剂，适用于具有痛风症状的高尿酸血症的长期治疗。非布司他具有极好的活性，更少的副作用，且通过肝脏肾脏双通道消除，对肾功能不全者有着良好的安全性。
[0003]化学原料药的多晶型现象可能会影响口服药物的生物等效性和生物利用度。非布司他存在多晶型现象，通常使用晶型A作为原料药用于制剂开发。晶型A是一种亚稳定晶型，在制剂过程中易吸水，转化为半水合物晶型G。晶型G相对主晶型A而言，溶解度有一定程度的降低，其存在会影响口服制剂的质量。因此，控制非布司他晶型A中晶型G的含量十分必要。
[0004]目前表征多晶型的分析方法主要包括X
‑
射线衍射法，热分析法，红外光谱法，显微分析法等。其中X
‑
射线衍射法是晶型研究公认的权威方法，能够提供最确凿的晶体结构信息。根据X
‑
射线衍射法测定样品的不同，可以分为单晶X
‑
射线衍射法和粉末X
‑
射线衍射法。单晶X
‑
射线衍射法，利用一束单色的，波长与晶体中原子间距相同数量级的X
‑
射线入射晶体，晶体中不同原子散射的X
‑
射线相互干涉，在某些特定方向，产生强的X
‑
射线衍射，根据衍射线的分布规律和强度，可以推导出单晶晶胞的大小，形状和位置等信息。不同的晶体会产生不同的衍射信号。但由于制备单晶的困难，在使用上，存在一定的局限性。而粉末X
‑
射线衍射法，由于对样品要求较低，更广泛的使用在检测化合物晶型纯度、晶体稳定性、识别药物制剂中原料的含量和晶型变化等领域。本专利采用粉末X
‑
射线衍射法，测定非布司他原料晶型A中晶型G的含量。通过优化测定条件，控制扫描速度和扫描范围，可以快速，准确完成测定，具有灵敏度低，准确度高的特点。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种快速的非布司他晶型A中晶型G含量的检测方法。
[0006]本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：
[0007]一种非布司他晶型A中晶型G含量的检测方法，包括以下步骤：
[0008](1)制备非布司他晶型A和晶型G的标准样品，将样品粉碎过筛；
[0009](2)混合配制出不同晶型比例的非布司他标准样品，将样品进行粉末X
‑
射线衍射测定，读取非布司他晶型A与晶型G的定量特征衍射峰高比例，建立以非布司他晶型A与晶型G质量比为横坐标，以特征峰峰高比例为纵坐标的标准曲线；
[0010](3)并通过标准曲线，测定未知晶型比例的非布司他晶型A和晶型G待测样品中，晶型G的含量。
[0011]进一步的，步骤(2)中所述的不同晶型比例为非布司他晶型A和晶型G的比例从100:1至100:20。
[0012]进一步的，步骤(2)中所述混合配制出不同晶型比例的非布司他标准样品为将不同晶型的非布司他标准样品置于西林瓶中，涡旋30min混合均匀。
[0013]进一步的，本专利技术的检测方法选择2θ＝12.84
±
0.04
°
作为非布司他晶型A的定量特征峰，选择2θ＝4.81
±
0.03
°
作为非布司他晶型G的定量特征峰。
[0014]进一步的，本专利技术的检测方法在进行粉末X
‑
射线衍射测定时，以铜靶的Kα射线作为衍射源，设置工作电压为40kV，工作电流为40mA，步长为0.01
°
，扫描速度为3
°
/min，发散狭缝为0.5
°
，接收狭缝宽度为20mm。
[0015]进一步的，本专利技术的检测方法在测定非布司他晶型A时，扫描范围为3
‑
14
°
；测定非布司他晶型G时，扫描范围为4
‑
5.2
°
。
附图说明
[0016]图1非布司他晶型A粉末X
‑
射线衍射图
[0017]图2非布司他晶型G粉末X
‑
射线衍射图
[0018]图3非布司他晶型A与晶型G按100:0.3混合后晶型G特征衍射峰
[0019]图4非布司他晶型A与晶型G按100:1混合后晶型G特征衍射峰
具体实施方式
[0020]实施例1：
[0021]样品的制备及特征峰选取
[0022](1)仪器及测定条件：
[0023]实验仪器：Rigaku Smartlab 3kW粉末X
‑
射线衍射仪；
[0024]仪器参数：工作电压为40kV，工作电流为40mA，步长为0.01
°
，扫描速度为10
°
/min，发散狭缝为0.5
°
，接收狭缝宽度为20mm，扫描范围为3
‑
40
°
。
[0025](2)样品制备：非布司他晶型A和晶型G样品为天津泰普制药有限公司制备。分别取非布司他晶型A和晶型G样品适量，粉碎，使用100目检验筛分离。
[0026](3)谱图测定：将样品铺在载样片上，设置仪器参数，对样品进行粉末X
‑
射线衍射测定。
[0027](4)特征峰选择：非布司他晶型A和晶型G采得图谱与标准样品图谱一致，可以作为标准样品使用。将非布司他晶型A粉末X
‑
射线衍射图谱与晶型G粉末衍射图谱对比，非布司他晶型A最高衍射峰(2θ＝12.84
±
0.04
°
)，不受非布司他晶型G干扰，可以作为非布司他晶型A的定量特征峰。非布司他晶型G次高衍射峰(2θ＝4.81
±
0.03
°
)不受非布司他晶型A干扰，可以作为非布司他晶型G的定量特征峰。
[0028]优化扫描速度为3
°
/min。优化非布司他晶型A采集范围为3
‑
14
°
，优化非布司他晶型G采集范围为4
‑
5.2
°
。
[0029]实施例2：
[0030]检测限及定量限
[0031]按比例100:0.3分别称取非布司他晶型A标准样品和非布司他晶型G标准样品至西林瓶中，涡旋混合30min，得到非布司他晶型A和晶型G比例为100:0.3的混合样品。将样品在玻片铺平，放入仪器内检测，设置工作电压为40kV，工作电流为40mA，步长为0.01
°
，扫描速
度为3
°
/min，发散狭缝为0.5
°
，接收狭缝宽度为20mm，扫描范围为4
‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非布司他晶型A中晶型G含量的检测方法，包括以下步骤：(1)制备非布司他晶型A和晶型G的标准样品，将样品粉碎过筛；(2)混合配制出不同晶型比例的非布司他标准样品，将样品进行粉末X
‑
射线衍射测定，读取非布司他晶型A与晶型G的定量特征衍射峰高比例，建立以非布司他晶型A与晶型G质量比为横坐标，以特征峰峰高比例为纵坐标的标准曲线；(3)并通过标准曲线，测定未知晶型比例的非布司他晶型A和晶型G待测样品中，晶型G的含量。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：步骤(2)中所述的不同晶型比例为非布司他晶型A和晶型G的比例从100:1至100:20。3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：步骤(2)中所述的混合配制出不同晶型比例的非布司他标准样品为将不同晶型的非布司他标准样品置于西林瓶中，涡旋30min混合均匀。4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：选择2θ＝12.84<...

【专利技术属性】
技术研发人员：李川，郝英魁，陈蔚，穆彤，傅琳，
申请(专利权)人：天津药物研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：