X射线检查装置制造方法及图纸

提供一种能简单地判断古旧艺术品那样的被检测体中埋设的埋设物的材质的Ｘ射线检查装置。如果施加管电压，则Ｘ射线发生器３便将Ｘ射线照射在被检测体４上。由Ｘ射线检测器６检测从Ｘ射线发生器３照射并透过了被检测体４的Ｘ射线。ＣＰＵ９求出透过了被检测体４的Ｘ射线产生的透视图像中包含的埋设物图像的浓淡度值变化率，根据浓淡度值变化率的大小，判断被检测体埋设物的材质。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及判断埋设在古旧艺术品等被检测体内的排泄物的材质(材料)的X射线检查装置。近年来，为了判断收容在小包裹中或桶中的放射性废弃物等被检测体内的内容物，设计了X射线检查装置。X射线检查装置是从X射线发生器将X射线照射在被检测体上，用X射线检测器检测透过了被检测体的X射线，根据透过的X射线作成透视图像的一种装置。透视图像的浓淡度值(亮度)随着施加在X射线发生器上的管电压的大小而不同。可是，在作为文化遗产的古旧艺术品、例如佛像等古旧艺术品中作为加强材料设有楔子等连接件。在必须对这些古旧艺术品进行维修的时期，需要鉴别埋设在佛像等被检测体内的埋设物的材质(连接件的材料)。迄今，已知利用X射线检查装置判断被收容在桶中的放射性废弃物的材质的方法。该方法记载在例如特开平10-319192号公报中。现有的技术是对利用X射线检查装置拍摄的透视图像的浓淡度值的变化特性和设定的变化特性的图形进行比较，判断放射性废弃物的材质。浓淡度值的变化特性的图形比较存在比较处理麻烦的问题。因此，为了判断数量极大的古旧艺术品这样的被检测体内埋设的埋设物的材质，希望更加简单地判断材质，强烈地希望开发该技术。本专利技术的目的在于提供一种能简单地判断象古旧艺术品那样能预测材质的被检测体的材质的X射线检查装置。本专利技术的特征在于作成由X射线检测器检测的透射X射线产生的透视图像，判断埋设物，变更加在X射线发生器上的管电压的大小，求多次拍摄的透视图像中的埋设物图像的浓淡度值变化率，根据浓淡度值变化率的大小判断埋设物的材质(材料)。更具体地说，特征在于变更加在X射线发生器上的管电压的大小，求多次拍摄的透视图像中的埋设物图像的浓淡度值变化率，对多种材质中的每一种与预定的浓淡度值变化率的设定值进行比较，判断埋设物的材质。本专利技术由于变更加在X射线发生器上的管电压的大小，根据多次拍摄的透视图像中的埋设物图像的浓淡度值变化率的大小，判断埋设物的材质，所以能简单地进行埋设物的材质的判断。附图说明图1是表示本专利技术的一实施形态的结构图。图2是表示计算机的主要部分的功能框图。图3是说明本专利技术用的特性曲线图。图4是说明本专利技术用的特性曲线图。图5是被检测体的显示画面的一例图。图1中示出了本专利技术的一实施例。在图1中，X射线发生器3如果从电压发生装置2被施加了高电压(管电压)，便将X射线照射在被检测体4上。被检测体4被放置在台架5上。X射线检测器6配置在与X射线发生器3相对的位置，两者将被检测体4夹在中间，检测透过了被检测体4的X射线。电压发生装置2根据操作盘(操作装置)1的控制信号，控制管电压的发生和大小。由X射线检测装置6检测的透视图像(透视数据)被输入检测电路7后，用A/D变换器8变换成数字信号，并被取入计算机(CPU)9中。CPU9从操作盘1输入管电压信号。作为CPU9，采用个人计算机。由CPU9求得的关于被检测体4的埋设物的材质的信息显示在显示部10上。图2中示出了CPU9的主要部分的功能框图。在图2中，透视图像数据被A/D变换器8变换成数字信号后，被输入图像数据输入部21，存储在透视图像存储部22中。透视图像存储部22中存储的透视图像被供给显示控制部32，在显示部33上进行显示。另外，埋设物判断部23从透视图像存储部22取入透视图像，判断埋设物，将埋设物图像加在浓淡度值运算部24中。浓淡度值运算部24输入从埋设物判断部23施加的埋设物图像和被电压数据输入部25取入的管电压数据，对每一管电压大小的浓淡度值(亮度)进行运算，并存入浓淡度值存储部26中。存储在浓淡度值存储部26中的埋设物图像的浓淡度值通过显示控制部32显示在显示部33上。变化率运算部27从浓淡度值存储部26取入每一管电压大小的浓淡度值，求出浓淡度值变化率，供给材质判断部28。作为埋设在被检测体(古旧艺术品)4中的埋设品(连接件)，与每一所使用的预料的材质(材料)的浓淡度值变化率设定值设定在变化率设定部29中。作为埋设物的材质有青铜、铁、金、铜等。材质判断部28对由变化率运算部27求得的浓淡度值变化率和在变化率设定部29中设定的浓淡度值变化率进行比较，根据浓淡度值变化率一致的浓淡度值变化率设定值，判断材质。由材质判断部28特定的埋设物的材质通过显示控制部32显示在显示部33上。透视图像存储部22中的透视图像数据、浓淡度值存储部26中的埋设物图像的浓淡度值数据、以及材质判断部28中的埋设物材质数据被输入显示控制部32中，显示在显示部33(相当于图1中的显示部10上)。在显示部33上显示的数据能利用CPU9的图中未示出的鼠标或键盘等操作输入装置加以选择。其次说明工作情况。将被检测体4放置在台架5上后，操作操作盘1，将控制信号供给电压发生装置2。在控制信号中包含管电压的发生指令和大小指令管电压信号。操作操作盘1的管电压信号被供给CPU9。电压发生装置2如果输入了操作盘(操作装置)1的控制信号，便将所指示的大小的管电压加在X射线发生器3上。X射线发生器3如果被施加了管电压，便将X射线照射在被检测体4上。由X射线检测器6检测从X射线发生器3照射并透过了被检测体4的X射线。用X射线检测器6检测到的透过X射线被输入检测电路7后，用A/D变换器8变换成数字信号，被取入计算机(CPU)9中。