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本发明公开了一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，包括对不同类型的储层样品进行磨样并在偏光显微镜下捕捉样品铸体薄片图像，将样品铸体薄片图像进行二值化图像的转化；对二值化图像进行降噪处理；对二值化图像中的孔隙特征进行孔隙轮廓的识别和提取，...
该专利属于中国地质大学（北京）所有，仅供学习研究参考，未经过中国地质大学（北京）授权不得商用。

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