【技术实现步骤摘要】
一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法
[0001]本专利技术涉及岩层开发
，具体涉及一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法。
技术介绍
[0002]比表面积是指单位质量物料所具有的总面积。分外表面积、内表面积两类。比表面积是评价催化剂、吸附剂及其他多孔物质如石棉、矿棉、硅藻土及粘土类矿物工业利用的重要指标之一。吸附型天然气主要以吸附状态赋存在煤岩基质的内表面，煤岩中微孔是气体吸附的主要部位，比表面积对储层岩石的吸附能力具有重要影响，根据固体表面物理吸附理论，吸附能力与比表面积成正比。
[0003]储层比表面积的大小，对天然气的热学性质、吸附能力、化学稳定性、储层的非均质性、开发难度等均有明显的影响。目前，对于孔隙比表面积的测定。测定方法有容积吸附法、重量吸附法、流动吸附法、透气法、气体附着法等。而对于石油行业中，储层孔隙比表面积测定主要以压汞吸附法与氮气吸附法为主。压汞吸附法为最常规方法，使用于孔隙结构较大的储层如常规的致密砂岩储层，溶蚀孔发育的碳酸盐岩储层。氮气吸附法可以很好地表征以多孔矿物结构特征构成...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，其特征在于，包括步骤：S100、对不同类型的储层样品进行磨样并在偏光显微镜下捕捉样品铸体薄片图像，将样品铸体薄片图像进行只有孔隙特征的二值化图像的转化；S200、对只有孔隙特征的二值化图像进行降噪处理；S300、对降噪处理后的二值化图像中的孔隙特征进行孔隙轮廓的识别和提取，来对二值化图像的像素突变位置进行测定，获得储层样品的孔隙和颗粒的分界线；S400、根据孔隙和颗粒的分界线获取孔隙2D比表面积、颗粒2D比表面积；S500、利用同类型的多个储层样品的孔隙2D比表面积、颗粒2D比表面积估算3D孔隙比表面积与颗粒3D比表面积。2.根据权利要求1所述的一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，其特征在于，在S100中，偏光显微镜捕捉储层样品铸体薄片图像的具体方法包括：对储层样品依次进行至少三次等厚度磨样，并对每次磨样后的储层样品在与偏光显微镜之间的单参数变量控制下进行样品铸体薄片图像的捕捉。3.根据权利要求2所述的一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，其特征在于，其中，对每次磨样后的储层样品在与偏光显微镜之间的单参数变量控制下进行样品铸体薄片图像的捕捉，具体包括：固定第一次磨样后偏光显微镜的焦距，进行下两次磨样后的储层样品的样品铸体薄片图像捕捉；固定第一次磨样后偏光显微镜的焦距，记录之后每次磨样后相较于前一次磨样的偏光显微镜为获得清晰的样品铸体薄片图像而调节的焦距差值。4.根据权利要求3所述的一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，其特征在于，在S200中，对转化的二值化图像进行降噪处理，包括，复制一份只有孔隙特征的二值化图像，对其中一个只有孔隙特征的二值化图像进行高通滤波和边缘增强，对经过高通滤波后和边缘增强后的二值化图像进行设定的像素半径的噪点消除，随后融合两个只有孔隙特征的二值化图像，对融合后的二值化图像进行中值滤波。5.根据权利要求4所述的一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，其特征在于，在对经过高通滤波后和边缘增强后的二值化图像进行设定的像素半径的噪点消除包括在不提供作为像素半径的取值的第二参数情况下，利用距离变换算法默认计算二值化图像中的当前的像素点与最近的非0像素点的距离，并返回与中值滤波后的二值化图像相同大小的结果矩阵，并约定，返回值指定为2，则第二返回值是与当前位置最近的非0像素的坐标。6.根据权利要求1或5所述的一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，其特征在于，在S200中，对降噪处理后的二值化图像中的孔隙特征进行孔隙轮廓的识别和提取包括预先对二值化图像的孔隙分割，具体包括：S201、对经过以中值滤波进行降噪处理的二值化图像进行孔隙和颗粒的标记，其中，选择最能够代表孔隙或颗粒的...
【专利技术属性】
技术研发人员：久博，黄文辉，穆娜娜，李媛，
申请(专利权)人：中国地质大学北京，
类型：发明
国别省市：
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