如上所述，管电压信号也从操作盘1输入到CPU9中。被输入CPU9的图像数据输入部21中的呈数字信号的透视图像数据被存入透视图像存储部22中。存储在透视图像存储部22中的透视图像被供给显示控制部32，显示在显示部33上。如果被检测体4中有埋设物，则被检测体4的透视图像如图5所示，也显示埋设物4A、4B。图5表示有两个埋设物的例子。如果利用图中未示出的操作输入装置选择在显示部33(在图1中为10)上显示的埋设物图像4A、4B，则透视图像被从透视图像存储部22取入埋设物判断部23中，对埋设物进行判断，将埋设物图像加在浓淡度值运算部24中。浓淡度值运算部24输入从埋设物判断部23加的埋设物图像和用电压数据输入部25取入的管电压数据，对每一管电压大小的浓淡度值(亮度)进行运算后存储在浓淡度值存储部26中。如果取纵轴为浓淡度值，取横轴为管电压，则用浓淡度值运算部24运算的浓淡度值如图3所示。管电压为65kV～100kV左右。图3中的特性曲线a是铁，特性曲线b是铜，特性曲线c是青铜。从图3中的特性曲线可知，通过改变X射线管电压引起的浓淡度值变化率随着被检测体4的埋设物材质的不同而不同。另外，同一材质在厚度不同的情况下，如图4所示，如果厚度增大，则只是浓淡度值下降，变化率大致相同。特性曲线A2是厚度比特性曲线A1大时的浓淡度值特性曲线。浓淡度值存储部26中存储的埋设物图像浓淡度值通过显示控制部32显示在显示部33上。变化率运算部27从浓淡度值存储部26取入每一管电压大小的浓淡度值，求出浓淡度值变化率，供给材质判断部28。变化率运算部27从浓淡度值存储部26取入每一管电压大小的浓淡度值，求出浓淡度值变化率，供给材质判断部28。材质判断部28对用变化率运算部27求得的浓淡度值变化率和在变化率设定部29中设定的浓淡度值变化率设定值进行比较，根据浓淡度值变化率一致的浓淡度值变化率设定值，判断埋设物材质。使浓淡度值变化率设定值具有规定的幅度，进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Ｘ射线检测装置，其特征在于备有：将Ｘ射线照射在被检测体上的Ｘ射线发生器；检测透过了上述被检测体的Ｘ射线的Ｘ射线检测器；变更加在上述Ｘ射线发生器上的管电压的大小的电压控制装置；以及作成用上述Ｘ射线检测器检测的透过Ｘ射线产生的透视图像，判断埋设物，变更上述管电压的大小，求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率，根据上述浓淡度值变化率的大小，判断上述埋设物的材质的计算机。

【技术特征摘要】
1.一种X射线检测装置，其特征在于备有将X射线照射在被检测体上的X射线发生器；检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器；变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小的电压控制装置；以及作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像，判断埋设物，变更上述管电压的大小，求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率，根据上述浓淡度值变化率的大小，判断上述埋设物的材质的计算机。2.一种X射线检测装置，其特征在于备有将X射线照射在被检测体上的X射线发生器；检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器；变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小后照射X射线的电压控制装置；以及作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像，判断埋设物，变更上述管电压的大小，求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率，与对多种材质中的每一种材质预定的浓淡度值变化率设定值进行比较，判断上述埋设物的材质的计算机。3.一种X射线检测装置，其特征在于备有将X射线照射在被检测体上的X射线发生器；检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器；变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小后照射X射线的电压控制装置；作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像，判断埋设物，变更上述管电压的大小，求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率，与对多种材质中的每一种材质预定的浓淡度值变化率设定值进行比较，判断上述埋设物的材质的计算机；以及显示用上述计算机求得的上述埋设物的材质信息的显示装置。4.一种X射线检测装置，其特征在于备有将X射线照射在被检测体上的X射线发生器；检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器；阶段性地变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小后照射X射线的电压控制装置；作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：米田吉之，桥本信彦，
申请(专利权)人：株式会社日立工程服务，
类型：发明
国别省市：JP[日本]